NanoWizard 4 XP NanoScience
NanoWizard® 4 XP NanoScience
Le microscope à force atomique NanoWizard® 4 XP NanoScience offre une résolution atomique ainsi qu'une large plage de balayage de 100 µm, le tout dans un seul système. Il permet un balayage rapide avec des taux allant jusqu'à 150 lignes/seconde et une intégration directe avec des techniques optiques avancées. Une large sélection de modes et d'accessoires pour le contrôle de l'environnement, la cartographie des propriétés nanomécaniques, électriques, magnétiques ou thermiques, en fait le système le plus flexible actuellement disponible sur le marché.
La plus grande flexibilité combinée à une performance extrême
Le NanoWizard 4 XP NanoScience est équipé d'une série de nouvelles fonctionnalités, telles que :
- PeakForce Tapping® pour faciliter l'imagerie
- Option de balayage rapide : jusqu'à 150 lignes/seconde
- Technologie NestedScanner pour l'imagerie à grande vitesse de structures de surface jusqu'à 16,5 µm avec une résolution et une stabilité exceptionnelles.
- Nouvelle fonctionnalité de mise en mosaïque pour la cartographie automatisée de grandes surfaces d'échantillons.
- Logiciel V7 avec une nouvelle interface utilisateur révolutionnaire basée sur le flux de travail.
- Logiciel DirectOverlay™ 2 pour une intégration et une corrélation des données parfaites avec des plateformes de microscopie à fluorescence avancées.
- Contrôleur Vortis™ 2 pour un traitement du signal à grande vitesse et des niveaux de bruit les plus bas.
PeakForce Tapping offre un contrôle de la force supérieur et une installation simple, quel que soit l'échantillon ou l'environnement. Aucune connaissance spécialisée ou réglage du levier n'est nécessaire.
Il permet un contrôle précis des interactions entre la sonde et l'échantillon et minimise les forces d'imagerie, protégeant ainsi votre pointe et garantissant une imagerie haute résolution constante et à long terme.
Analyse automatisée de grandes surfaces d'échantillons grâce à la nouvelle fonctionnalité de mise en mosaïque.
DirectOverlay 2 permet une navigation instantanée, avec une sélection directe des positions de mesure n'importe où dans le champ du scanner. La platine de précision motorisée et l'HybridStage™ libèrent les expériences des contraintes latérales de la gamme piézo AFM, et permettent un déplacement motorisé direct vers les positions sélectionnées.
La nouvelle fonction DirectTiling crée automatiquement un large aperçu optique pour accélérer ce processus. Multiscan permet d'empiler des images à haute résolution pour obtenir une vue d'ensemble de l'échantillon. Les séquences de mesure répétitives ou compliquées peuvent être automatisées grâce aux macros ExperimentPlanner™.
Les images montrent le motif de surface estampé en PDMS, échantillon fourni par Dr. Claudio Canale, Université de Gênes, Italie. [1] Image optique du motif de référence. Quatre régions carrées sont marquées d'un motif à coins concentriques, les coins intérieurs forment un carré de 50 microns avec des motifs de test imprimés au centre, mais non visibles dans l'optique. Importées dans le logiciel SPM avec DirectOverlay, ces images permettent de naviguer d'un seul clic entre des positions de référence séparées par plusieurs fois la portée piézoélectrique. Images QI Advanced de deux de ces motifs de référence (voir flèches), topographie [2] + [4] et images d'adhérence [3]+ [5].
Cartographie améliorée des propriétés des matériaux
La caractérisation des propriétés électriques, électromécaniques ou magnétiques des échantillons a toujours été une tâche difficile, en particulier sur des échantillons faiblement attachés, fragiles ou mous. Les capacités du mode QI™-Advanced de JPK rendent cette tâche facile et directe. Le système NanoWizard 4 XP NanoScience est assisté par une vaste palette de modes et d'accessoires, chacun étant conçu pour une manipulation facile et pour répondre aux besoins individuels des chercheurs. De nombreuses expériences portant sur les propriétés des matériaux, y compris les propriétés électriques, bénéficient du travail effectué dans une cellule fermée pour réaliser des mesures sous une atmosphère contrôlée de gaz inerte.
Caractérisation des propriétés des matériaux
- Propriétés mécaniques (élasticité, rigidité, adhésion, déformation)
- Propriétés électriques avec la microscopie à force électrique, l'AFM conductive, l'AFM à sonde Kelvin (KPM), la microscopie à effet tunnel (STM).
- Propriétés magnétiques avec la MFM
- Propriétés électro-optiques avec l'AFM photoconducteur (pc-AFM)
- Propriétés thermiques locales par AFM thermique à balayage (SThM)
AFM In-Situ avec application de charges externes pour modifier les propriétés de l'échantillon
- Microscopie à réponse piézoélectrique à haute tension (PFM)
- Observer des échantillons sous charge externe avec le StretchingStage
- Appliquer des champs magnétiques externes
- Électrochimie et électrochimie à balayage (SECM)
Options de contrôle de l'environnement de l'échantillon
- Chauffage de l'échantillon, de la température ambiante à 300°C
- Refroidissement de l'échantillon, de la température ambiante à - 35°C
- Cryo-AFM jusqu'à - 150°C avec le CryoStage
- Humidité définie de l'échantillon
- Parfait pour les expériences sur les fluides, y compris les fluides agressifs.
- Expériences avec un flux de gaz contrôlé
- Expériences dans des environnements exigeants dans une boîte à gants
Fonctionnalités Principales
- Option de balayage rapide pour le suivi des processus dynamiques, avec jusqu'à 150 lignes/seconde
- Maintenant avec le PeakForce Tapping exclusif de Bruker en standard
- Grand champ de balayage de 100 × 100 × 15 µm3 et résolution de réseau atomique sur les microscopes inversés.
- Nouvelle interface utilisateur basée sur le flux de travail pour l'ergonomie et la facilité d'utilisation.
- Nouvelle fonctionnalité de mise en mosaïque pour la cartographie automatisée de grandes zones d'échantillons avec l'HybridStage.
- Nouveau contrôleur Vortis 2 avec des DAC à haut débit et à faible bruit ainsi qu'une technologie de pointe pour la lecture des capteurs de position.
- Flexibilité et évolutivité maximales grâce à une large gamme de modes et d'accessoires.
Galerie de Données NanoWizard 4 XP NanoScience
Les microscopes à force atomique Bio (BioAFM) de Bruker permettent aux chercheurs en sciences de la vie et en biophysique d'approfondir leurs recherches dans les domaines de la mécanique et de l'adhésion cellulaire, de la mécanobiologie, des interactions cellule-cellule et cellule-surface, de la dynamique cellulaire et de la morphologie cellulaire. Nous avons rassemblé une galerie d'images démontrant quelques-unes de ces applications.
Modes d'Opération
Modes Opératoires Standard
Modes d'imagerie
- Désormais avec PeakForce Tapping
- Mode contact avec microscopie à force latérale (LFM)
- Mode Tapping™ avec PhaseImaging™
Mesures de force
- Spectroscopie statique et dynamique
- Cartographie de force avancée
Modes optionnels
- Option de balayage rapide avec jusqu'à 150 lignes/seconde
- Mode Fast QI Advanced pour des données quantitatives, parfait pour les échantillons mous.
- Propriétés mécaniques telles que l'adhérence, l'élasticité, la rigidité et la déformation.
- Conductivité et cartographie de la distribution des charges
- Imagerie du point de contact (CPI) avec force nulle
- Imagerie de reconnaissance moléculaire pour la cartographie des sites de liaison
- Modes AC avancés tels que FM et PM avec contrôle de la qualité et contrôle actif du gain.
- Contrôle du gain
- Imagerie des harmoniques supérieures
- Microscopie à sonde Kelvin (KPFM) et SCM MFM et EFM (voir aussi le mode QI)
- AFM conductif (C-AFM, voir aussi le mode QI)
- STM
- Modes de spectroscopie électrique
- Microscopie à réponse piézoélectrique pour les hautes tensions (HV-PFM)
- Electrochimie avec contrôle de la température et microscopie optique
- NanoLithographie
- NanoManipulation
- Nanoindentation
- AFM thermique à balayage (SThM)
- Solution FluidFM® de Cytosurge
- ExperimentPlanner pour la conception d'un flux de travail de mesure spécifique.
- RampDesigner™ pour des expériences de pincement et de rampe personnalisées.
- Fonction ExperimentControl pour le contrôle à distance des expériences
- DirectOverlay 2 pour combiner AFM et microscopie optique
- Stations supplémentaires de déplacement d'échantillons XY ou Z disponibles avec les modules CellHesion®, TAO™ et HybridStage™.
La Plus Grande Gamme d'Accessoires du Marché
Systèmes/accessoires optiques, solutions d'électrochimie, caractérisation électrique des échantillons, options de contrôle environnemental, modules logiciels, contrôle de la température, solutions d'isolation acoustique et vibratoire, etc. Bruker vous fournit les bons accessoires pour contrôler les conditions de vos échantillons et réaliser des expériences réussies.
La nouvelle interface utilisateur basée sur le flux de travail redéfinit la convivialité.
La nouvelle interface logicielle V7 guide les utilisateurs à travers le flux de travail pour configurer les expériences de manière intuitive et permet, même aux utilisateurs ayant une expérience minimale de l'AFM, de progresser en toute confiance pour générer des données de haute qualité. Chaque étape de la configuration et de l'exploitation fonctionne comme un bureau optimisé qui met en évidence toutes les informations essentielles en un seul clic.
- Aide contextuelle à l'écran
- Retour d'information sur l'état de l'alignement et de la configuration
- Sélection efficace des expériences en fonction des tâches
- Accès rapide aux expériences favorites et récemment utilisées
- Étalonnage de la sonde en un clic
- Aperçu instantané des données clés
- Gestion des utilisateurs pour les environnements multi-utilisateurs tels que les centres d'imagerie
Regardez les Webinaires Récents sur la BioAFM
Nos webinaires couvrent les meilleures pratiques, présentent de nouveaux produits, apportent des solutions rapides à des questions délicates et proposent des idées pour de nouvelles applications, modes ou techniques.