Dimension Edge AFM

Dimension Edge

Dimension Edge™는 브루커의 PeakForce Tapping® 기술을 통합하여 동급 최고 수준의 원자력 현미경(AFM) 성능, 기능성 및 접근성을 제공합니다. Dimension Icon 플랫폼을 기반으로 Edge 시스템은 성능에 대한 기대치보다 훨씬 낮은 가격대에서 게시 준비 데이터를 몇 시간이 아닌 몇 분 만에 달성하는 데 필요한 낮은 드리프트와 낮은 노이즈를 제공하도록 위에서 아래로 설계되었습니다. 통합된 시각적 피드백과 사전 구성된 설정을 통해 전문가 수준의 결과를 간단하고 일관되게 구현하여 모든 시설과 사용자가 최첨단 대형 샘플 AFM 기능과 기술을 사용할 수 있습니다.

모듈

현미경 및 전자 제품

합리적인 가격으로 고화질 이미지 정확도와 연구의 유연성을 제공합니다.

Built-in

신호 라우팅에 대한 액세스

맞춤형 측정 및 확장된 연구 기능을 지원합니다.

통합

스테이지 컨트롤

신속한 샘플 탐색과 효율적인 복수 영역 측정을 제공합니다.

브로셔 다운로드

특징

폐쇄 루프 정확도

이 시스템의 기능의 핵심은 브루커의 유명한 폐쇄 루프 스캐너입니다. 온도 보정 위치 센서를 통합하고 모듈식 저소음 제어 전자 장치로 구동되는 이 팁 스캐닝 구성 요소는 폐쇄 루프 위치 노이즈 수준을 단일 화학 결합의 길이 척도로 감소시킵니다.

다프니아는 작은 갑각류(400μm ~ 3mm)로, 물의 높은 pH 수준(최대 9.5)과 같은 환경적 요인에 매우 내성이 있습니다. 이 독특한 저항의 근본 원인은 잘 알려져 있지 않습니다. 따라서 갑피의 나노 스케일 특성을 연구하고, 왜 사물들이 갑피에 달라붙지 않는지, 생물 학자들 뿐만 아니라 산업 표면의 개발 및 설계에 특히 관심이 있습니다.

대형 샘플 스테이지

Dimension Edge의 대형 샘플 스테이지를 클로즈업합니다.

Dimension Edge 샘플 단계는 효율적인 복수 영역 측정을 위해 전동식이며 프로그래밍이 가능할 뿐만 아니라 준비 시간이 짧은 AFM 스캐너 바로 아래에 더 많은 유형의 샘플을 맞출 수 있습니다. 프로브 샘플 접합부에 물리적으로 개방된 접근은 기하학적으로 어려운 장치 구조와 전기 연결 또는 기타 사용자 지정 실험 액세서리의 부착에 대한 보다 직접적인 조사를 가능하게 합니다.

자동 이미지 최적화

Edge는 "지능형" 알고리즘을 사용하여 이미지 품질을 자동적이고 지속적으로 모니터링하고 적절한 매개 변수를 조정합니다. 이를 통해 연구자들은 설정값, 피드백 이득 및 스캔 속도를 조정하는 복잡하고 지루한 작업에서 벗어나, 단순히 스캔 영역을 선택하고 공기 또는 유체에서 거의 모든 샘플에 대한 크기를 스캔하는 것처럼 이미징을 쉽게 만듭니다.

HOPG의 C36H74 알칸의 폐쇄 루프 위상 이미지. 개별 라멜라는 모든 트랜스 구성에서 C36H74 체인의 길이와 일치하는 간격(~4.5nm)으로 명확하게 볼 수 있습니다. 이미지 크기 130nm.

AFM 모드

AFM 모드로 애플리케이션 확장

타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.

핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.

AFM 모드에 대해 자세히 알아보기

Dimension Edge Data Gallery

Closed-loop topography map of a kerf test structure showing contact holes inside dual-damascene trenches. The combination of the Dimension scanner and a Bruker FIB probe enabled mapping of this challenging geometry without damage to the probe tip.

Accurate 2D dopant profiling on SRAM sample using Dark Lift SCM. Image size 15μm.

The Dimension Edge high-performance AFM is able to investigate the nanometer-scaled organization of the component biopolymers of wheat grain, leading to improved understanding of their relationship to the macroscopic properties of the resulting cereal products. Image size 90μm.

ScanAsyst image of polymer brush. Image size 200nm.

Closed-loop phase image of C36H74 alkane on HOPG. Individual lamellae clearly visible with spacing (~4.5nm) consistent with length of C36H74 chains in all-trans configuration. Image size 130nm.

Closed-loop phase image revealing the micro-phase separation in a poly(styrene-bbutadiene-b-styrene) triblock copolymer. Image size of 2μm.

In-situ ScanAsyst image of DNA in buffer solution. Image size 500nm.

Dimension Edge provides a full suite of nanomechanical and –electrical modes ranging from phase imaging and force spectroscopy to piezo-response force microscopy, conductive AFM, and Kelvin probe force microscopy, combined with design for highest spatial resolution, achieving atomic resolution with ease.

Dimension Edge offers a full suite of electrical modes, leveraging Bruker’s patented LiftMode to enable electric field gradient mapping with EFM, more sensitive KPFM workfunction mapping, and artifact free conductivity mapping with Dark-Lift conductive AFM.

Contact mode atomic mica lattices. Image size 1.5nm.

Patterned Sapphire Substrate (PSS) is a technique used for LED manufacturers to improve light output and overall device efficiency. A PSS is typically a sapphire wafer into which a periodic pattern has been etched. The patterns' shape vary but are conical, hemispherical, pyramidal or other similar structure. These structures are used to change the angle of outgoing photons reducing total internal reflection and thus increasing efficiency. The Edge-PSS AFM provides the needed metrology to control the PSS fabrication process including feature height, width, and angle measurements while also providing a full 3-D profile. The Edge-PSS is poised to meet the needs of PSS suppliers and LED manufactures as dimensions shrink to gain product efficiency.

액세서리

브루커 AFM 프로브

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