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小角X線散乱 (SAXS)

小角X線散乱測定装置

SAXSやすれすれ入射SAXS (GISAXS)は、1 nmから100 nµmの領域の粒子を分析するための強力な手法です。溶液中のポリマーやタンパク質、液晶、表面特性、粉末、バルクサンプル、薄膜など、多種多様な材料から、ナノ粒子のサイズ、形状、サイズ分布だけでなく、構造ダイナミクスに関する情報を得ることができます。