ナノスケール赤外分光器プラットフォーム「IconIR」を発表
［カリフォルニア州サンタバーバラ発］
ブルカーは、大型試料向けのDimension IconIR™ナノスケール赤外分光・ケミカルイメージングシステムをリリースしました。このシステムは、業界をリードするブルカーのDimension Icon® AFMとnanoIRTM photothermal AFM-IR技術が組み合わされており、10 nm分解能のケミカルおよびマテリアル特性マッピングで、業界に新しい基準を確立します。ブルカー独自のPeakForce Tapping®モードを搭載した新しい大型サンプルプラットフォームは、定量的なナノケミカル、ナノメカニカルおよびナノエレクトリカル特性評価ソリューションを提供します。IconIRは、ポリマー、地球科学、半導体、ライフサイエンスなど幅広い分野で画期的な研究を可能とします。
ブルカー社のnanoIRの基盤を築いたAFM-IR研究の第一人者であるパリ=サクレー大学教授のAlexandre Dazzi博士は、「IconIRによって初めて、10 nm分解能のナノ赤外分光法とマテリアル特性マッピング技術を組み合わせることが可能となった。この新しい技術により、数nmレベルでブレンドポリマーの化学構造を容易に識別できる。さらに、非常に高感度なタッピングAFM-IRモードにより、力学的な不均一性を持つ複雑なシステムの探求をも可能とする。」と述べてます。
また、nanoIR製品のSr. Directorを務めるDean Dawsonは次のように述べています。「この新しいプラットフォームは、従来のAFM-IR技術では分析できなかった対象に対しても、材料の化学構造やその組成をナノレベルで深く理解することを可能とします。こうしたIconIRが可能とする材料の形状、化学情報、物性特性の網羅的な分析は、最先端の学術・産業研究を牽引する大きなドライビングフォースとなるでしょう。
Dimension IconIRについて
Dimension IconIRは、ナノスケール赤外分光分析装置と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせたシステムで、数十年にわたる研究と技術革新の結実として、ナノ赤外分光法として最高の性能と機能を提供します。IconIRは、単一のシステムで、ナノスケールのスペクトル分析、ケミカルイメージング分解能、そしてその感度において最高のパフォーマンスを提供します。IconIRは、世界で最も使用されている大型試料向けのAFMプラットフォームであるDimension Icon上に構築されており、Icon の優れた性能と機能を踏襲しつつ、あらゆる試料に対する柔軟性を提供します。標準で150 mmまでの試料に対応しており、より大きな試料向けの機種も用意されています。ブルカー社の特許技術であるphototermal AFM-IRモードは、世界で最も包括的なものであり、何百もの原著論文がすでに報告されており、世界をリードするnanoIR技術の成功が証明されています。その多くの研究成果から、nanoIRにより得られるスペクトルとケミカルイメージングは、従来のFTIRと高い相関性が示されてます。IconIRは、Dimensionプラットフォームで定評のあるアクセサリーやSPMモードをフルに活用し、材料研究のための最も先進的なナノスケールキャラクタリゼーションシステムとなっています。
※本資料は2021年10月18日（現地時間）に米国ブルカーコーポレーションが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。
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