FT-IR 분광기

Vertex 80/80v

Banner VERTEX 80v FT-IR Research Spectrometer

특징

VERTEX 80/80v FT-IR 분광기

VERTEX 80 및 VERTEX 80v 진공 FT-IR 분광계는 PEAK 스펙트럼 해상도를 제공하는 능동적으로 정렬된 UltraScan™ 간섭계를 기반으로 합니다. 정밀한 선형 공기 베어링 스캐너와 PEAK 품질 광학은 궁극적인 감도와 안정성을 보장합니다. VERTEX 80v는 궁극적인 감도와 안정성을 위해 대기 수분 흡수를 제거할 수 있는 대피광학 벤치입니다. 고해상도, 초고속 급류, 스텝 스캔 또는 UV 스펙트럼 범위 측정과 같은 까다로운 실험을 가능하게 합니다.

VERTEX 80/80v 광학 설계를 통해 PEAK 유연성과 동시에 PEAK 계측기 성능을 제공합니다. 독특한 브루커 옵틱스 DigiTect™ 기술은 외부 신호 장애를 방지하고, PEAK 신호 대 잡음 비율을 보장하며, 계측기 사용자가 쉽고 재현 가능한 검출기 교환을 허용합니다. 두 개의 선택적 외부 검출기 포트는 볼로미터 및/또는 뜨거운 전자 검출기의 액체 를 수용합니다. 외수 냉각 고출력 Hg-arc 소스와 함께, 최근 재발견 된 테라 헤르츠 스펙트럼 범위는 실온 작동 DTGS 검출기로도 액세스 할 수 있습니다.

스펙트럼 범위 확장

VERTEX 80/80v는 선택적으로 광 성분을 장착하여 먼 IR 또는 테라헤르츠에서 스펙트럼 범위를 커버하고, IR 중과 근교를 통해, 눈에 보이는 자외선 스펙트럼 범위까지 장착할 수 있다. 사전 정렬된 광학 부품과 능동적으로 정렬된 UltraScan™ 간섭계를 통해 범위 변경 및 유지 보수가 용이합니다.

BMS-c: 브루커는 VERTEX 80v 진공 분광계에 대한 고정밀 빔스플리터 교환 옵션 BMS-c를 제공합니다.

따라서 진공 조건에서 최대 4가지 유형의 빔스플리터의 원격 제어 자동 교환이 가능해졌습니다. 이제 UV/VIS에서 먼 IR/THz에 이르는 완전한 스펙트럼 범위는 수동 빔스플리터 교환을 위해 분광계 광학 벤치를 배출할 필요 없이 측정할 수 있습니다.

신규: 브루커는 VERTEX 80/80v FT-IR 분광계 시리즈에 대한 새로운 광대역 FAR IR/THz 빔스플리터로 빔스플리터의 사용 가능한 범위를 확장했습니다. 특히 반전도 및 추가 무기 재료의 연구 및 개발을 위해 새로운 FAR IR 고체 상태 빔스플리터는 900cm-1 이상에서 appr까지 스펙트럼 범위를 명목상으로 커버하기 때문에 추가 값을 제공합니다. 한 측정에서 5cm-1을 측정하고 매우 긴 파온 기류 FIR / THz 파장 범위와 중간 IR을 연결합니다.

광학 해상도

VERTEX 80 및 VERTEX 80v 표준 구성은 대부분의 주변 압력 가스 상 연구 및 실온 샘플 측정에 충분한0.2cm-1보다더 나은 스펙트럼 분해능을 제공합니다. 고급 저온 작업의 경우, 예를 들어 하압에서 결정성 반도체 재료 또는 가스 상 측정에 대해-1 0.06cm-1보다 더 나은 피크 해상도를 사용할 수 있습니다. 이것은 상용 벤치 상단 FT-IR 분광계를 사용하여 달성 된 가장 높은 스펙트럼 해상도입니다. 가시 스펙트럼 범위의 고해상도 스펙트럼은 300,000:1의 해결 전력(스펙트럼 해상도∆θ)으로 나눈 파수(파수)를 보여 줍니다.

다양성

혁신적인 광학 설계로 가장 유연하고 확장 가능한 R&D 진공 FT-IR 분광계가 제공됩니다. 대피 광학 벤치와 함께, 중, 근거리 및 먼 IR 지역의 PEAK 감도는 공기 수증기 흡수에 의해 매우 약한 스펙트럼 특징을 마스킹의 두려움없이 얻을 수 있습니다. 뛰어난 결과, 예를 들어 나노 과학 연구의 영역에서 10-3 미만단층까지, VERTEX 80v 진공 FT-IR 분광계로 얻을 수 있다. 유연성에 대한 제한은 거의 없습니다. 오른쪽, 전면 및 왼쪽에 있는 5개의 빔 출구 포트와 광학 벤치의 오른쪽과 후면에 빔 입력 포트 2개를 사용할 수 있습니다. 이를 통해 예를 들어, 후방 입력 포트를 이용한 싱크로트론 광원, 오른쪽 출구 빔의 PMA 50 편광 변조 액세서리, 오른쪽 전방 포트에서 광섬유 커플링, 왼쪽 전방의 볼로미터 검출기, 왼쪽 출구 빔의 HYPERION 시리즈 FT-IR 현미경의 동시 연결이 가능합니다.

VERTEX 80 시리즈는 까다로운 연구 개발 응용 분야에 이상적인 도구입니다.

VERTEX 80/80v에 대해 자세히 알아보려면 오늘 영업 팀에 문의하십시오!


사용되는 기술은 다음 특허 중 하나 이상으로 보호됩니다: US 7034944

응용

VERTEX 80 및 VERTEX 80v 분광기는 VERTEX 시리즈의 고급 연구를 위한 장비입니다. 혁신적인 광학 설계로 인해 가장 강력한 벤치 탑 퍼지 및 진공 분광기가 제공됩니다. UV/VIS 영역(50000cm-1)에서FIR/THz 영역(5cm-1), 최고 스펙트럼-1및 시간적 해상도 및 타의 추종을 불허하는 유연성을 제공합니다. 다목적 VERTEX 80/80v 시스템은 PEAK 기술을 모든 고급 연구 애플리케이션에 적합한 솔루션을 제공합니다.

 

연구 개발

  • 진폭/위상 변조 분광검사를 위한 연속 및 단계 스캔 기술
  • 높은 시간 적 해상도의 실험을위한 신속하고 상호 분리 및 단계 스캔 기술 (단계 스캔 / 빠른 스캔 / 인터리브 TRS)
  • 메타 물질로 알려진 주기적으로 주문된 현미경 물질의 특성화
  • 해상도가 0.06cm-1보다 더 나은 가스 분석을 위한 고해상도 분광법
  • 진공 FT-IR 빔라인 설치를 위한 계측
  • 효소 촉매 실험을 위한 중지된 유동 방법
  • 초고진공 측정 챔버의 외부 적응
  • 전극 표면 및 전해질의 시상 조사를 위한 FT-IR 분광화학
 

제약

  • 분자의 절대 구성의 결정 (VCD)
  • 열분석(TG-FT-IR)을 통해 의약품 제품의 안정성 및 휘발성 함량의 특성화
  • 원적외선 영역에서 활성 제약 성분의 다형성 분화

폴리머 및 화학

  • 원적외선 영역의 폴리머 복합재에서 무기 필러 식별
  • 폴리머의 동적 및 레오 광학 연구
  • 열 분석(TGA-FT-IR)에 의한 휘발성 화합물 의 측정 및 분해 공정의 특성화
  • 반응 모니터링 및 반응 제어(MIR 섬유 프로브)
  • 무기 미네랄 및 안료 식별
 

표면 분석

  • 얇고 단층의 검출 및 특성화
  • 편광 변조(PM-IRRAS)와 결합된 표면 분석
 

재료 과학

  • 광학 및 고반사 재료의 특성화(창문, 거울)
  • 사진 음향 분광기 (PAS)에 의해 어두운 재료와 깊이 프로파일링의 조사
  • 재료의 발광 행동의 특성화

반도체

  • 실리콘 웨이퍼의 산소 및 탄소 함량 측정
  • 품질 관리를 위한 얕은 불순물의 저온 투과 및 광발광(PL) 측정

사양

외부 액세서리, 소스 및 검출기

VERTEX 80/80v 분광기에는 5개의 빔 출구 포트와 2개의 빔 입력 포트가 장착되어 있으며, 예를 들어 외부 레이저 및 싱크로트론 광원에 연결할 수 있는 가능성을 제공합니다. 또한 외부 측정 액세서리, 소스 및 검출기로 분광계 광학장치를 쉽게 업그레이드할 수 있습니다. 여기에는 다음이 포함됩니다.

  • VCD 및 PM-IRRAS용 PMA 50 편광 변조 액세서리
  • PL II 광발광 모듈
  • RAM II FT-라만 모듈 과 라만 스코프 III FT-라만 현미경
  • TGA-FT-IR 커플링
  • 하이라이온 시리즈 FT-IR 현미경
  • 하이라이온 3000 FT-IR 이미징 시스템
  • HTS-XT 높은 처리량 스크리닝 eXTension
  • IMAC 초점 평면 배열 매크로 이미징 액세서리
  • 외부 샘플 컴파트먼트 XSA, 대피 또는 제거 가능
  • 외부 진공 단단한 UHV 챔버 적응
  • 진공 PL/PT/PR 측정 장치
  • 저온 액체 그 또는 극저온 액체 무료 극저온
  • 고체 및 액체용 MIR 또는 NIR 광섬유 프로브가 있는 광섬유 커플링 유닛
  • 큰 통합 구
  • 자동 샘플러 장치
  • 외부 FIR Hg 소스
  • 독특한 넓은 범위의 MIR-FIR 검출기
  • 솔리드 스테이트 먼 IR/THz 빔스플리터
  • 외부 배출 어댑터
  • 외부 고성능 MIR 소스
  • 외부 고성능 VIS 소스
  • 외부 진공 4위치 검출기 챔버(진공 광학용)
  • FIR 범위의 검출을 위한 볼로미터 적응
  • 자동 빔스플리터 교환 장치(BMS-c) (진공 광학용)

추가 정보

관련 자료

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