M4 TORNADO, 2D µ-XRF, Ultimate Speed and Accuracy

Análisis de distribución de componentes electrónicos

Como método analítico sensible y no destructivo, Micro-XRF es perfecto para examinar componentes electrónicos. El M4 TORNADO proporciona información importante sobre la composición y se puede usar para:

  • la determinación de la distribución de varios elementos
  • el control de elementos RoHS y el cumplimiento para cada componente
  • la cuantificación de áreas específicas de la muestra para la determinación del grososr de revestimientos y el análisis de la composición de componentes especiales
  • el examen no destructivo de circuitos integrados a través de la medición de radiación fluorescente altamente energética

La opción HyperMap del M4 TORNADO ofrece la posibilidad de sumar espectros obtenidos de grandes áreas definidas de forma arbitraria, proporcionando una estadística excelente para la cuantificación.

Descargue el informe de laboratorio completo XRF 447 (PDF, inglés)