DIFFRAC.EVA
Évaluation générale des analyses
Données courantes et recherche de pointe
DIFFRAC.EVA est un logiciel d'analyse par diffraction des rayons X (XRD) polyvalent permettant une évaluation rapide et fiable des données de diffraction unidimensionnelles et bidimensionnelles.
Il prend en charge tous les détecteurs et types de balayage Bruker et couvre l'ensemble du flux de travail, du traitement et de la visualisation des données à l'analyse des pics, l'identification des phases, la quantification, l'évaluation de la cristallinité et la détermination de la taille des cristallites. L'ajustement avancé des profils, l'identification des phases basée sur des bases de données et l'analyse intégrée de la fonction de distribution des paires (PDF) permettent une interprétation fiable des diagrammes de diffraction, qu'ils soient simples ou complexes.
Conçu pour les laboratoires XRD modernes, DIFFRAC.EVA traite efficacement les grands ensembles de données provenant de détecteurs rapides, d'expériences in situ et operando, de criblage à haut débit et de mesures à résolution spatiale. Les outils de chimiométrie intégrés, l'automatisation du flux de travail et l'intégration transparente avec l'infrastructure de base de données DIFFRAC.SUITE permettent une évaluation reproductible, même dans des environnements réglementés tels que le contrôle qualité pharmaceutique selon la norme 21 CFR Part 11. Des graphiques prêts à être publiés et des rapports flexibles complètent une solution puissante et complète, tant pour les analyses de routine que pour la recherche avancée.
Présentation de DIFFRAC.EVA 8 – De l'identification des phases à l'analyse automatisée
DIFFRAC.EVA 8 transforme EVA, qui était jusqu’à présent une puissante application de recherche et de correspondance, en un environnement d’évaluation des données XRD itératif, automatisé et à haut débit. Cette version vise à permettre une analyse plus approfondie des diagrammes de diffraction complexes, à améliorer la productivité pour les grands ensembles de données et à renforcer l’intégration au sein de l’écosystème DIFFRAC.SUITE.
La recherche de résidus par ajustement de profil (PFRS) introduit une boucle itérative facultative entre l'identification des phases et l'ajustement de profil. Après une première étape de recherche et de correspondance, les phases identifiées sont ajustées, les zones de résidus inexpliquées sont analysées, et des phases supplémentaires sont automatiquement recherchées et ajoutées. La différenciation visuelle des phases nouvellement identifiées permet une résolution transparente et efficace des motifs multiphases complexes.
Les histogrammes de paires d'atomes relient les informations issues des bases de données structurales aux données expérimentales de densité de fonction de probabilité (PDF), facilitant ainsi l'interprétation de l'ordre à courte portée. Les histogrammes monoatomiques et diatomiques permettent de mieux comprendre les effets de la structure locale, en particulier pour les matériaux désordonnés et nanocristallins.
Une nouvelle vue 3D pour les listes de balayage fournit des cartes d'intensité pseudo-3D intuitives, permettant d'identifier rapidement les tendances, les transitions et les anomalies dans les expériences hors conditions ambiantes, in situ ou résolues en temps.
Pourquoi passer à DIFFRAC.EVA 8 ?
DIFFRAC.EVA 8 est conçu pour les utilisateurs qui font déjà confiance à EVA et souhaitent travailler plus rapidement, de manière plus cohérente et avec davantage d'assurance, en particulier lorsqu'ils traitent des échantillons complexes ou des ensembles de données volumineux.
Par rapport aux versions précédentes, EVA 8 réduit les essais manuels par itération grâce à l'identification itérative des phases avec Profile Fit Residual Search (PFRS), permet un affinement cohérent à travers les listes de balayage grâce à l'ajustement de profils par lots, et renforce l'automatisation des flux de travail pour une évaluation sans surveillance et à haut débit. Une interprétation améliorée des PDF et des outils de visualisation avancés offrent une meilleure compréhension de la structure locale et des tendances des données.
Que ce soit pour le contrôle qualité de routine, le développement d'applications ou la recherche avancée, DIFFRAC.EVA 8 offre une productivité accrue, une fiabilité des résultats améliorée et une intégration transparente dans l'ensemble de la suite DIFFRAC.SUITE, de la mesure à l'analyse quantitative avancée.
Aperçu des principales fonctionnalités de DIFFRAC.EVA
Réduction, visualisation et manipulation des données
DIFFRAC.EVA permet un traitement rapide et une visualisation des données de diffraction des rayons X (XRD) en une et deux dimensions. Les images brutes du détecteur sont efficacement converties en diagrammes de diffraction 1D classiques, fournissant ainsi la base nécessaire à une analyse en aval fiable. Du traitement courant des signaux à l'évaluation détaillée des pics et du diagramme complet, EVA permet d'obtenir rapidement et en toute confiance une première analyse des résultats de mesure.
Visualisation des mégadonnées et extraction de caractéristiques
DIFFRAC.EVA permet une visualisation intuitive et l'extraction de caractéristiques à partir de vastes ensembles de données XRD grâce à une analyse par grappes intégrée et à des outils statistiques avancés. S'appuyant sur la technologie éprouvée POLYSNAP, EVA aide à identifier les similitudes, les tendances, les mélanges et les valeurs aberrantes dans les expériences à haut débit, in situ et hors conditions ambiantes. Des graphiques 3D et multidimensionnels avancés mettent en évidence des relations difficiles à détecter par une inspection manuelle.
Ensembles de données volumineux et informations complémentaires
DIFFRAC.EVA est conçu pour traiter efficacement de grandes séries de mesures à l'aide du lecteur multi-balayage, ce qui permet d'obtenir rapidement une vue d'ensemble et de sélectionner les balayages pertinents. Des informations complémentaires telles que la température, la position, l'humidité, l'intensité des pics ou la teneur en phase amorphe peuvent être visualisées parallèlement aux données de diffraction. Cela permet d'accélérer l'identification des transformations de phase, ainsi que des processus de formation ou de décomposition.
Bragg2D – Conseils pour la préparation des échantillons
La visualisation Bragg2D dans DIFFRAC.EVA permet une évaluation rapide de la morphologie de l'échantillon, des contraintes et des effets liés à l'orientation préférentielle. La détection asymétrique haute résolution permet une inspection intuitive des effets liés à la taille des grains, des taches et des artefacts d'alignement. La sélection interactive des balayages permet de passer rapidement à une analyse détaillée.
Identification de phase, ajustement de profil et quantification
DIFFRAC.EVA est une solution éprouvée et largement reconnue pour l'identification fiable des phases en diffraction des rayons X. Ses fonctionnalités avancées de recherche et de correspondance permettent d'identifier des phases connues et inconnues, même dans des échantillons multiphasiques complexes, tandis que la recherche simultanée dans les bases de données et la prise en charge des stratégies d'acquisition modernes améliorent la détection des phases mineures et à l'état de traces.
Pour valider et affiner les attributions de phases, DIFFRAC.EVA fournit de puissants outils interactifs et automatisés d'ajustement de profils. La modélisation avancée du bruit de fond, l'affinement de la forme des pics et l'inspection des résidus permettent aux utilisateurs de résoudre les chevauchements de pics et d'améliorer systématiquement la description du diagramme de diffraction mesuré. Des workflows itératifs, notamment la recherche de résidus d'ajustement de profil (PFRS), utilisent les résidus inexpliqués pour faciliter la découverte et l'affinement des phases.
S'appuyant sur le modèle de phase validé et la qualité d'ajustement améliorée, DIFFRAC.EVA prend en charge une analyse quantitative fiable des phases. La quantification utilisant les rapports d'intensité de référence (RIR) et les informations complètes sur les profils bénéficie directement de l'amélioration de l'identification et de l'ajustement des profils, ce qui se traduit par une précision et une robustesse accrues, sans modifier la méthodologie quantitative sous-jacente.
Traitement intégré de la fonction de distribution par paires (PDF)
DIFFRAC.EVA permet de générer et d'évaluer de manière optimisée les fonctions de distribution des paires (PDF) expérimentales directement à partir des données brutes de diffraction. La correction automatisée du bruit de fond, la normalisation et la transformation de Fourier offrent un accès rapide aux informations sur la structure locale des matériaux amorphes, nanocristallins et désordonnés. La prise en charge intégrée des bases de données et les outils d'analyse en aval simplifient l'interprétation et facilitent l'évaluation quantitative.
Enregistrement et automatisation des flux de travail
Les étapes d'évaluation dans DIFFRAC.EVA peuvent être enregistrées et réutilisées sous forme de flux de travail afin de garantir la reproductibilité et de réduire la charge de travail manuelle. Grâce à une intégration étroite avec DIFFRAC.BBE et le logiciel de mesure, les flux de travail s'inscrivent dans le concept « Start Jobs and Results Manager » : les utilisateurs peuvent interroger la base de données de l'instrument, sélectionner les balayages correspondants et appliquer automatiquement des flux de travail prédéfinis aux ensembles de données obtenus. Les flux de travail enregistrés peuvent être exécutés de manière interactive ou en mode batch à l'aide de l'Instant Runner, ce qui permet de prendre en charge des procédures d'évaluation standardisées, le criblage à haut débit et les environnements de contrôle qualité.
DIFFRAC.EVA – Principaux avantages
- Évaluation XRD complète dans un environnement unique. Couvre le traitement des données, la visualisation, l'identification des phases, la quantification, l'ajustement de profils et l'analyse avancée à l'aide d'algorithmes éprouvés et reconnus par l'industrie.
- Haute productivité sur du matériel moderne. Optimisé pour les architectures informatiques actuelles avec prise en charge native 64 bits, multithreading et traitement parallèle afin de gérer efficacement les grands ensembles de données et les évaluations complexes.
- Validation visuelle immédiate et interaction sécurisée. L'aperçu en temps réel de toutes les étapes d'évaluation, combiné à des fonctions illimitées d'annulation et de rétablissement, permet une prise de décision en toute confiance et une exploration sans risque des stratégies d'analyse.
- Interface flexible et adaptative. L'interface graphique hautement personnalisable s'adapte à différentes configurations matérielles, flux de travail et préférences utilisateur, garantissant un fonctionnement efficace dans tous les modules EVA.
- Intégration transparente et prise en main rapide. L'intégration étroite avec DIFFRAC.SUITE Measurement and Results Manager prend en charge des flux de travail cohérents, de l'acquisition des données à la création de rapports, tandis que des tutoriels guidés permettent une prise en main rapide et fiable.
Ensemble, ces avantages font de DIFFRAC.EVA une plateforme d'évaluation XRD fiable et évolutive pour le contrôle qualité de routine, le développement d'applications et la recherche avancée.
Applications – Quel est votre défi analytique ?
Des capacités d'analyse prêtes à l'emploi
DIFFRAC.EVA offre un ensemble complet et scientifiquement rigoureux de méthodes d'évaluation par diffraction des rayons X, immédiatement disponibles sur tous les systèmes XRD de Bruker. Conçu pour constituer une base solide et fiable tant pour les travaux de laboratoire professionnels que pour l'enseignement universitaire, ce logiciel prend en charge les flux de travail XRD établis ainsi que des extensions modernes telles que l'identification itérative des phases en diffraction sur poudre et l'analyse de la fonction de distribution des paires (PDF).
Ensemble, ces fonctionnalités prêtes à l'emploi font de DIFFRAC.EVA une base solide et fiable pour l'analyse des données de diffraction des rayons X dans les laboratoires industriels, la recherche universitaire et les établissements d'enseignement.
Typical XRD applications supported by DIFFRAC.EVA
Suivi des pics et des phases
Suivi de la position, de l'intensité, de la largeur et de la forme des pics à des fins de contrôle qualité, d'études sur l'évolution des phases et de suivi des processus sur l'ensemble des séries de mesures. EVA prend en charge à la fois les flux de travail d'évaluation interactifs et automatisés, et s'intègre parfaitement à la base de données de mesures DIFFRAC.SUITE pour l'analyse par séries.
Identification des phases et analyse quantitative
Recherche et comparaison fiables dans des bases de données de référence inorganiques et organiques exhaustives, associées à une quantification semi-quantitative et basée sur des étalons internes à l'aide de rapports d'intensité de référence (RIR) et d'informations complètes sur les profils. Des workflows de raffinement itératifs, incluant la recherche des résidus d'ajustement de profil (PFRS), permettent une meilleure identification des phases mineures et chevauchantes et offrent une transition naturelle vers un raffinement quantitatif avancé avec DIFFRAC.TOPAS lorsque cela est nécessaire.
Crystallinité, teneur en amorphe et analyse de la structure locale
Évaluation des fractions cristallines et amorphes à partir d'une séparation robuste des lignes de base et des pics, complétée par une analyse de la fonction de distribution par paires (PDF) afin d'étudier l'ordre à courte portée dans les matériaux nanocristallins, désordonnés ou amorphes. EVA prend en charge l'exportation des données PDF pour une analyse quantitative approfondie dans DIFFRAC.TOPAS.
Taille des cristallites et paramètres cristallographiques
Analyse de l'élargissement des pics et affinement des paramètres liés à la phase afin de faciliter la détermination de la taille des cristallites et les études comparatives des propriétés structurelles, tout en tenant compte des effets liés à l'instrument et à l'échantillon. Ces analyses fournissent des informations essentielles sur les propriétés de phase au sein de l'EVA et constituent une base cohérente pour des processus d'affinement structurel approfondis.
Analyse par grappes et comparaison par balayage
Analyse de similarité, classification de motifs et comparaison par balayage basée sur la corrélation pour les grands ensembles de données, permettant le regroupement, l'analyse des tendances, l'identification de matériaux récurrents et la comparaison d'échantillons non représentés dans les bases de données de référence. Ces outils facilitent les études à haut débit et constituent la base de pipelines d'évaluation automatisés lorsqu'ils sont associés à DIFFRAC.BBE.
Courbes de balancement et analyse d'orientation
Évaluation de monocristaux, de films minces et d'échantillons texturés à partir de mesures dépendantes de l'orientation et de données de détecteurs 2D. EVA permet une visualisation rapide et la sélection de balayages en vue d'une inspection plus détaillée ou d'une analyse en aval.
DIFFRAC.EVA Specifications
| Version | La version actuelle du logiciel est DIFFRAC.EVA V8, DIFFRAC.Part 11 V8 | |
Compatibilité avec les bases de données | Version 8.8 et les deux versions antérieures compatibles en lecture-écriture | |
Conformité | cGxP/21CFR Part 11 |
Ressources DIFFRAC.EVA
Flyers et articles et feuilles de produits et livres blancs
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Mise à jour d´entretien gratuite
La mise à jour gratuite de DIFFRAC.EVA renouvelle votre version d´EVA à la version la plus récente. Quel que soit votre niveau de licence EVA, vous pouvez toujours télécharger gratuitement la dernière mise à jour à partir de www.brukersupport.com!
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Bugfixes
En gardant votre DIFFRAC. EVA à jour, vous bénéficierez de tous les corrections de bugs faites pour la version actuelle mais aussi pour toutes les versions précédemment publiées, quel que soit votre niveau de licence. Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA sont cumulatives et peuvent donc être appliquées à n’importe quelle version précédente.
Qu’est-ce que les mises à niveau ?
Les mises à jour d´entretien de DIFFRAC.EVA ne comprennent pas les nouvelles fonctionnalités. Si vous souhaitez bénéficier des fonctionnalités introduites dans les nouvelles versions majeures, vous devez acheter la dernière version de DIFFRAC.EVA.