陨石样品的高分辨X射线元素面分析

Mocs 陨石试样图的各元素复合图,裂痕处,主要集中的是铅元素(红色)

陨石样品是稀有的而珍贵的,所以通常最好使用无损方法进行分析。当对原始表面进行 SEM 微观研究时,EDS 分析常见样品制备步骤(如切割、研磨、抛光和碳涂层)将被严格排除。

在这种情况下,传统的 EDS 探测器将面临局限性,尤其是在需要高空间分辨率的情况下。这是因为矿物陨石样品通常是是不导电而且表面粗糙的,荷电和阴影效应是EDS 的主要挑战。

为了克服这些限制 ,XFlash® FlatQUAD提供了最先进的解决方案。这种类似于 BSE 探测器的独特环形 EDS 探测器测试时直接放置在样品的正上方。它的特点是对低 X 射线产量的样品具有极高的灵敏度,可以最大限度地减少阴影效果,因此是表征表面粗糙、不含导电涂层的样品(如陨石)的完美工具。

在右图的案例里,我们研究了Mocs陨石,它来自维也纳自然历史博物馆(NHM),这是1882年2月2日降落在匈牙利的陨石。XFlash® FlatQUAD 的应用成功揭示了宇宙物质的演变,因为它能够对元素成分进行高分辨率面分析表征,即使在这个样品裂痕的深处。