software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS G

Le LEPTOS G réalise une évaluation des données de la diffusion à petit angle et à incidence rasante, mesurées à partir des échantillons contenant des nanoparticules intégrées à l'intérieur de la face inférieure ou situées sur la surface de l'échantillon. Celles-ci peuvent, par exemple, être enfouies dans des points quantiques et des îlots de semi-conducteurs de surface, des matériaux poreux, de la poudre condensée, intégrées dans des nanoparticules polymères etc. La licence du module G comprend également le module R pour la réflectivité des rayons X. Le LEPTOS G permet de réaliser les opérations suivantes:

  • Fournit les informations suivantes sur les nanoparticules : forme, dimension, densité surface/masse, durée de corrélation et longueur
  • Adapte automatiquement les simulations des modèles d'échantillons aux données intégrées mesurées 2D ou 1D en utilisant un algorithme d'optimisation solide
  • A plusieurs fonctions de coûts pour l'ajustement des données
  • Comprend plusieurs modèles physiques pour le type de corrélation entre les particules (Zhu, sphère dure) et la distribution des paramètres (uniforme, Lorentz, Gauss)
  • Accède à la base de données de matériaux, complète et extensible, partagée avec d'autres modules LEPTOS contenant des matériaux amorphes et cristallins
  • Prend en compte et adapte l'arrière-plan et le facteur de mise à l'échelle entre les données simulées et expérimentales