Espectrómetros Micro-XRF

M1 MISTRAL

Espectrómetro compacto de sobremesa micro-XRF

Análisis químico elemental y de capas

Alta rentabilidad

M1 MISTRAL Micro-XRF

Lo más destacado

100 µm
Tamaño mínimo de punto de medición
Puede resolver pequeños detalles de la estructura en placas de circuito impreso
2 nm-60 µm
Rango de grosor en el análisis de varias capas multielemento
Análisis del grosor de capa y la composición según ASTM B568 e ISO 3497; incluyendo capas con elementos repetidos; análisis multipunto programable
8 ppm
Límites de detección de Cu, Zn en polímeros o Pb en Zn
Detección RoHS, análisis de oligoelementos en soldaduras, plásticos, aleaciones metálicas; corrección automática del grosor del material, posicionamiento exacto del punto de medición en los componentes de placas de circuito impreso

Un espectrómetro micro-XRF compacto y multiusos

Factores clave

  • Instrumento flexible
  • Fácil de operar
  • Interfaz de pantalla táctil fácil de usar
  • Acceso a datos sin procesar

El M1 MISTRAL es un analizador micro-XRF por dispersión de energía de sobremesa y compacto para multiples usos.  Mientras es fácil de operar y está diseñado para un funcionamiento rápido y rentable en un entorno industrial, el M1 MISTRAL proporciona información precisa sobre la composición química y el grosor de capa de materiales como aleaciones de metales preciosos o estructuras multicapa.

El volumen y los recubrimientos se analizan de acuerdo con la norma ASTM B568 y la norma europea ISO 3497. Se puede lograr una alta precisión en el análisis de recubrimientos de níquel químico (NiP) utilizando un ánodo de Rh.

Puede determinar en menos de un minuto la composición exacta de cualquier aleación de joyería, de metales del grupo del platino o de plata. Los resultados pueden ser expresados en porcentaje de peso o en quilates.

El análisis se puede realizar con o sin estándares para alcanzar niveles de precisión aún mayores. Una gran variedad de calibraciones está disponible para cada aplicación.

Desde el posicionamiento de la muestra hasta la impresión de los resultados en un informe, el flujo de trabajo completo está integrado en el software. Al mismo tiempo, se garantiza una transperencia completa gracias al acceso abierto a los datos sin procesar.

Beneficios

Beneficios del M1 MISTRAL

Una amplia variedad de elementos se pueden medir de forma no destructiva. No se requiere preparación de la muestra. Incluso las tareas analíticas complejas se pueden automatizar con la platina XYZ programable y comenzar con un solo clic del ratón. Los sistemas de detección ultrarrápido proporcionan resultados instantáneos.

El M1 MISTRAL viene con un detector por deriva de silicio de área grande (SDD), con una elevada tasa de conteo y una resolución energética superior, que permiten bajar los límites de detección hasta el nivel de ppm. El gran rendimiento del detector y del procesador de impulsos digitales y las condiciones geométricas optimizadas dan como resultado una detección de rayos X altamente eficiente y, por lo tanto, resultados de análisis rápidos y precisos.

El M1 MISTRAL es fácil de usar y no requiere mantenimiento, lo cual, sumado a un software analítico intuitivo, permite la operación incluso por personal que ha recibido solo una breve formación. No se requiere ni consumibles ni gases. Una construcción robusta garantiza la máxima estabilidad y un funcionamiento sin mantenimiento.

Especificaciones

Detalles técnicos

Excitación

  • Tubo microenfoque de alto rendimiento con ánodo de W o Rh    
Tamaño y peso max. de la muestra
  • 48x49x20 cm³
  • hasta 1,8 kg

Detector

  • Refrigeración de Peltier, detector por deriva de silicio de 30 mm², resolución energética en Mn Ka de <150 eV     
Trayecto max. de la platina 
  • Hasta 200 mm x 175 mm x 80 mm (para platina XYZ motorizada con autoenfoque y función EasyLoad)

Amplio rango de elementos

  • De serie: desde Ti (Z=22) con ánodo de W 
  • Opcional: desde Al (Z=13) con ánodo de Rh                      
Dimensiones del instrumento (Largo x Ancho x Alto)
  • 550 mm x 680 mm x 430 mm
Tamaño de punto de rayos X
  • Cambiador de colimador de 0,1 mm hasta 1,5 mm              
   

Software

Software analítico XSpect Pro

  • Control del instrumento, adquisición y gestión de datos
  • Interfaz de pantalla táctil seleccionable por el usuario
  • Control de platina y programación
  • Análisis de grosor y composición de multicapas metálicas
  • Análisis cuantitativo de la composición, modelos empíricos con y sin estándares
  • Visualización de espectros con identificación automática de picos
  • Datos y tendencias del control de procesos estadístico (SPC)
  • Generador de informes
  • Archivo de resultados

Noticias y eventos