Spektrometry FT-IR

VERTEX 80/80v

Banner VERTEX 80v FT-IR Research Spectrometer

Cechy charakterystyczne

Spektrometry FT-IR VERTEX 80/80v

Spektrometry próżniowe FT-IR VERTEX 80 i VERTEX 80v oparte na aktywnie justowanym interferometrze UltraScan™, który zapewnia najwyższą rozdzielczość spektralną. Precyzyjny liniowy skaner na łożysku powietrznym i optyka najwyższej jakości gwarantują najwyższą czułość i stabilność. VERTEX 80v posiada próżniową ławę optyczna, która może wyeliminować absorpcję wilgoci atmosferycznej dla najwyższej czułości i stabilności; umożliwiając prowadzenie wymagających eksperymentów takich jak wysokorozdzielcze pomiary, ultra szybkie pomiary rapidscan, step-scan oraz pomiary w zakresie UV.

Konstrukcja optyki VERTEX 80/80v zapewnia najwyższą elastyczność i wydajność przyrządu. Unikalna technologia Bruker Optics DigiTect™ zapobiega zakłóceniom sygnału zewnętrznego, gwarantuje najwyższy stosunek sygnału do szumu oraz umożliwia łatwą i powtarzalną wymianę detektora przez użytkownika. Dwa opcjonalne zewnętrzne porty detektorów pozwalają na montaż bolomteru i/lub detektorów gorących elektronów. W połączeniu z zewnętrznym, chłodzonym wodą źródłem Hg o dużej mocy, niedawno odkryty zakres terahercowy jest dostępny nawet w przypadku użycia detektora DTGS pracującego w temperaturze pokojowej.

 

Rozszerzenie zakresu spektralnego

Spektrometry VERTEX 80/80v mogą zostać opcjonalnie wyspożone w komponenty optyczne pozwalające na pokrycie zakresu spektralnego od dalekiej podczerwieni lub THz, przez średnią i bliską podczerwień, aż do UV/VIS. Dzięki prekalibrowanym komponentom optycznym i aktywnie justowanemu interferometrowi UltraScan™, zmiana zakresów jest niezwykle prosta.

BMS-c: Bruker zapewnia wysoce precyzyjną opcję automatycznej zmiany beamsplitterów dostępną dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v.

Automatyczna, zdalnie sterowana wymiana do 4 zainstalowanych beamsplitterów w warunkach próżniowych jest dostępna dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Kompletne widmo w zakresie od UV/VIS do dalekiej podczerwieni/THz może zostać uzyskane bez konieczności wentylacji spektrometru wymaganej przy manualnej zmianie beamsplitterów.

 

 

NOWOŚĆ: Bruker rozszerzył zakres dostępnych beamsplitterów o nowy, szerokopasmowy beamsplitter na zakres dalekiej podczerwieni/THz dla spektrometrów FTIR VERTEX 80/80v. Dla badań R&D półprzewodników i związków nieorganicznych nowy beamsplitter pozwala uzyskać więcej cennych informacji pokrywając zakres powyżej 900 cm-1 do 5 cm-1 w jednym pomiarze, a także łączy średnią podczerwień z zakresem FIR/THz.

Rozdzielczość optyczna

Spektrometry VERTEX 80 oraz VERTEX 80v w podstawowej konfiguracji zapewniają rozdzielczość lepszą niż 0.2 cm-1 (apodyzowana), która jest wystarczająca do większości pomiarów gazów pod ciśnieniem atmosferycznym oraz badań próbek w temperaturze pokojowej. Do zaawansowanych badań niskotemperaturowych np. krystaliczne materiały półprzewodnikowe lub pomiary gazów pod niskim ciśnieniem, dostępna jest rozdzielczość lepsza niż 0.06 cm-1. Rozdzielczość ta, to najwyższa wartość osiągnięta przy wykorzystaniu komercyjnego spektrometru FTIR. Wysokorozdzielcze widma w zakresie VIS prezentują zdolność rozdzielczą lepszą od 300,000:1.

 

Wszechstronność

Innowacyjny design optyki zapewnia najszersze możliwości rozbudowy. Próżniowy układ optyczny spektrometru zapewnia najwyższą czułość w zakresie MIR, NIR, FIR bez obawy o maskowanie słabych sygnałów przez parę wodną. Doskonałe wyniki np. w nanotechnologii pozwalają na badania do poniżej 10-3 monowarstw, przy wykorzystaniu spektrometru próżniowego FT-IR VERTEX 80v. Nie występują praktycznie żadne ograniczenia dotyczące rozbudowy systemu. Spektrometr jest wyposażony w łącznie 5 portów wyjściowych po prawej i lewej stronie oraz na froncie, a także 2 porty wejściowe po prawej stronie i z tył spektrometru. Tak rozbudowane możliwości pozwalają na jednoczesne podłączenie np. źródła synchrotronowego do portu z tyłu systemu, modułu modulacji polaryzacji PMA 50 po prawej stronie, modułu światłowodowego na froncie po prawej stronie, bolometru na froncie po lewej stronie i mikroskopu FT-IR HYPERION po lewej stronie spektrometru.

Seria VERTEX 80 to idealne systemy do wymagających zastosowań naukowo-badawczych.

Skontaktuj się z naszym działem sprzedaży już dziś, aby dowiedzieć się więcej o VERTEX 80/80v!


Wykorzystane technologie są chronione jednym lub większą ilością patentów: US 7034944

Aplikacje

Spektrometry VERTEX 80 i VERTEX 80v to systemy do zaawansowanych zastosowań badawczych. Innowacyjna optyka sprawia, że są to najlepsze dostępne spektrometry z opcją przedmuchu i próżniowe. Oferują najszerszy zakres spektralny od UV/VIS (50000 cm-1) do FIR/THz (5 cm-1), najwyższa rozdzielczość spektralna i czasową oraz najszersze możliwości rozbudowy. VERTEX 80/80v dzięki najlepszym wykorzystanym technologią jest idealnym rozwiązaniem do wszystkich wymagających zastosowań badawczych.

 

Badania i rozwój

  • Techniki Continuous i Step Scan do pomiarów czasowo-rozdzielczych oraz spektroskopii modulacji amplitudy/fazy
  • Rapid, Interleaved i Step Scan do pomiarów z wysoką rozdzielczością czasową (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterystyka uporządkowanych okresowo materiałów mikroskopowych - metamateriałów
  • Wysokorozdzielcza spektroskopia gazów z rozdzielczością >0.06 cm-1
  • Oprzyrządowanie do instalacji próżniowych FT-IR beamline
  • Metoda stopped-flow do eksperymentów katalizy enzymatycznej
  • Zewnętrza adaptacja do pomiarów w UHV
  • Spektroelektrochemia FT-IR do badań in-situ powierzchni elektrod i elektrolitów
 

Farmacja

  • Określanie konfiguracji absolutnej cząsteczek (VCD)
  • Charakterystyka stabilności i zawartości lotnej leków przy wykorzystaniu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Różnicowanie form polimorficznych API w zakresie dalekiej podczerwieni

Polimery i chemia

  • Identyfikacja wypełniaczy nieorganicznych w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni
  • Dynamiczne i reooptyczne badania polimerów
  • Oznaczenie związków lotnych i charakterystyka procesów dekompozycji przy użyciu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Monitorowanie i kontrola reakcji (sonda światłowodowa MIR)
  • Identyfikacja nieorganicznych minerałów i pigmentów
 

Analiza powierzchni

  • Wykrywanie i charakterystyka cienkich i monowarstw
  • Analiza powierzchni w połączeniu z modulacją polaryzacji (PM-IRRAS)
 

Inżynieria materiałowa

  • Charakterystyka materiałów optycznych i wysokorefleksyjnych (okna, lustra)
  • Badanie ciemnych materiałów i profili głębokościowych za pomocą spektroskopii fotoakustycznej (PAS)
  • Charakterystyka emisyjności materiałów

 

Półprzewodniki

  • Oznaczanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych
  • Pomiary przepuszczalności w niskich temperaturach i fotoluminescencji (PL) płytkich zanieczyszczeń do kontroli jakości

Specyfikacje

Akcesoria zewnętrzne, źródła i detektory

Spektrometry VERTEX 80/80v wyposażone są w 5 portów wyjściowych oraz 2 porty wejściowe oraz oferują możliwość połączenia ich np. z zewnętrznym laserem i źródłem synchrotronowym. Ponadto, system może zostać rozszerzony o zewnętrzne akcesoria pomiarowe, źródła i detektory. Są to m.in.:

  • PMA 50 moduł polaryzacji do VCD i PM-IRRAS
  • PL II moduł do fotoluminescencji
  • RAM II moduł FT-Raman i mikroskop FT-Raman RamanScope III
  • TGA-FT-IR
  • HYPERION mikroskop FT-IR
  • HYPERION 3000 system obrazowania FT-IR
  • HTS-XT
  • IMAC moduł do makro obrazowania przy użyciu detektora FPA
  • Zewnętrzna komora na próbki XSA, próżniowa lub z przedmuchem
  • Adaptacja do systemów UHV
  • Moduł próżniowy PL/PT/PR
  • Niskotemperaturowe kriostaty helowe lub kriogeniczne bez cieczy
  • Moduł światłowodowy z sondami MIR lub NIR do ciał stałych i cieczy
  • Duże sfery integrujące
  • Urządzenia do automatycznego próbkowania
  • Zewnętrzne źródło FIR Hg
  • Unikalny detektor MIR-FIR o szerokim zasięgu
  • Beamsplitter Solid State na zakres FIR/THz
  • Zewnętrzny adapter emisyjny
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło MIR
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło VIS
  • Zewnętrzna 4-pozycyjna komora próżniowa na detektory (do optyki próżniowej)
  • Adaptacja bolometru na zakres FIR
  • Automatyczny zmieniacz beamsplitterów dla spektrometru VERTEX 80v (BMS-c) (do optyki próżniowej)

Więcej informacji

Materiały dodatkowe

Dowiedz się więcej o naszych produktach i rozwiązaniach, pobierając dostępne materiały.