Analisadores de Microscópio Eletrônico

QUANTAX EDS para SEM

A solução para o seu desafio analítico - EDS para SEM, FIB e EPMA

O Padrão em Espectrometria Dispersiva de Energia

Rápido. Versátil. Em grande demanda.

Destaques

1,000,000
cps
Real analytical throughput up to 1,000,000 cps
Achieve unmatched analysis speed
> 2,200
Element lines
Quantify the most complex data using the most comprehensive atomic database incl. K, L, M and N lines
> 1.1
sr
Largest solid angle for X-ray collection
Maximize your sample throughput with optimum geometry for most efficient collection of the generated X-rays

Energy-Dispersive Spectrometry for SEM, FIB-SEM and EPMA

  • Bruker's latest generation of QUANTAX EDS features the XFlash® 7 detector series, which provides the largest solid angle for X-ray collection (also called collection angle) and the highest throughput.
  • The XFlash® 7 continues to set standards in performance and functionality in energy-dispersive spectrometry for the Scanning Electron Microscope (SEM), Focused Ion Beam (FIB-SEM) and Electron Probe Micro Analyzer (EPMA).
  • The XFlash® 7 detector family also offers optimized solutions for EDS analysis of electron transparent specimens in TEM and SEM, as well as the unique XFlash® FlatQUAD, a detector made to answer your questions on challenging samples.
  • Slim-line technology, large collection angle design, latest generation pulse processing, maximized system uptime through predictive maintenance.
  • Highest spectral performance obtained with best energy resolution.
  • Increased accuracy of results by sophisiticated quantification algorithms and a unique combination of standardless and standard-based methods.
600
kcps
Rendimento analítico
Melhor velocidade de análise
121
eV
Resolução máxima
Melhor resolução de energia para análise de elementos leves
4
Detectores EDS combinados
Maximize o rendimento usando vários detectores ou matrizes de detectores

EDS com tecnologia Slim-line para seu SEM, FIB e EPMA

Mais uma vez, a Bruker estabelece padrões de desempenho e funcionalidade em espectrometria de dispersão de energia para o microscópio eletrônico de varredura. A nova geração do QUANTAX EDS apresenta a série de detectores XFlash® 6 com áreas ativas de 10 a 100 mm2.

A Geração 6 fornece a tecnologia de hardware e software para fornecer os resultados mais rápidos e confiáveis:

Economize tempo - Novos detectores de tecnologia slim-line, SDDs de grande área, controle de múltiplos detectores e processamento de pulso de alto desempenho fazem o trabalho mais rápido

Economize esforço - O movimento motorizado do detector e o design leve facilitam o manuseio do detector

Obtenha mais precisão - A melhor resolução de energia fornece espectros da mais alta qualidade para análises precisas

Ganhe mais confiabilidade - O banco de dados atômico mais abrangente do mundo garante a identificação de picos de baixa energia mais confiável

Obtenha mais precisão - Os algoritmos mais sofisticados para quantificação e a combinação exclusiva de métodos sem padrão e baseados em padrões fornecem resultados de maior precisão

Benefícios

Make Your Element Analysis more Efficient!

  • Gain very precise results faster with individually optimized EDS systems. It ensures unmatched speed and precision. 
  • Shorten measurement time with maximized throughput, enabling mapping and quantification at all settings with no limitation of data size.
  • Analyze challenging samples now, thanks to the most efficient geometric collection of generated X-rays.
  • Benefit from accurate and reliable quantification results with optimized geometry minimizing background and avoiding absorption.
  • Detect small quantities with better detection limit, lower background and less absorption.
  • One for all - seamless integration of EDS, WDS, EBSD, and Micro-XRF in the comprehensive ESPRIT analysis platform for any SEM, FIB-SEM and EPMA.

Torne sua Análise de Elementos mais Eficiente!

A combinação de uma adaptação individual do microscópio, velocidade e precisão incomparáveis leva ao sistema EDS mais poderoso para qualquer laboratório. Este sistema inclui imagens espectrais, tornando a micro e nano análise não mais um desafio.

A família de detectores XFlash® também oferece soluções otimizadas para TEM e STEM, bem como o exclusivo XFlash® FlatQUAD, um detector feito para responder a perguntas sobre amostras difíceis.

Além disso, a integração perfeita do EDS com EBSD, Micro-XRF e WDS em apenas uma interface de usuário ESPRIT fornece a plataforma de análise mais abrangente para qualquer SEM, FIB e EPMA.

Aplicações

Fields of Application of Elemental Analysis on SEM

Qual é o seu desafio analítico?

X-ray elemental maps of a mantle peridotite sample

Efficient X-ray Mapping of an Entire Geological Thin Section by SEM-based EDS

Elemental distribution of a whole mineralogical thin section can be achieved in few minutes only, with EDS mapping by controlling the beam and stage of scanning electron microscopes.
Mocs historic meteorite: Composite net intensity map showing sulfur and lead deposides in the cracks of the meteor

High Resolution X-ray Elemental Mapping of a Meteorite Specimen

Elemental distribution mapping with Scanning Electron Microscope does not require sample preparation when using Bruker's unique XFlash FlatQUAD EDS detector. Here we present results acquired on a meterorite specimen, for which any kind of sample preparation is forbidden.
EDS spectrum of HfB2 acquired at 5 kV; Inset picture shows magnified spectra in the 100 - 250 eV region

Low-kV Quantification of Refractory Borides for High Temperature Applications

Ultra-high temperature (UHT) boride ceramics are a class of refractory materials that are made for extreme environments.
Bismuth segregation in AgPbTeBi Thermoelectric materials

Resolving Bismuth Enriched Grain Boundaries in Thermoelectric Materials

Thermoelectric materials have versatile applications from energy generation to solid state cooling.
EDS map and SE image of coating layers on tungsten carbide cutting tools

TiCN Hard Coatings for Tungsten Carbide Cutting Tools

Functional thin and thick layers are technologically important since they enhance or change the surface properties of any material. However, the two-dimensional nature of these films and buried interfaces poses challenges in reliable analysis of these class of materials.
SE-image of a ternary alloy with rough sample topography and certified concentration values

EDS Quantification on Materials with Rough Topography

For reliable EDS quantification, the accurate knowledge of the sample and the detector geometry is imperative.

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