电子显微镜分析仪

SEM QUANTAX EDS

您分析挑战的解决方案:SEM, FIB 和 EPMA 的 EDS

能量分散光谱学标准

快速。多才多艺。需求巨大。

QUANTAX EDS for SEM

亮点

600
kcps
高分析通量
最佳分析速度
121
eV
峰值分辨率
轻元素分析的最佳能量分辨率
4
EDS 探测器组合
使用多个探测器或探测器阵列实现最大信号通量

具有细管径技术的EDS,适合您的 SEM、FIB 和 EPMA

再一次,布鲁克为扫描电子显微镜的能量分散光谱设定了性能和功能标准。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。

第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现最快、最可靠的结果:

节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器,更快地完成工作

节省工作量 - 电动马达控制探测器移动和迷你轻质的设计,让探测器使用起来更加轻松

获得更高的精度 - 最佳能量分辨率提供最高质量的谱图,非常适合用于精确分析

获得更棒的可靠性 - 世界上最全面的原子数据库确保最可靠的低能量峰值识别

获得更高的精度 - 最先进的定量算法、基于标样的定量方法和独特的有标样和无标样定量组合提供最高精度的定量结果

优势

提升元素分析效率!

布鲁克 EDS 可与每一款电子显微镜适配的安装、并提供无与伦比的速度和精度,这使得布鲁克 EDS 为任何实验室提供了最强大的 EDS 系统。此系统包括光谱成像,使微纳米分析不再是一个挑战。

XFlash® 系列还为 TEM 和 STEM 提供优化解决方案,以及独特的XFlash® FlatQUAD,一种用于困难样品表征的探测器。

此外,EDS 可以与 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的无缝集成一款软件中,布鲁克的 ESPRIT 为任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了最全面的分析平台。

新闻和活动