VERTEX 80/80v

Extensión del rango espectral

El VERTEX 80/80v puede equiparse opcionalmente con componentes ópticos para cubrir el rango espectral del infrarrojo lejano (o terahercios), IR medio y cercano, visible y hasta el rango espectral ultravioleta. Con sus componentes ópticos prealineados y el interferómetro ultraScan™, el cambio de rango espectral y el mantenimiento del alinemiento es muy sencillo.

BMS-c: Bruker proporciona la opción de un cambiador automatizado del divisor de haz BMS-c de alta precisión  para el espectrómetro de vacío VERTEX 80v.

Así, el intercambio automático controlado remotamente de hasta cuatro tipos diferentes de divisor de haz en condiciones de vacío es posible. Ahora, el rango espectral completo desde el UV/VIS hasta el IR lejano/THz se puede cubrir sin necesidad de romper el vacío de la bancada óptica del espectrómetro para  cambiar el divisor de haz de manualmente.

NUEVO: Bruker ha ampliado la gama disponible de divisores de haz con un nuevo componente para IR lejano/THz de banda ancha para la serie de espectrómetros FT-IR VERTEX 80/80v. En particular para la investigación y el desarrollo de materiales inorgánicos semiconductores, el nuevo divisor de haz de estado sólido para IR lejano proporcionará valores adicionales porque cubre nominalmente el rango espectral de más de 900 cm^-1 a aprox. 5 cm^-1 en una sola medida, uniendo el IR medio con el rango FIR/THz de longitud de onda muy larga.

Resolución óptica

La configuración estándar VERTEX 80 y VERTEX 80v proporciona una resolución espectral apodizada de más de 0,2 cm^-1, lo que es suficiente para la mayoría de los estudios de fase de gas de presión ambiente y mediciones de muestras a temperatura ambiente. Para trabajos avanzados a baja temperatura, por ejemplo, en materiales semiconductores cristalinos o mediciones de fase de gas a menor presión, se dispone de una MAYOR resolución, superior a 0,06 cm^-1. Esta es la resolución espectral más alta lograda utilizando un espectrómetro FT-IR de sobremesa comercial. Los espectros de alta resolución en el rango espectral visible demuestran una potencia de resolución (número de onda, dividido por resolución espectral ∆) mejor que 300.000:1.

Versatilidad

El innovador diseño óptico da como resultado el espectrómetro FT-IR de VACÍO de I+D más flexible y ampliable disponible. Con la bancada óptica evacuada, se alcanza la MAYOR sensibilidad en las regiones de IR medio, cercano y lejano sin el temor de enmascarar características espectrales muy débiles por absorciones de vapor de agua del aire. Con el espectrómetro FT-IR de vacío VERTEX 80v se pueden obtener resultados sobresalientes, por ejemplo, en el área de la investigación de nanociencias de hasta menos de 10-3 monocapas. Prácticamente no hay limitaciones con respecto a la flexibilidad. Dispone de cinco puertos de salida de haz en el lado derecho, delantero e izquierdo y dos puertos de entrada de haz en el lado derecho y trasero del espectrómetro. Esto permite la conexión simultánea de, por ejemplo, una fuente de luz sincrotrón utilizando el puerto de entrada lateral trasero, el accesorio de modulación de polarización PMA 50 en el puerto de salida del lado derecho, un acoplamiento de fibra óptica en el puerto frontal derecho, un detector bolométrico de Si en la parte delantera izquierda y el microscopio FT-IR de la serie HYPERION en el puerto de salida del lado izquierdo.

La serie VERTEX 80 es el instrumento ideal para aplicaciones exigentes de investigación y desarrollo.

¡Póngase en contacto con nuestro equipo de ventas hoy mismo para obtener más información sobre el VERTEX 80/80v!

Las tecnologías utilizadas están protegidas por una o más de las siguientes patentes: US 7034944

Los espectrómetros VERTEX 80 y VERTEX 80v son los instrumentos de investigación de alta gama de la serie VERTEX. Su innovador diseño óptico da como resultado los espectrómetros purgables y de vacío de sobremesa más potentes disponibles. Ofrecen el mayor rango espectral, desde la región UV/VIS (50000 cm^-1) hasta la región FIR/THz (5 cm^-1), la resolución espectral y temporal más alta y un nivel inigualable de flexibilidad. Los versátiles sistemas VERTEX 80/80v proporcionan con su tecnología PEAK la solución adecuada para todas las aplicaciones de investigación de alta gama.

Investigación y desarrollo

• Tecnología de escaneo continuo y Step Scan para espectroscopía de modulación de amplitud/fase
• Tecnología de escaneo rápido, intercalado y paso a paso para experimentos con alta resolución temporal (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Caracterización de materiales microscópicos ordenados periódicamente, conocidos como metamateriales
• Espectroscopia de alta resolución para análisis de gas con resoluciones superiores a 0,06 cm^-1
• Instrumentación para instalaciones de sincrotrón FT-IR al vacío
• Métodos de flujo detenido para experimentos de catálisis enzimática
• Adaptación externa de cámaras de medición de ultra-alto vacío (UHV)
• Espectroelectroquímica FT-IR para la investigación in situ de superficies de electrodos y electrolitos

Industria Farmacéutica

• Determinación de la conformación absoluta de moléculas (VCD)
• Caracterización de la estabilidad y contenido volátil de medicamentos mediante análisis térmogravimétrico (TG-FT-IR)
• Diferenciación de polimorfos de principios activos farmacéuticos en la región de infrarrojo lejano

Industria Química y Polímeros

• Identificación de cargas inorgánicas en compuestos poliméricos en la región de infrarrojo lejano
• Estudios dinámicos y ópticos de polímeros
• Determinación de compuestos volátiles y caracterización de procesos de descomposición por análisis térmogravimétrico (TGA-FT-IR)
• Monitorización de la reacción y control de reacción (sonda de fibra MIR)
• Identificación de minerales y pigmentos inorgánicos

Análisis de superficie

• Detección y caracterización de láminas delgadas y monocapas
• Análisis de superficie combinado con modulación de polarización (PM-IRRAS)

Ciencia de materiales

• Caracterización de materiales ópticos y altamente reflectantes (ventanas, espejos)
• Investigación de materiales oscuros y perfiles de profundidad por Espectroscopia Fotoacústica (PAS)
• Caracterización del comportamiento de emisión de los materiales

Semiconductores

• Determinación del contenido de oxígeno y carbono en obleas de silicio
• Mediciones de transmisión a baja temperatura y fotoluminiscencia (PL) para el control de calidad de impurezas superficiales
  

Accesorios externos, fuentes y detectores

Los espectrómetros VERTEX 80/80v están equipados con cinco puertos de salida de haz y dos puertos de entrada de haz y ofrecen la posibilidad de conectarlos, por ejemplo, a fuentes de luz externas láser y sincrotrón. Además, la óptica del espectrómetro se puede actualizar fácilmente con accesorios de medición externos, fuentes y detectores. Esto incluye lo siguiente:

• Accesorio de modulación de polarización PMA 50 para VCD y PM-IRRAS
• Módulo de fotoluminiscencia PL II
• Módulo RAM II FT-Raman y el microscopio RamanScope III FT-Raman
• Módulo de acoplamiento TGA-FT-IR
• Microscopio FT-IR de la serie HYPERION
• Sistema de imágenes HYPERION 3000 FT-IR
• HTS-XT de alto rendimiento eXTension
• IMAC accesorio de imagen Focal Plane Array macro
• Compartimento de muestras externo XSA, evacuable o purgable
• Adaptación externa de la cámara UHV hermética al vacío
• Unidad de medida PL/PT/PR de vacío
• Criostatos criogénicos libres de líquidos o con líquidos a baja temperatura
  
• Unidad de acoplamiento de fibra óptica con sondas de fibra MIR o NIR para sólidos y líquidos
• Grandes esferas integradoras
• Dispositivos de muestreo automático

• Fuente externa FIR Hg
• Detector único MIR-FIR de amplio rango
• Divisor de haz de estado sólido IR lejano/THz
  
• Adaptador de emisión externo
• Fuente MIR externa de alto rendimiento
• Fuente VIS externa de alto rendimiento
• Cámara externo de vacío para 4 detectores (para óptica de vacío)
• Adaptación del bolómetro para la detección en el rango FIR
• Unidad de intercambio automático de divisores de haz (BMS-c) para óptica de vacío