QUANTAX Compact30
QUANTAX Compact30 es un sistema EDS ideal especialmente diseñado para el microscopio electrónico de barrido COXEM EM-30. QUANTAX Compact30 consiste en un detector de deriva de silicio (SDD) XFlash® con la mejor resolución de energía en su campo, una pequeña unidad electrónica y el software ESPRIT Compact fácil de usar. ElXFlash ® SDD personalizado se ajusta al chasis del microscopio sin comprometer su rendimiento y su huella.
El sistema realiza análisis cualitativos y cuantitativos de todos los materiales con un rango de elementos que va desde el boro (5) hasta el californio (98). Además del análisis de la composición en puntos individuales de la superficie de la muestra, QUANTAX Compact30 proporciona potentes funciones de escaneo de línea y mapeo de elementos espectrales para completar el análisis y la generación de informes en cuestión de segundos. Además, la funcionalidad HyperMap mantiene todos los datos sin procesar guardados para su posterior procesamiento posterior en cualquier equipo.
Características clave
- Adquisición de datos de alta resolución
- Tres modos de análisis diferentes: Objetos, LineScan y Mapping
- Identificación automática/interactiva de elementos a partir de boro (5)
- Cuantificación precisa de elementos durante la adquisición
- Visualización de resultados cuantitativos como porcentaje atómico, de peso u óxido
- Distribuciones de concentración codificadas por colores (mapas de elementos) para cualquier número de elementos dentro de un campo de visión arbitrario, incluida una separación de picos en vivo única y eliminación de fondo
- Generación de informes y formato de impresión
- Exportación de resultados a MS® Word y Excel
- Compatible con archivos ESPRIT
- Opciones de idioma: inglés, alemán, español, francés, ruso, chino, japonés