VERTEX 80/80v

Estensione della gamma spettrale

Il VERTEX 80/80v può essere opzionalmente dotato di componenti ottici per coprire la gamma spettrale dal lontano IR, o terahertz, attraverso la metà e vicino IR e visibile e fino alla gamma spettrale ultravioletta. Con i suoi componenti ottici pre-allineati e l'interferometro UltraScan™, il cambio di gamma e la manutenzione sono facili.

BMS-c: Bruker fornisce l'opzione di scambio di fascio ad alta precisione BMS-c per lo spettrometro a vuoto VERTEX 80v.

Così è diventato possibile lo scambio automatico controllato a distanza di un massimo di quattro diversi tipi di beamsplitters in condizioni di vuoto. Ora, l'intera gamma spettrale dal UV/VIS all'IR/THz lontano può essere misurata senza la necessità di sfogare il banco dell'ottica spettrometrica per lo scambio manuale di beamsplitter.

NUOVO: Bruker ha ampliato la gamma disponibile di beamsplitters con un nuovo beamsplitter a banda larga lontano IR/THz per la serie di spettrometri FT-IR VERTEX 80/80v. In particolare per la ricerca e lo sviluppo di semiconduttori e materiali inorganici aggiuntivi, il nuovo fascio a stato solido di far IR fornirà valori aggiuntivi perché copre nominalmente la gamma spettrale da oltre 900 cm^-1 ad appr. 5 cm^-1 in una misura e collega l'IR medio con le gamme di lunghezza d'onda FIR/THz a onde molto lunghe.

Risoluzione ottica

Il VERTEX 80 e la configurazione standard VERTEX 80v forniscono una risoluzione spettrale apodizzata di 0,2 cm^-1,sufficiente per la maggior parte degli studi di fase del gas a pressione ambientale e le misurazioni del campione di temperatura ambiente. Per un lavoro avanzato a bassa temperatura, ad esempio su materiali semiconduttori cristallini o misurazioni di fase gassosa a pressione inferiore, è disponibile una risoluzione PEAK superiore a 0,06 cm^-1. Questa è la più alta risoluzione spettrale ottenuta utilizzando uno spettrometro FT-IR superiore panca commerciale. Gli spettri ad alta risoluzione nell'intervallo spettrale visibile dimostrano una potenza di risoluzione (numero d'onda ν diviso per risoluzione spettrale ∆ν) di 300.000:1 migliori.

Versatilità

L'innovativo design dell'ottica si traduce nello spettrometro FT-IR a vuoto R&D più flessibile ed espandibile disponibile. Con il banco dell'ottica evacuato, la sensibilità PEAK nelle regioni a medio, vicino e lontano si ottiene senza il timore di mascherare caratteristiche spettrali molto deboli dagli assorbimento di vapore acqueo. Risultati eccezionali, ad esempio nell'area della ricerca sulle nanoscienze fino a meno di 10-3 monostrati, possono essere ottenuti con lo spettrometro FT-IR a vuoto VERTEX 80v. Non ci sono praticamente limitazioni per quanto riguarda la flessibilità. Sono disponibili cinque porte di uscita trave sul lato destro, anteriore e sinistro e due porte di ingresso trave sul lato destro e posteriore del banco ottiche. Ciò consente, ad esempio, la connessione simultanea di una sorgente luminosa di sincrotrone utilizzando la porta di ingresso laterale posteriore, l'accessorio di modulazione della polarizzazione PMA 50 sul fascio di uscita laterale destro, un accoppiamento in fibra ottica alla porta anteriore destra, un rilevatore di bolometro sul davanti sinistro e il microscopio FT-IR della serie HYPERION sul fascio di uscita laterale sinistro.

La serie VERTEX 80 è lo strumento ideale per applicazioni di ricerca e sviluppo esigenti.

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Le tecnologie utilizzate sono protette da uno o più dei seguenti brevetti: US 7034944

Compatible with EMILIE™ — the first nanomechanical infrared analyzer for FT-IR spectroscopy. Developed in collaboration with Invisible Light Labs, EMILIE™ integrates seamlessly with Bruker research spectrometers for characterizing nanomaterials with picogram-level sensitivity without cryogenic cooling. Ideal for analyzing aerosols, nanoplastics, biopharmaceuticals, and other trace-level samples, EMILIE™ expands your spectrometer’s capabilities with direct sample collection of samples, broad spectral coverage, and in-situ thermal desorption.

Gli spettrometri VERTEX 80 e VERTEX 80v sono gli strumenti di ricerca di fascia alta della serie VERTEX. Il loro innovativo design dell'ottica si traduce nei più potenti spettrometri di spurgo e sottovuoto disponibili. Offrono una gamma spettrale più ampia dalla regione UV/VIS (50000 cm^-1) alla regione FIR/THz (5 cm^-1),la risoluzione spettrale e temporale più alta e un livello di flessibilità senza pari. I versatili sistemi VERTEX 80/80v forniscono alla loro tecnologia PEAK la soluzione giusta per tutte le applicazioni di ricerca di fascia alta.

Ricerca & Sviluppo

• Tecnologia di scansione continua e step per spettroscopia di modulazione di ampiezza/fase
• Tecnologia Rapid, interleaved e Step Scan per esperimenti ad alta risoluzione temporale (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Caratterizzazione di materiali microscopici periodicamente ordinati, noti come metamateriali
• Spettroscopia ad alta risoluzione per l'analisi del gas con risoluzioni superiori a 0,06 cm^-1
• Strumentazione per installazioni a vuoto FT-IR beamline
• Metodi di flusso interrotto per esperimenti di catalisi enzimatica
• Adattamento esterno delle camere di misura del vuoto ultra-alta
• Spettroechimica FT-IR per l'indagine in situ su superfici ed elettroliti

Pharma

• Determinazione della configurazione assoluta delle molecole (VCD)
• Caratterizzazione della stabilità e del contenuto volatile dei prodotti farmacologici medici mediante analisi termica (TG-FT-IR)
• Differenziazione dei polimorfi di ingredienti farmaceutici attivi nella regione dell'infrarosso lontano

Polimeri e Chimica

• Identificazione di riempitivi inorganici in compositi polimerici nella regione dell'infrarosso lontano
• Studi dinamici e reo-ottici dei polimeri
• Determinazione dei composti volatili e caratterizzazione dei processi di decomposizione mediante analisi termica (TGA-FT-IR)
• Monitoraggio della reazione e controllo della reazione (sonda in fibra MIR)
• Identificazione di minerali e pigmenti inorganici

Analisi della superficie

• Rilevamento e caratterizzazione di sottili e monostrati
• Analisi della superficie combinata con modulazione della polarizzazione (PM-IRRAS)

Scienza dei materiali

• Caratterizzazione di materiali ottici e altamente riflettenti (finestre, specchi)
• Analisi dei materiali scuri e profilazione della profondità mediante spettroscopia foto-acustica (PAS)
• Caratterizzazione del comportamento di emettizione dei materiali

Semiconduttori

• Determinazione del contenuto di ossigeno e carbonio nei wafer di silicio
• Misurazione della trasmissione a bassa temperatura e fotoluminescenza (PL) di impurità poco profonde per il controllo di qualità

Accessori esterni, fonti e rilevatori

Gli spettrometri VERTEX 80/80v sono dotati di cinque porte di uscita del fascio e due porte di ingresso del fascio e offrono la possibilità di collegarle, ad esempio, a sorgenti di luce laser e sincrotrone esterne. Inoltre, l'ottica spettrometrica può essere prontamente potenziata con accessori di misura esterni, sorgenti e rilevatori. Ciò include quanto segue:

• Accessorio di modulazione di polarizzazione PMA 50 per VCD e PM-IRRAS
• Modulo fotoluminescenza PL II
• Modulo RAM II FT-Raman e microscopio RamanScope III FT-Raman
• Accoppiamento TGA-FT-IR
• Microscopio HYPERION serie FT-IR
• HyperION 3000 Sistema di imaging FT-IR
• HTS-XT High Throughput Screening eXTension
• Accessorio per l'imaging macro IMAC Focal Plane Array
• Compartimento campione esterno XSA, evacuato o eliminabile
• Adattamento camera UHV stretto sottovuoto esterno
• Unità di misura VACUUM PL/PT/PR
• Liquido a bassa temperatura Criostati liberi da liquidi criogenici
• Unità di accoppiamento in fibra ottica con sonde in fibra MIR o NIR per solidi e liquidi
• Grandi sfere di integrazione
• Dispositivi campionatori automatici

• Fonte esterna FIR Hg
• Rilevatore MIR-FIR unico a vasta raggio
• Beamsplitter a stato solido lontano IR / THz
• Adattatore di emissione esterno
• Fonte MIR esterna ad alte prestazioni
• Sorgente VIS esterna ad alte prestazioni
• Camera di rilevamento a 4 posizione a vuoto esterna (per ottica a vuoto)
• Adattamento del bolometro per il rilevamento nella gamma FIR
• Unità di scambio automatica beamsplitter (BMS-c) (per ottiche a vuoto)