운석 시료의 고분해능 X선 원소 맵핑
납 침전물(빨간색)이 있는 집중되어있는 균열 표면을 보여주는 Mocs 운석 시료의 합성 순 강도 맵
운석 샘플은 희귀하므로 비파괴적 방법으로 분석하는 것이 좋습니다. 자연 그대로의 표면 연구가 초점일 경우 절단, 그라인딩, 광택, 탄소 코팅 등 SEM용 EDS 분석을 위한 일반적인 샘플 준비 단계는 배제됩니다.
특히 높은 공간 분해능이 요구되는 상황에서는 기존의 EDS디텍터는 한계에 직면하고 있습니다. 광물학적 운석 시료는 비전도성 및 지형적이기 때문에 하전 및 음영 효과는 해결해야하는 주요 과제입니다.
이러한 한계를 극복하기 위해 XFlash® FlatQUAD와 함께 최첨단 솔루션 사용이 가능해졌습니다. 이 독특한 고리형 EDS 디텍터는 BSE 디텍터와 유사하게 샘플 바로 위에 배치됩니다. 낮은 X선 수율을 위해 매우 높은 감도로 음영 효과를 최소화한 것이 특징이며, 따라서 운석과 같이 거칠고 코팅되지 않은 샘플을 매핑하는 데 완벽한 도구입니다.
1882년 2월 2일 헝가리 비엔나에 있는 Natural History 박물관(NHM)에서 제공한 역사적인 낙석인 Mocs 운석을 조사했습니다. XFlash® FlatQUAD는 깊은 구멍 내에서도 원소 조성물을 고해상도로 매핑 할 수 있는 기술 덕분에 우주 물질의 진화에 빛을 비추고 있습니다. (Salge et al., EMAS 2018 - Microbeam Analysis in the Earth Sciences, Bristol, UK, pp.16)
운석 표본의 공동 내에서 높은 납 함량을 드러내는 원소 분포 지도
강하게 겹치는 유황과 리드 X선 봉우리ESPRIT 소프트웨어에 의해 구속될 수 있습니다.
균열 내의 나노 스케일 탄소 섬유를 보여주는 높은 배율의 상세한 원소 분포지도