This is the key! How to get better result with high sensitivity XRF

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ウェビナー開催日: 4月 20th 2017

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Overview

蛍光X線分析は測定試料を非破壊で元素分析することが可能な為、汎用的な機器分析装置として広く使われています。簡易分析、スクリーニング、工程管理といった様々な用途に使われており、なくてはならない分析ツールの一つです。このWebinarでは3点の内容をお伝えします。1点目は蛍光X線分析法の基礎的な原理、測定に影響する要素についてご紹介します。例えば各元素の検出のしやすさは、測定対象としている元素の蛍光X線エネルギーに依存して異なります。また、試料調製によっても得られるデータに違いが表れます。基礎内容をご案内した上で、2点目は据置型のWDX、卓上型のEDXの装置をご紹介し、3点目に蛍光X線分析装置の計算ソフトがどのようなプロセスで分析値を出力するか、どのようなソフトの設定がデータに反映されるのかいくつかの事例を示しながらご紹介します。

This webinar is held in Japanese.