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전자 현미경 분석기

SEM용 QUANTAX EDS

XFlash® 7 - 최신 EDS 검출기 시리즈

더 나은 분석을 위한 최적의 각도

빠르고, 정밀하며, 신뢰할 수 있습니다.

1,000,000
cps
최대 1,000,000 cps의 실제 분석 처리량 
타의 추종을 불허하는 분석 속도 달성
> 2,200
원소 선
K, L, M 및 N 선을 포함한 가장 포괄적인 원자 데이터베이스를 사용하여 가장 복잡한 데이터를 정량화하십시오.
> 1.1
sr
X선 수집을 위한 최대 입체각
생성된 X선을 가장 효율적으로 수집할 수 있는 최적의 기하학적 구조를 통해 시료 처리량을 극대화하십시오

SEM, FIB-SEM 및 EPMA용 에너지 분산형 분광법

  • 브루커의 최신 세대 QUANTAX EDS는 X선 수집을 위한 최대 입체각(수집각이라고도 함)과 최고의 처리량을 제공하는 XFlash® 7 검출기 시리즈를 특징으로 합니다.
  • XFlash® 7은 주사전자현미경(SEM), 집속 이온 빔(FIB-SEM) 및 전자 프로브 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 분광 분석 분야에서 성능과 기능의 표준을 계속해서 정립하고 있습니다.
  • XFlash® 7 검출기 제품군은 TEM 및 SEM에서 전자 투과성 시료의 EDS 분석을 위한 최적화된 솔루션을 제공하는 동시에, 까다로운 시료 분석 문제를 해결해 주는 XFlash® FlatQUAD 검출기도 함께 제공합니다.
  • 슬림형 기술, 넓은 수집각 설계 및 최신 펄스 처리 기술 제공됩니다.
  • 현장 SDD 모듈 교체를 통해 시스템 가동 시간이 향상됩니다.
  • 최고의 에너지 분해능으로 최고의 스펙트럼 성능을 구현합니다.
  • 정교한 정량화 알고리즘과 표준 기반/비표준 기반 방법의 독보적인 조합을 통해 결과의 정확도를 높였습니다.

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원소 분석을 더욱 효율적으로 수행해 보십시오!

  • 개별적으로 최적화된 EDS 시스템으로 매우 정밀한 결과를 더 빠르게 얻으십시오. 타의 추종을 불허하는 속도와 정밀도를 보장합니다.
  • 처리량을 극대화하여 측정 시간을 단축하고, 데이터 크기 제한 없이 모든 설정에서 매핑 및 정량화를 수행할 수 있습니다.
  • 생성된 X선을 가장 효율적이며 기하학적으로 수집하여, 까다로운 시료를 즉시 분석할 수 있습니다.
  • 배경을 최소화하고 흡수를 방지하는 최적화된 기하학적 구조로 정확하고 신뢰할 수 있는 정량화 결과를 얻을 수 있습니다.
  • 더 나은 검출 한계, 더 낮은 배경 노이즈 및 적은 흡수로 미량의 시료도 감지할 수 있습니다.
  • 모든 것을 위한 하나의 솔루션 - 모든 SEM, FIB-SEM 및 EPMA를 위한 포괄적인 ESPRIT 분석 플랫폼에서 EDS, WDS, EBSD 및 Micro-XRF의 원활한 통합을 제공합니다.

당신의 분석적 과제는 무엇입니까?

Live chemical mapping of solder region

Live Elemental Mapping of Sn–Cu Solder Region in Al-Si Alloy 

Live elemental mapping using ESPRIT LiveMap enables large area scanning of the sample surface for quick ROI identification to perform further analysis with EDS or other techniques
Map Elements in Real-Time
EDS map of a failed welding seam

High Throughput Element Mapping of Zr-steel Welding Seam

High-throughput, i.e., high-speed EDS element mapping using XFlash 7® quickly provides post-welding information about the local structure and potential failures.
Map elements at high throughput
composite EDS map

Fast Elemental Mapping of Si and W Wafer Etching Residues

The new generation of XFlash® detectors make mapping at very high input count rates (ICR) possible. This example showcases the XFlash® detectors’ mapping capabilities of an element combination with overlapping peaks (Si and W) at very high count rates. 
Map elements at high count rates

SEM에 의한 원소 분석의 적용 분야

Materials Science
EDS spectrum of HfB2 acquired at 5 kV; Inset picture shows magnified spectra in the 100 - 250 eV region

Low-kV Elemental Analysis of Borides Ceramics for UHT Applications

Ultra-high temperature (UHT) boride ceramics can be analyed at a low probe current using the latest in EDS technology. 
Analyze Samples at Low Probe Currents
Bismuth segregation in AgPbTeBi Thermoelectric materials

Automated Peak Fitting to Resolve Grain Boundaries in Thermoelectric Materials

Automated peak fitting and deconvolution during EDS data processing allows for the resolving of elements which have strong overlaps. This application looks at the resolution of bismuth and lead in a themoelectric material.
Resolve elemental peaks automatically
EDS map and SE image of coating layers on tungsten carbide cutting tools

Studying Tungsten Carbide Coatings for Metal Cutting Tools

The two-dimensional nature of these films and buried interfaces poses challenges in reliable analysis of these class of materials. In this application example, TiC/N, and Al2O3 layers on WC-Co layers are mapped with EDS. 
Analyze Layers with EDS SEM
Nanomaterials
Silicon nanoparticles with carbon in red and Silicon in green

Ultra-high Resolution Elemental Mapping of Si-core-C-shell Silicon Nanoparticles

Mapping the elemental distribution of beam-sensitive samples, such as silicon-core–carbon-shell nanoparticles is possible via EDS SEM using Bruker's unique FlatQUAD detector.
Analyze Nanoparticles
Mineralogy
Mocs historic meteorite: Composite net intensity map showing sulfur and lead deposides in the cracks of the meteor

High Resolution Elemental Mapping of a Meteorite Specimen

Elemental distribution mapping with Scanning Electron Microscope does not require sample preparation when using Bruker's unique XFlash FlatQUAD EDS detector. Here we present results acquired on a meterorite specimen.
Analyze Samples with No Sample Prep
SE-image of a ternary alloy with rough sample topography and certified concentration values

EDS Quantification on Materials with Rough Topography

Reliable EDS Quantification is possible using the correct methods and the right detector. Here we describe how QUANTAX FlatQUAD  combined with a specific method can be used to quantify the elements present in a sample with high topography. 
Determine the Elements in Topographic Samples
X-ray elemental maps of a mantle peridotite sample

Elemental Mapping of a Geological Thin Section with SEM EDS

Elemental distribution of an entire mineralogical thin section can be achieved in few minutes with EDS mapping.
Images Elements in Large Samples

에너지 분산형 X선 분광법 웨비나

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