X선 소각산란(SAXS)

NANOSTAR

나노 우주를 향한 망원경 | 실험적 유연성을 위한 모듈식 설계를 갖춘 전용 X선 소각산란(SAXS)

나노그래피 - SAXS - WAXS - GISAXS

ø 14cm
VÅNTEC-500을 갖춘 대형 2D 활성 영역
넓은 시야각은 전체 산란 신호(isotropic 또는 anisotropic)를 한 번에 수집합니다.
>200 nm
접근 가능한 길이 배율
모듈식 디자인은 125nm 이상의 길이 스케일로 나노구조를 완전히 특성화하기 위해 광범위한 산란 범위를 허용합니다.
5-150 cm
샘플에서 검출기까지의 거리
시료에 대한 산란 범위를 최적화하기 위한 광범위한 검출기 위치 지정.
확장된 보조 빔 경로가 있는 NANOSTAR

비교할 수 없는 모듈성을 갖춘 NANOSTAR는 X선 소각산란(SAXS), 방목 발생 X선 소각산란(GI-SAXS), 광각 X선 산란(WAXS), 나노그래피에 의한 나노 구조 및 나노 구조 표면의 특성화를 위한 이상적인 도구입니다. 미러 컨디셔닝핀홀 콜리메이션 시스템은 고강도 및 낮은 기생 분산을 갖춘 평행하고 이상적인 원형 빔 모양을 생성합니다. 초대형(XL) 샘플 챔버는 모든 조건하에서 많은 샘플 유형의 측정을 위해 다양한 전용 및 3자 샘플 단계를 수용합니다. 마지막으로 산란된 신호는 등방성 및 이방성 샘플에 대해 크고 낮은 배경의 고감도 2D 검출기로 수집됩니다.

NANOSTAR 특징

IμS 마이크로 포커스 소스

이 독특한 X선 소스는 물 냉각없이 매우 안정적이고 강렬한 스팟 포커스 X 선 빔을 공급합니다. 견고한 디자인 덕분에 소스에는 3년 보증이 제공됩니다. IμS에는 샘플에서 가장 높은 강도를 위해 최첨단 2D 빔 형성 광학인 통합 MONTEL이 포함되어 있습니다. 이 side-by-side 다층 미러 디자인은 소스에서 큰 입체각을 포착하고 고도로 평행한 단색 빔으로 효율적으로 방향을 전환합니다.

NANOSTAR 특징

XL 샘플 챔버

이 편리한 대형(XL) 샘플 챔버는 많은 추가 공급 포트와 함께 제공되며 진공, 불활성 가스 또는 대기 조건에서 작동할 수 있습니다. 여러 샘플의 개별화된 처리를 위한 많은 추가 표준 구성 요소와 최대 가시성을 위해 제3자 및 사용자 지정 단계를 수용할 수 있습니다. 대형 번역 범위와 이차 전동 참조 샘플 홀더 휠이 있는 전동 X-Y 스테이지는 자동 샘플 정렬 및 참조 및 배경 스캔을 스냅으로 만듭니다!

NANOSTAR 특징

VÅNTEC-500 2D 검출기

MikrogapTM 기술을 갖춘 VANTEC-500 2-D 검출기는 전용 SAXS 시스템의 모든 이상적인 요구 사항을 충족시킵니다. 첫째, 가스, 물 또는 일상적인 유지 보수가 필요 없으며 강렬한 방사선 이나 운동 손상에 대한 우려없이 견고하고 사용하기 쉬운 검출기의 결과를 초래합니다. 넓은 활성 영역 (직경 14cm)은 전체 시야와 거대한 각도 커버리지를 가능하게합니다. 환상적인 동적 범위와 약한 산란 샘플에 대한 민감도에 대한 매우 낮은 배경과 높은 최대 카운트 속도. 간격이 밀접하게 분산된 피쳐를 해결하기 위한 우수한 공간 해상도. 다른 검출기는 이러한 응용 분야에 이상적인 기능의 이러한 조합을 제공할 수 없습니다.

주요 응용 프로그램

NANOSTAR 애플리케이션

소각 및 광각 X 선 산란 (SAXS 및 WAXS)

소각 X선 산란(SAXS)은 상이한 전자 밀도의 매트릭스에 내장된 입자에 의해 발생하는 현상이다. 입자 크기가 1nm에서 200nm사이인 경우, 산란 각도는 사용되는 X선 파장에 따라 0°~5°의 범위 내에 있습니다. 입자가 작을수록 분산 각도가 넓어집니다.

임의의 매체에서 입자의 배열은 전자 밀도의 차이를 나타내며, SAXS 실험을 실행할 때 특정 패턴을 초래합니다. SAXS는 입자의 크기와 함께 모양, 거리 떨어져 및 2D 패턴의 크기 분포를 결정할 수도 있습니다. 입자는 거대 분자, 금속의 침전, 생물학적 조직의 미네랄 입자 및 계면 활성제 미겔이 용해될 수 있습니다.

 

 

 

SAXS와 달리 광각 X선 산란(WAXS)은 일반적으로 결정구조의 중간 거리인 Angstrom 레벨의 구조를 검사합니다. 종종 WAXS는 결정 구조, 결정성 정도, 결정성 크기 및 상 조성(Phase ID)을 결정하는데 도움이 되는 X-선 회절(XRD) 패턴을 브래그 분석하는 데 사용됩니다. WAXS 데이터는 2차 검출기가 샘플에 훨씬 더 가깝게 배치된 SAXS 데이터와 동시에 수집될 수 있다.

NANOSTAR 애플리케이션

Grazing-Incidence SAXS (GI-SAXS)

표면과 지하 구조 세부 사항을 프로브하기 위해 샘플은 방목 발생 형상으로 측정됩니다. 인시던트 각도는 전체 반사의 소위 임계 각도에 가깝고 일반적으로 0.1도에서 0.7도 사이입니다. 방목 발생 작은 각도 X 선 산란 (GISAXS) 실험에서, 확산 산란 강도는 2-D 검출기를 통해 비-coplanar 방향으로 수집된다.

전동 기울기가 있는 전용 GI-SAXS 스테이지는 빔의 샘플을 정렬하는데 사용됩니다.

NANOSTAR 애플리케이션

나노그래피

나노그래피 조사는 NANOSTAR의 샘플 챔버에 통합된 모터 구동 XY 단계를 활용합니다. 이렇게 하면 샘플의 선택한 영역을 X선 빔을 통해 자동으로 스캔할 수 있습니다. 그런 다음 강도 분포(또는 기타 산란 매개변수)를 색상으로 구분된 윤곽 플롯을 사용하여 표시할 수 있습니다.

Nanography는 불균일한 샘플을 사용하여 관련 측정 점을 빠르고 선별적으로 감지할 수 있으며 작은 샘플도 정확하게 배치할 수 있습니다. 전체 나노그래피 이미지 자체의 각 개별 점은 2-D에 의해 수집된 일체형 SAXS/WAXS 강도를 나타낸다.

NANOSTAR 사양

기능

사양

혜택

IμS 마이크로 포커스 소스

공기 냉각, 고강도, 마이크로 포커스 X 선 소스

저전력 사용(30W)

3년 표준 보증

물 냉각기 필요 없음

높은 전력 밀도로 인해 강도 증가

이상적인 빔 컨디셔닝을 위한 통합 MONTEL 미러

SCATEX 핀홀

무시할 수 있는 기생 배경 산란이 있는 이상적인 원형 빔 셰이프.

기생 조리개 가장자리 산란 없음

더 높은 해상도 / 더 높은 플럭스

더 컴팩트한 콜리메이션 빔패스로 검출기 거리 연장

쉽고 안정적이며 핀홀 정렬

XL 샘플 챔버

다목적 표준 및 제3자 단계의 샘플 포지셔닝, 매핑 및 수용을 위한 전동 XY 스테이지가 있는 초대형 챔버.

내부 치수: 287 mm x 501 mm x 380 mm (W x H x D)

추가 공급 연결을 위한 플랜지

80mm x 130mm 번역을 갖춘 XY 스테이지

전동 참조 샘플 휠

진공, 공기 또는 불활성 가스 대기에서 작동

VÅNTEC-500 2D 검출기

넓은 활성 영역, 낮은 배경, 고감도 2D 검출기

전체 시야 SAXS/WAXS 산란 이미지의 전체 프레임용 넓은 활성 영역(직경 14cm)

가장 높은 감도를 위한 매우 낮은 배경

우수한 공간 해상도 (68 미크론 픽셀 크기)

유지보수 필요 없음 (물 / 공기가 필요하지 않거나, bias 안에서 강한 1 차 빔 또는 검출기 움직임에 민감합니다.)

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