単結晶X線回折(SC-XRD)

In-situ Crystallography (ISX) Stage

全自動In Situサンプルスクリーニングおよび構造決定に

当社が新たに開発した完全電動式のISXステージは、結晶化プレート内の試料の全自動スクリーニングを可能にします。

高感度のPhoton II/III CPAD検出器と高強度X線源の組み合わせにより、微小で回折強度の弱い結晶からの反射を効率よく検出することが可能です。

ISXソフトウェアは、直感的な操作を提供することで、使用頻度の少ないユーザーにおいても生産性を最大限に高めます。

特徴

  • 多くのウェルプレートに対応
  • D8 VENTUREのカッパーゴニオメーターに対応
  • 結晶化を行っている研究室に最適: 完全空冷、単相電源、コンパクトでX線被爆無し
  • SBSフォーマットのマルチウェルプレートに対応(低バックグラウンドプレート推奨)
  • 例えばオーバーナイト測定に使える、測定順序を予め組むことができるジョブキュー機能(オペレーター不在可)
  • 一回の設定で全てのウェルにアクセス可
  • 5分以内でISX ステージの取外し可能

ISX Stage in motion

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