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VERTEX 80/80v - Espectrómetros FT-IR

 

Los espectrómetros de vacío FT-IR modelos VERTEX 80 y VERTEX 80v se basan en el interferómetro UltraScan™ que ofrece una resolución espectral PEAK. El preciso escáner lineal de gas y la óptica de calidad PEAK garantizan la máxima sensibilidad y estabilidad. El VERTEX 80v es un banco óptico de vacío que puede eliminar absorción de humedad atmosférica para lograr la máxima sensibilidad y estabilidad, permitiendo experimentos exigentes como escaneos muy rápidos y de alta resolución, escaneos por pasos o mediciones en el rango espectral de los rayos UV.

El diseño óptico VERTEX 80/80v ofrece flexibilidad PEAK y rendimiento del instrumento PEAK al mismo tiempo. La exclusiva tecnología DigiTect™ de Bruker Optics evita las interferencias de señales externas, garantiza la mejor relación señal/ruido PEAK y permite una sustitución fácil y reproducible del detector por parte del usuario del instrumento. Hay disponibles dos puertos opcionales para conectar bolómetros enfriados por líquido y/u otros detectores de electrones calientes. En combinación con la fuente Hg externa de alto rendimiento refrigerada por agua, el rango espectral de terahercios es incluso accesible con un detector DTGS operado a temperatura ambiente.

Ampliación de rango espectral MÁXIMO

El VERTEX 80/80v se puede equipar opcionalmente con componentes ópticos para cubrir el rango espectral desde la radiación infrarroja lejana, o de terahertz, a través de la radiación infrarroja media o cercana y visible, y hasta el rango espectral ultravioleta. Con sus componentes ópticos prealineados y el interferómetro activamente alineado UltraScan™, el cambio de rango y el mantenimiento resultan muy sencillos.

NOVEDAD: Bruker Optics ha introducido una opción innovadora y exclusiva para el cambio de divisor de haz BMS-c para el espectrómetro de vacío VERTEX 80v, que hace posible el cambio automático con control remoto de hasta cuatro tipos de haz de divisor distintos en condiciones de vacío. Ahora, el rango espectral completo desde UV/VIS hasta radiación infrarroja lejana/THz se puede medir sin necesidad de descargar el banco de óptica del espectrómetro para el cambio manual del divisor de haz.

Publicación en línea sobre el cambiador BMS en "Espectroscopia vibracional".

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NUEVO: Bruker ha ampliado la gama de divisores de haz disponibles con un nuevo divisor de haz IR/THz de banda ancha para los espectrómetros FT-IR de la serie VERTEX 80/80v. En particular, para la investigación y el desarrollo de semiconductores y materiales inorgánicos adicionales, el nuevo divisor de haz de estado sólido ofrece ventajas adicionales, ya que cubre nominalmente el rango espectral de más de 900 cm-1 hasta aprox. 5 cm-1 en una sola medición y combina el infrarrojo medio con las longitudes de onda más largas FIR/THz.

Resolución óptica MÁXIMA

La configuración estándar del VERTEX 80 y del VERTEX 80v proporciona una resolución espectral apodizada superior a 0,2 cm-1, que es suficiente para la mayoría de estudios de fases gaseosas de presión ambiente y mediciones de muestras a temperatura ambiental. En el caso de trabajos avanzados a baja temperatura, sobre, por ejemplo, de materiales semiconductores cristalinos o mediciones de fases gaseosas a baja presión, se dispone de una resolución MÁXIMA superior a 0,06 cm-1. Se trata de la resolución espectral más elevada que utiliza un espectrómetro FT-IR de banco comercial superior. El espectro de resolución elevada en el rango espectral visible demuestra un poder de resolución (número de ondas ν dividido por resolución espectral ∆ν) superior a 300,000:1.

Versatilidad MÁXIMA

Se trata del espectrómetro de investigación FT-IR de vacío más flexible y expandible disponible en el mercado gracias a su diseño de óptica innovador. Con el banco de óptica evacuado, se obtiene una sensibilidad MÁXIMA en las regiones de resolución infrarroja media, cercana y lejana sin miedo de enmascaramiento de características espectrales muy débiles debido a absorciones de aire de vapor de agua. Con el espectrómetro FT-IR de vacío VERTEX 80v es posible obtener unos resultados excelentes, por ejemplo en el área de investigación nanocientífica, inferiores a 10-3 monocapas. Virtualmente, no existen limitaciones en materia de flexibilidad. Hay disponibles cinco puertos de salida de haz en la parte derecha, delantera e izquierda y dos puertos de entrada de haz en la parte derecha y posterior del banco de óptica, que posibilitan la conexión simultánea de, por ejemplo, una fuente de luz de sincrotrón que utiliza el puerto de entrada de la parte posterior, el accesorio de modulación de la polarización PMA 50 en el haz de salida de la parte derecha, un acoplamiento de fibra óptica en el puerto de la parte delantera derecha, un detector de bolómetro en la parte delantera izquierda y el microscopio FT-IR de la serie HYPERION en el haz de salida en la parte izquierda.

La serie VERTEX 80 incluye los instrumentos ideales para las aplicaciones de investigación y desarrollo más exigentes.

¡Contacte con nuestro equipo de ventas hoy para saber más sobre el VERTEX 80/80v!

Las tecnologías empleadas están protegidas por una o más de las patentes siguientes: US 7034944;  US 5923422; DE 19704598

 

Accesorios, fuentes y detectores externos

Los espectrómetros VERTEX 80/80v están equipados con cinco salidas de haz y dos entradas de haz y ofrecen la posibilidad de conectarlos a láseres externos o a fuentes de radiación de sincrotrón, por ejemplo. Además, el espectrómetro se puede ampliar fácilmente con accesorios, fuentes y detectores externos. Esto incluye las siguientes opciones:

  • PMA 50 accesorio de modulación de polarización para VCD y PM-IRRAS Módulo de fotoluminiscencia
  • PL II Módulo FT-Raman
  • RAM II y microscopio FT-Raman RamanScope III Acoplamiento
  • TGA-FT-IR Microscopio FT-IR serie
  • HYPERION Sistema de imágenes FT-IR
  • HYPERION 3000 Módulo de análisis de alto rendimiento
  • HTS-XT Accesorio de imagenología para matriz de plano focal de alto rendimiento
  • IMAC Compartimento de muestras externo XSA, de vacío o purga
  • Adaptación estanca al vacío de una cámara UHV externa
  • Unidad de medición de vacío PL/PT/PR
  • Líquido de baja temperatura
  • He o criostatos libres de líquido criogénico
  • Unidad para acoplar una sonda de fibra óptica MIR o NIR para sólidos y líquidos
  • Esferas integradoras grandes
  • Muestreador automático
  • Lámpara externa FIR-Hg
  • Unique wide range MIR-FIR detector
  • Divisor de haz FIR/THz de estado sólido
  • Adaptador de emisión externa
  • Fuente MIR externa de alto rendimiento
  • Fuente VIS externa de alto rendimiento
  • Detector de vacío externo con cámara de 4 posiciones (para espectrómetro de vacío)
  • Adaptación de un bolómetro para la detección en el rango FIR
  • Cambiador automático de divisores de acero (BMS-c) (para espectrómetro de vacío)

Los espectrómetros VERTEX 80 y VERTEX 80v son instrumentos de investigación de gama alta de la serie VERTEX. El innovador diseño de la óptica los convierte en los espectrómetros con tecnología de vacío o purga más potentes disponibles en el mercado. Ofrecen el mayor rango espectral disponible, desde UV/VIS (50000 cm-1) hasta FIR/THz (5 cm-1), la mayor resolución espectral y temporal y un inigualable grado de flexibilidad.

Los versátiles espectrómetros VERTEX 80/80v con su tecnología PEAK ofrecen la solución adecuada para todas las aplicaciones de investigación de vanguardia.

Investigación y Desarrollo

  • Tecnología de barrido continuo y por pasos con modulación de amplitud y fase
  • Tecnología de escaneo rápido, intercalado y por pasos para experimentos con alta resolución temporal (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Caracterización de materiales microscópicos ordenados periódicamente, conocidos como metamateriales
  • Espectroscopia de alta resolución para el análisis de gases con resoluciones superiores a 0,06 cm-1
  • Espectroscopia FT-IR de vacío en instalaciones de sincrotrón
  • Métodos de parada de flujo para la investigación de la catálisis enzimática
  • Adaptación externa de las cámaras de medición de vacío ultra-alto Espectroelectroquímica
  • FT-IR para la caracterización in situ de superficies de electrodos y electrolitos

Farmacéutica

  • Determinación de la configuración absoluta de moléculas (VCD)
  • Determinación de estabilidad y del contenido volátil de productos farmacéuticos mediante termogravimetría (TGA-FTIR)
  • Diferenciación de polimorfos de ingredientes farmacéuticos activos en la región del infrarrojo lejano

Polímeros y química

  • Identificación de cargas inorgánicas en compuestos poliméricos en el rango de infrarrojos lejanos
  • Estudios dinámicos y reópticos de polímeros
  • Determinación de componentes volátiles y caracterización de procesos de descomposición mediante termogravimetría (TGA-FTIR)
  • Control y surpervisión de reacciones (sonda de fibra MIR)
  • Identificación de minerales y pigmentos inorgánicos

Análisis de superficies

  • Detección y caracterización de capas finas y monocapas
  • Análisis de superficie utilizando la técnica de modulación de polarización (PM-IRRAS)

Ciencia de materiales

  • Caracterización de materiales ópticos y altamente reflectantes (ventanas, espejos)
  • Investigación de materiales oscuros y perfiles de profundidad por espectroscopia fotoacústica (PAS)
  • Determinación de la emisividad de los materiales

Semiconductores

  • Determinación del contenido de oxígeno y carbono en obleas de silicio
  • Transmitancia a baja temperatura y mediciones de fotoluminiscencia (PL) de impurezas superficiales en el control de calidad