単結晶X線回折 & 小角X線散乱
METALJETは実験室系X線源の中で最も高輝度なX線を発生します。
タンパク質X線回折 (PX) と小角X線散乱 (SAXS) 測定を最適化するために、この最も強力なX線源の両サイドを有効活用することができます。
単結晶X線回折には、METALJETとPHOTON II / III検出器を備えたD8 VENTUREが、放射光品質のデータに迫る実験室システムを提供します。
生体用小角X線散乱 (Bio-SAXS) には、コンパクトで高性能なNANOSTARシステムが、結晶学、NMR、分子動力学などの他の技術からの構造データと定量的に結び付けられたSAXSデータ解析に対する数多くのニーズを満たすための最良のソリューションです。
デュアルポートプラットフォームは、第1ポートのみを利用することもでき、かつ簡単に機能をアップグレードする柔軟性を有します。今すぐに第2ポートが必要ない場合でも、将来的のニーズの変化に可能性を拡げます。
DIFFRAC.SUITE™は、粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。Microsoftの.NET技術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは、安定性、使いやすさ、ネットワーク化など、最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。
カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは、プラグインフレームワークデザインを採用し、共通のルック&フィール、操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは、個別のアプリケーションとして操作することも、DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより、ネットワーク内にあるD2 PHASER、D8 ENDEAVOR、D8 ADVANCE、D8 DISCOVERのあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
WIZARD – 測定条件検討と作成
COMMANDER – 装置制御とマニュアル測定
TOOLS – メンテナンスインターフェース
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT – 各種定量分析
EVA – 結晶相定性と汎用粉末XRD解析
TOPAS – プロファイル分析・定量分析・構造解析
材料解析ソフトウェア:
SAXS – SAXS解析ソフトウェア
XRR – 包括的なXRR解析ソフトウェア
TEXTURE – 使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS – 薄膜解析、残留応力解析
以下を提供します。
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