ブルカーが INVENIO X FT-IR 研究用分光計を発表

マサチューセッツ州、ビレリカ – 2019 9 25 - 本日、ブルカーは、分子分光分析の研究向けに画期的なシステム INVENIO X FT-IR(フーリエ変換赤外分光計)を発表しました。この直感的なモジュール設計の新しい高性能研究開発用分光計は、ブルカーが次世代の R&D FT-IR用に開発したINVENIO® プラットフォームをさらに拡張するものです。INVENIO X は、きわめて条件の厳しい分析アプリケーション向けに設計されており、高度な研究開発用の新しい機能を備えています。

Bruker Optics INVENIO X Advanced Multispectral R D FTIR Spectrometer

 INVENIO プラットフォームは 2018 年に導入され、最大 5 台の検出器を本体に搭載する MultiTectTM テクノロジーに加えて、中赤外と遠赤外の分光分析を同時に可能にする独自の FM 機能を提供します。INVENIO X には 3 ポジションビームスプリッター自動チェンジャを装備することができ、高精度キューブコーナーミラーと摩耗ゼロの走査機構を特徴とする画期的な INTEGRALTM 干渉計は、0.09 cm-1の最高波数分解能を実現しています。

 「最大で 7 台の検出器と複数の光源オプションをソフトウェアにより制御することができるINVENIO X は、最も高度に自動化された研究用マルチスペクトル分光計です。」と、ブルカーの R&D FT-IRシステムのプロダクトラインマネージャである Michael Joerger 博士は述べています。「この分光計によって、光学コンポーネントを手動で交換することなく、遠赤外から可視・紫外領域までの連続測定が可能になります。」

 さらに、INVENIO X では、INVENIO プラットフォームにより導入された他の機能も活用できます。その画期的な光学系により分光分析感度が向上し、SoCsystem-on-a-chip)の組み込まれたインテリジェンスによりデータの取得と演算処理の高速化が保証されます。オプションの TransitTM チャネルを使うことで、メインの試料室にセットした測定光学系を崩すことなく、液体等の試料の透過測定が可能です。マグネット式電子認証光学ウィンドウ、自動内部アテネータ、8 ポジションバリデーションホイール、直感的な分光分析ワークフローのための一体型タッチパネルオプションは、INVENIO の技術革新の一例です。 

INVENIO の詳細については、次の Web サイトをご覧ください。www.bruker.com/invenio

 

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