M4 TORNADO, 2D µ-XRF, Ultimate Speed and Accuracy
Dual Detector

Además de aumentar la velocidad de adquisición de datos, un segundo detector ofrece otras ventajas adicionales. Montado en una posición diferente, permite identificar fácilmente picos de difracción que siempre aparecen al analizar materiales cristalinos. Un segundo detector también reduce efectos sombra, por ejemplo, al mapear muestras de superficie irregular.

M4_diffraction_peaks.jpg