software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

Logiciel LEPTOS

LEPTOS est une suite logicielle complète pour l'évaluation de la réflectométrie des rayons X (XRR), de la diffraction des rayons X à haute résolution (HRXRD), la diffusion des rayons X à petit angle et à incidence rasante (GISAXS) et les données des contraintes résiduelles (RS).

La réflectivité des rayons X (XRR) fournit des informations détaillées sur le profil vertical des échantillons de densité, l'épaisseur des couches et la rugosité des interfaces. La diffraction des rayons X à haute résolution (HRXRD) mesure la structure cristallographique de l'échantillon. La diffusion des rayons X à petit angle et à incidence rasante (GISAXS) est utilisée pour l'évaluation des nanoparticules et de la porosité. L'analyse des contraintes résiduelles examine l'état de contrainte des échantillons en vrac et des revêtements en polycristalline.

Avec les balayages conventionnels à courbe unique, LEPTOS permet une analyse des cartes en espace réciproque HRXRD et XRR à haute résolution, des cadres des contraintes GISAXS et XRD², de la cartographie des zones pour HRXRD, XRR les applications des contraintes résiduelles. Cela n'a pas d'importance si les données ont été collectées avec des détecteurs 0D, 1D ou 2D.

 

Le GUI peut être personnalisé pour répondre aux exigences des chercheurs scientifiques et des opérateurs industriels.

  • Évaluation conjointe de plusieurs mesures XRR, HRXRD, GISAXS et RS
  • Les théories avancées de diffusion des rayons et les méthodes numériques pour l'estimation, la simulation et l'ajustement des données en espace direct et réciproque
  • Traitement naturellement intégré des séries de données unidimensionnelles et bidimensionnelles mesurées par les détecteurs de points, de lignes et bidimensionnels
  • Éditeur de modèle d'échantillon universel permettant de paramétriser n'importe quel type de film fin et d'échantillons en vrac
  • Base de données complète et extensible, couvrant les 230 groupes d'espaces cristallographiques
  • Outil de cartographie des zones permettant l'affichage et l'évaluation des mesures effectuées sur des zones d'échantillons étendues
  • Méthode avancée sin²ψ pour l'analyse des contraintes résiduelles des données 1D et 2D ainsi que la méthode multiple (hkl) d'évaluation du gradient de contrainte dans des revêtements en polycristalline