FT-IR分光計

VERTEX 80/80v

Banner VERTEX 80v FT-IR Research Spectrometer

特長

VERTEX 80/80v ハイエンドリサーチFT-IR分光計

VERTEX 80およびVERTEX 80v真空FT-IR分光計は、アクティブアライメントされたUltraScanTM干渉計をベースに設計されており、最高のスペクトル分解能を提供します。正確なリニアエアベアリングスキャナと水蒸気の吸収を排除できる最高品質の真空光学系が、究極の感度と安定性を保証します。高波数分解能、超高速ラピッドスキャン、ステップスキャン、UV領域測定などの厳しい実験要求に対応可能です。

VERTEX 80/80vの光学設計は、最大の柔軟性と最高の装置パフォーマンスを併せもちます。ブルカー独自のDigiTectTMテクノロジーは、外部信号の妨害を防ぎ、最高のシグナルノイズ比を保証し、また、ユーザによる容易で再現性のある検出器交換を可能にします。オプションの2つの外部検出器ポートは、ボロメータおよびホットエレクトロン検出器の液体Heガスを収容可能です。また、外部水冷高出力Hgアーク光源を組合せることで、最近再注目されているテラヘルツ領域スペクトルを、室温動作のDTGS検出器でさえも測定可能です。

 

スペクトル範囲の拡張

VERTEX 80/80vは、遠赤外/テラヘルツから中赤外、近赤外、可視および紫外領域までのスペクトルレンジをカバーする光学部品オプションを装備することができます。事前に調整された光学コンポーネントとアクティブアライメントされたUltraScanTM干渉計により、簡単にレンジ変更とメンテナンスができます。

BMS-c: ブルカーは、VERTEX 80v真空分光計用の高精度ビームスプリッタ交換オプションBMS-cを提供しています。

これにより、真空条件下で最大4種類のビームスプリッタの自動交換が可能となります。ビームスプリッタの手動交換では避けられなかった、分光計の光学ベンチの大気開放をすることなく、紫外/可視から遠赤外/テラヘルツ領域までの完全なスペクトル範囲を連続的に測定することが可能です。

 

新しい: Brukerは、VERTEX 80/80v FT-IR分光計シリーズ用の新しい広帯域遠方IR/THzビームスプリッターにより、利用可能なビームスプリッタの範囲を拡張しました。特に半導体や追加の無機材料の研究開発のために、新しい遠いIR固体ビームスプリッターは、900cm-1 以上からapprまでのスペクトル範囲を公称的にカバーするため、追加の値を提供します。1回の測定で5cm-1、 非常に長波FIR/THz波長範囲で中型IRを接続します。

スペクトル分解能

VERTEX80およびVERTEX80v標準構成は、0.2 cm-1よりも良いアポダイズドスペクトル分解能を提供します。これは、ほとんどの大気圧気相研究および室温サンプル測定に十分です。先進的低温作業のために、例えば結晶性半導体材料や低圧での気相測定では、0.06 cm-1よりも高いPEAK分解能が得られます。これは市販のベンチトップFT‐IR分光計を用いて達成した最高のスペクトル分解能であり、可視スペクトル領域の高分解能スペクトルは30万:1の分解能(波数νをスペクトル分解能Δνで除した値)を示します。

 

優れた拡張性

革新的な光学設計により、非常に柔軟で拡張可能な研究開発用真空FT-IR分光計が完成しました。真空光学ベンチを用いることで、試料の僅かな吸収ピークが水蒸気の吸収ピークで覆われる心配もなく、中、近、遠赤外領域における最高のピーク感度が得られます。例えば、単分子膜の研究などが行われるナノサイエンス分野において、VERTEX 80v真空FT-IR分光計で顕著な結果を得ることができます。拡張性に関する制限はほとんどありません。光学ベンチの前面と左右側面に全5つの出射ポート、背面と右側面に2つの入射ポートがあります。これにより、例えば、背面の入射ポートにシンクロトロン光源、右側面の出力ポートにPMA50偏光変調アクセサリ、右前面の出射ポートに光ファイバー、左前面の出射ポートにボロメーター検出器、左側面の出射ポートにHYPERIONシリーズFT-IR顕微鏡を同時に接続することも可能です。

VERTEX 80 seriesは、現場レベルの厳しい要求にも通用する、理想的な分光計です。

製品に使用されている技術は、次の特許により保護されています:  US 7034944;

アプリケーション

VERTEX 80 ならびにVERTEX 80v は、最先端のアプリケーションに求められる、究極の分析環境を提供します。革新的な設計により、最高レベルのパージ光学系、乾燥密閉光学系、真空光学系を実現しています。この高性能光学系により、紫外/可視 (50000 cm-1) から遠赤外/テラヘルツ領域 (5 cm-1) までカバーすることも可能です。VERTEX 80/80v システムは、ハイエンドリサーチの各種アプリケーションに対応する、高い柔軟性と圧倒的な分光性能を提供します。

 

研究開発

  • 高性能Step Scan 機能による時間分解測定および位相分解測定オプション (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • メタマテリアルの同定
  • ガス分析に適する、0.06 cm-1 以上の最高分解能
  • 真空型FT-IR ビームライン取付用アクセサリ
  • 真空FT-IRビームライン設置用計測装置
  • 酵素触媒実験用、ストップトフロー法
  • 超真空測定用試料室接続機構

製薬

  • 分子構造解析 (VCD)
  • 熱分析を用いた安定性および製剤成分の解析 (TGA-FT-IR)
  • 遠赤外領域における製薬原料の多形態同定 (VERTEX FM)

ポリマー・化学

  • 遠赤外領域における、ポリマー中の無機フィラー同定 (VERTEX FM)
  • 熱分析を用いた、揮発性物質の同定と分解プロセスの特定 (TGA-FTIR)
  • リアクションモニタリングならびにリアクションコントロール (中赤外領域ファイバープローブ)
  • 無機鉱物および含量の同定

表面分析

  • 単分子膜など薄膜の同定・解析
  • 極性変調を用いた表面分析 (PM-IRRAS)
 

材料科学

  • 光学性および高反射性物質の同定 (窓、鏡など)
  • PAS を用いた暗色物質および深さプロファイル解析
  • 物質の放射特性分析

 

半導体

  • シリコンウェハー中の酸素・炭素物質同定
  • 品質管理時の不純物における低温NIRフォトルミネッセンス分析

仕様

外部付属品、線源及び検出器

VERTEX80/80v分光計は、5つの出射ポートと2つの入射ポートを備えており、例えば、これらを外部光源やシンクロトロン光源に接続することが可能です。また光学系は、外部測定アクセサリ、光源および検出器を用いて、以下の内容を容易にアップグレードできます。

  • VCDおよびPM-IRRAS用PMA50偏光変調アクセサリ
  • PL IIフォトルミネッセンスモジュール
  • RAM II FT-ラマンモジュールとRamanScope III FT-ラマン顕微鏡
  • TG-FT-IRカップリング
  • HYPERIONシリーズFT-IR顕微鏡
  • HYPERION3000 FT-IRイメージングシステム
  • HTS-XTハイスループットスクリーニングeXTension
  • IMACフォーカルプレーンアレイ マクロイメージングアクセサリ
  • 排気またはパージ可能な外部サンプルコンパートメントXSA
  • 外部真空気密UHVチャンバー適応
  • 真空PL/PT/PR測定ユニット
  • 低温液体He又は低温液体フリークライオスタット
  • 固体および液体用のMIRまたはNIRファイバープローブユニット
  • 大型積分球ユニット
  • オートサンプラーデバイス

  • FIR用 外部Hg光源
  • ブルカーオリジナル広範囲MIR-FIR検出器
  • 遠赤外/THzビームスプリッタ
  • 外部エミッションアダプタ
  • 外部高性能MIR光源
  • 外部高性能VIS光源
  • 外部真空4ポジション検出器チャンバー(真空光学系用)
  • FIR用ボロメータ検出器
  • 自動ビームスプリッタ交換ユニット(BMS-C)(真空光学系用)
     

詳細

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