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Enhanced Data Capture for 3D Optical Profilers
Achieving greater precision on steep, rough, and complex surface geometries
Watch Individual Sessions:
Enhanced Data Capture – Achieving Greater Precision on Steep, Rough, and Complex Surface Geometries
Live Demonstration
Question & Answer
Watch Now | 20 Minutes
Enhanced Data Capture – Achieving Greater Precision on Steep, Rough, and Complex Surface Geometries
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Presented by Nishant Kodan, Applications Specialist, Bruker (February 26, 2026)
PRESENTATION HIGHLIGHTS:
[00:00:00]
What is an optical profilometer (WLI)?
[00:02:20]
How does WLI work?
[00:06:22]
WLI optical profilometer product portfolio
[00:09:00]
What is Enhanced Data Capture (EDC), and how does it work
[00:14:32]
Case Study - Sandpaper
[00:16:50]
Case Study - Diamond Embedded Orbital Device
[00:18:57]
Case Study - Lense Measurements
Watch Now | 23 Minutes
Live Demonstration
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Presented by Nishant Kodan, Applications Specialist, Bruker (February 26, 2026)
Watch Now | 27 Minutes
Question & Answer
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3D光学式プロファイラー
非破壊・非接触 3次元表面形状粗さの測定、検査、解析
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