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Hochauflösende EDS-Elementverteilungsbilder eines Meteoriten

Elementverteilungsbild des Mocs Meteoriten mit Bleiablagerungen (rot) in den Rissen und Hohlräumen

Meteoritenproben sind einzigartig und werden vorzugsweise mit zerstörungsfreien Methoden analysiert, um ihren Originalzustand zu erhalten. Wenn mikroskopische Untersuchungen von unveränderten Oberflächen im Fokus der Forschung stehen, sind die üblichen Probenvorbereitungsschritte für die REM-basierte EDS-Analyse wie Schneiden, Schleifen, Polieren und Kohlenstoffbeschichtung strikt ausgeschlossen.

Herkömmliche EDS-Detektoren stoßen unter solchen Umständen schnell an ihre Grenzen, insbesondere wenn eine hohe räumliche Auflösung bei der Analytik erforderlich ist. Da Proben von Steinmeteoriten nicht leitfähig sind und eine raue Oberfläche besitzen, stellen Aufladungs- und Schatteneffekte große Herausforderungen bei der Analyse dar.

Um diese Einschränkungen zu überwinden, steht mit dem XFlash® FlatQUAD eine hochmoderne Lösung zur Verfügung. Dieser einzigartige, ringförmige EDS-Detektor wird direkt unter dem Polschuh und über der Probe platziert, ähnlich einem BSE-Detektor. Der XFlash® FlatQUAD zeichnet sich durch eine extrem hohe Sensitivität aus, selbst unter analytisch ungünstigen Bedingungen mit geringsten Strahlströmen. Durch seine Bauart können Schatteneffekte minimiert und somit perfekte Elementverteilungsbilder selbst von rauen, unbeschichteten Proben wie Meteoriten aufgenommen werden.

Das vorliegende Beispiel zeigt den Mocs Meteoriten, ein historischer Fall vom 2. Februar 1882 in Ungarn, der vom Naturhistorischen Museum in Wien (NHM) zur Verfügung gestellt wurde. Mit Hilfe des XFlash® FlatQUAD ist es möglich, hochauflösende Elementverteilungsbilder auch innerhalb tiefer Hohlräume bei niedrigtsen Strahlströmen zu erfassen und damit zur Meteoritenforschung beizutragen. (Salge et al., EMAS 2018 - Microbeam Analysis in the Earth Sciences, Bristol, UK, pp.16)