전자 현미경 분석기

SEM용 QUANTAX EDS

XFlash® 7 - 최신 EDS 검출기 시리즈

더 나은 분석을 위한 최적의 각도

빠르고, 정밀하며, 신뢰할 수 있습니다.

1,000,000
cps
최대 1,000,000 cps의 실제 분석 처리량 
타의 추종을 불허하는 분석 속도 달성
> 2,200
원소 선
K, L, M 및 N 선을 포함한 가장 포괄적인 원자 데이터베이스를 사용하여 가장 복잡한 데이터를 정량화하십시오.
> 1.1
sr
X선 수집을 위한 최대 입체각
생성된 X선을 가장 효율적으로 수집할 수 있는 최적의 기하학적 구조를 통해 시료 처리량을 극대화하십시오

SEM, FIB-SEM 및 EPMA용 에너지 분산형 분광법

  • 브루커의 최신 세대 QUANTAX EDS는 X선 수집을 위한 최대 입체각(수집각이라고도 함)과 최고의 처리량을 제공하는 XFlash® 7 검출기 시리즈를 특징으로 합니다.
  • XFlash® 7은 주사전자현미경(SEM), 집속 이온 빔(FIB-SEM) 및 전자 프로브 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 분광 분석 분야에서 성능과 기능의 표준을 계속해서 정립하고 있습니다.
  • XFlash® 7 검출기 제품군은 TEM 및 SEM에서 전자 투과성 시료의 EDS 분석을 위한 최적화된 솔루션을 제공하는 동시에, 까다로운 시료 분석 문제를 해결해 주는 XFlash® FlatQUAD 검출기도 함께 제공합니다.
  • 슬림형 기술, 넓은 수집각 설계 및 최신 펄스 처리 기술 제공됩니다.
  • 현장 SDD 모듈 교체를 통해 시스템 가동 시간이 향상됩니다.
  • 최고의 에너지 분해능으로 최고의 스펙트럼 성능을 구현합니다.
  • 정교한 정량화 알고리즘과 표준 기반/비표준 기반 방법의 독보적인 조합을 통해 결과의 정확도를 높였습니다.

원소 분석을 더욱 효율적으로 수행해 보십시오!

  • 개별적으로 최적화된 EDS 시스템으로 매우 정밀한 결과를 더 빠르게 얻으십시오. 타의 추종을 불허하는 속도와 정밀도를 보장합니다.
  • 처리량을 극대화하여 측정 시간을 단축하고, 데이터 크기 제한 없이 모든 설정에서 매핑 및 정량화를 수행할 수 있습니다.
  • 생성된 X선을 가장 효율적이며 기하학적으로 수집하여, 까다로운 시료를 즉시 분석할 수 있습니다.
  • 배경을 최소화하고 흡수를 방지하는 최적화된 기하학적 구조로 정확하고 신뢰할 수 있는 정량화 결과를 얻을 수 있습니다.
  • 더 나은 검출 한계, 더 낮은 배경 노이즈 및 적은 흡수로 미량의 시료도 감지할 수 있습니다.
  • 모든 것을 위한 하나의 솔루션 - 모든 SEM, FIB-SEM 및 EPMA를 위한 포괄적인 ESPRIT 분석 플랫폼에서 EDS, WDS, EBSD 및 Micro-XRF의 원활한 통합을 제공합니다.

SEM에 의한 원소 분석의 적용 분야