QUANTAX EDS para SEM
O Padrão em Espectrometria Dispersiva de Energia
Rápido. Versátil. Em grande demanda.
Destaques
Energy-Dispersive Spectrometry for SEM, FIB-SEM and EPMA
- Bruker's latest generation of QUANTAX EDS features the XFlash® 7 detector series, which provides the largest solid angle for X-ray collection (also called collection angle) and the highest throughput.
- The XFlash® 7 continues to set standards in performance and functionality in energy-dispersive spectrometry for the Scanning Electron Microscope (SEM), Focused Ion Beam (FIB-SEM) and Electron Probe Micro Analyzer (EPMA).
- The XFlash® 7 detector family also offers optimized solutions for EDS analysis of electron transparent specimens in TEM and SEM, as well as the unique XFlash® FlatQUAD, a detector made to answer your questions on challenging samples.
- Slim-line technology, large collection angle design, latest generation pulse processing, maximized system uptime through predictive maintenance.
- Highest spectral performance obtained with best energy resolution.
- Increased accuracy of results by sophisiticated quantification algorithms and a unique combination of standardless and standard-based methods.
EDS com tecnologia Slim-line para seu SEM, FIB e EPMA
Mais uma vez, a Bruker estabelece padrões de desempenho e funcionalidade em espectrometria de dispersão de energia para o microscópio eletrônico de varredura. A nova geração do QUANTAX EDS apresenta a série de detectores XFlash® 6 com áreas ativas de 10 a 100 mm2.
A Geração 6 fornece a tecnologia de hardware e software para fornecer os resultados mais rápidos e confiáveis:
Economize tempo - Novos detectores de tecnologia slim-line, SDDs de grande área, controle de múltiplos detectores e processamento de pulso de alto desempenho fazem o trabalho mais rápido
Economize esforço - O movimento motorizado do detector e o design leve facilitam o manuseio do detector
Obtenha mais precisão - A melhor resolução de energia fornece espectros da mais alta qualidade para análises precisas
Ganhe mais confiabilidade - O banco de dados atômico mais abrangente do mundo garante a identificação de picos de baixa energia mais confiável
Obtenha mais precisão - Os algoritmos mais sofisticados para quantificação e a combinação exclusiva de métodos sem padrão e baseados em padrões fornecem resultados de maior precisão
Benefícios
Make Your Element Analysis more Efficient!
- Gain very precise results faster with individually optimized EDS systems. It ensures unmatched speed and precision.
- Shorten measurement time with maximized throughput, enabling mapping and quantification at all settings with no limitation of data size.
- Analyze challenging samples now, thanks to the most efficient geometric collection of generated X-rays.
- Benefit from accurate and reliable quantification results with optimized geometry minimizing background and avoiding absorption.
- Detect small quantities with better detection limit, lower background and less absorption.
- One for all - seamless integration of EDS, WDS, EBSD, and Micro-XRF in the comprehensive ESPRIT analysis platform for any SEM, FIB-SEM and EPMA.
Torne sua Análise de Elementos mais Eficiente!
A combinação de uma adaptação individual do microscópio, velocidade e precisão incomparáveis leva ao sistema EDS mais poderoso para qualquer laboratório. Este sistema inclui imagens espectrais, tornando a micro e nano análise não mais um desafio.
A família de detectores XFlash® também oferece soluções otimizadas para TEM e STEM, bem como o exclusivo XFlash® FlatQUAD, um detector feito para responder a perguntas sobre amostras difíceis.
Além disso, a integração perfeita do EDS com EBSD, Micro-XRF e WDS em apenas uma interface de usuário ESPRIT fornece a plataforma de análise mais abrangente para qualquer SEM, FIB e EPMA.
