높은 공간 해상도에서 초고속 정량 및 정성 측정
온디맨드 세션 - 45분
높은 공간 해상도에서 초고속 정량 및 정성 측정 솔루션!
Bulk sampele의 나노 스케일 화학적 매핑은 high spatial resolution 이미징 및 분광 분석을 동시에 달성해야 하기 때문에 매우 어려운 것으로 알려져 있다. 일반적인 대안은 STEM의 electron transparent samples에 대한 화학적 매핑이다.
새롭게 출시된 Bruker XFlash® 7세대 EDS detector은 최상의 solid angle과 고속 펄스 처리속도를 통해 수집 효율성과 높은 감도를 보장한다. 이 조합은 낮은 프로브 전류에서 우수한 출력 카운트 속도를 제공하기 때문에 high spatial resolution의 측정에 이상적이다.
이번 Webinar는 bulk 반도체 및 항공 우주 재료의 high spatial resolution 측정을 통하여 어떻게 SEM의 분석 기능을 최대화하는지를 시연하며, 또한, 실시간 화학 이미징을 얻고 최신 XFlash 7세대의 이점을 검토할 수 있는 ESPRIT LiveMap 소프트웨어 옵션을 제시한다.
누가 참석해야 하나요?
- SEM 및 TEM용 EDS 기술에 관심이 있는 모든 분석 분야의 과학자 및 연구자
- 원소 분석에 관심 있는 Material Science 및 반도체 업계의 모든 사람
우리는 webinar에서 당신을 만나기를 기다립니다!
Bruker Nano Analytics 팀
그림 1: EDS 의spatial resolution으로 bulk 반도체 재료의Co, Si 및 W분포를 보여주는 화학 지도
그림 2: SEM에서 고배율로 획득한 Ni-based단결정 초합금의 Ni 및 Cr 분포도
발표자
최성지 차장
교육 지원, EDS, EBSD, FlatQUAD, Micro-XRF, WDS
브루커 나노 애널리틱스
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