Dimension Nexus
Dimension Nexus ™は、業界をリードするimension® 原子間力顕微鏡(AFM)製品ラインの最新製品として、データ品質、計測の柔軟性、使いやすさをコンパクトなシステムで実現しました。
ブルカーのNanoScope® 6 コントローラとPeakForce Tapping® テクノロジー、そして最新の自己最適化イメージングソフトウェアScanAsyst® Plusといった画期的なイノベーションを搭載し、同クラスの市販システムと比べ最も多くの拡張機能を備えた柔軟性を提供します。共同利用機器施設、学術研究グループ、R&D ラボ、産業分野等、様々な研究活動に貢献します。
測定結果に表れるクラス最高性能
Dimension Nexus は、分子レベルから原子レベルの分解能を達成し、高精度で再現性の高い計測を実現します。
クラス最高性能
- さまざまな試料に対して最高分解能のイメージングと定量的な機械的、電気的、化学的性質のマッピングを行うための、PeakForce Tapping モードのフルセット
- 最高速度、低ノイズ、多様なAFMモードをサポートする最新世代のNanoScope 6コントローラ
- クローズドループスキャナ、花崗岩ベースに一体化されたドリフト低減ブリッジ構造により、オープンアクセスにも関わらずハイパフォーマンスを実現
- 特定の測定モードや試料に対応するAFM専用プローブの幅広いラインナップを用意
測定品質の安定性を確保
長期間にわたってイメージングを行う場合、Dimension Nexusはドリフトを最小限に抑え、長距離スキャンにおいても、システムにはスキャナーアーティファクトやチップの劣化は見られません。
左上図：。
SAA-HPIプローブを使用し、360本のトレンチのアレイ をPeakForce Tappingで90 x 2 μmスキャン（16384 x16 px）した結果（図左：開始直後。図右：終了直後）から90 μm画像の両端から1.6 μm画像を拡大。全範囲にわたってスキャナのアーティファクトやチップの劣化は見られません。
左下図：360本のすべてのトレンチ間ピッチ測定。全スキャン範囲にわたって偏差は0を示します。
優れた機能と使いやすさを実現
Nexusには、設備準備中・拡大中の研究室や、AFM研究を深める予定の研究者に対して利点があります:
プログラマブルステージを搭載した基本構成は、高スループット・マルチサイト測定に対応し、標準的なアプリケーションに対応するだけでなく、高品質なデータが取得可能
あらゆる経験レベルのオペレーターは、合理化されたサンプル/プローブ セットアップ、ScanAsyst 自己最適化イメージング、高度なデータ解析ソフトウェアなどのユーザーフレンドリーな機能により、信頼性の高い結果を容易に得ることが可能
研究の進捗に合わせて、様々な測定モード、信頼性の高い環境制御、強力な統合ソフトウェアなど豊富なオプションの追加するだけで、将来必要となるシステムにアップグレード可能
アップグレード汎用性とカスタマイズ性を提供
Dimension Nexusはアップグレード可能であるだけでなく、研究のカスタマイズを容易に対応するためオープンアクセス設計を採用。 プローブとサンプルのコンタクト部分に対し物理的にオープンアクセスが可能で、電気特性アタッチメントやその他のカスタムアクセサリに対応可能です。NanoScope 6コントローラは、フロントパネルのBNCコネクタ、スクリプトソフトウェアオプション、カスタム分析用のPythonへの簡単なデータインポートなど、オープンなハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームを提供します。
幅広いアプリケーション対応
150mmオープンアクセスのプログラマブルステージ、PeakForce Tapping、液中イメージング、環境制御など、ブルカーの50以上のモードが利用できます。また、Nexusは、手頃な価格でありながら、次の様な幅広いアプリケーションや実験に対応します:
- ポリマーや複合材料のナノ機械特性マッピング
- グラフェン、モアレ超格子、その他の2次元材料のナノスケールにおける特性評価
- 光起電力におけるペロブスカイトの構造と強誘電特性の相関付け
- リチウムイオン電池の局所電気化学活性のin-situおよびオペランド研究
- 半導体薄膜および基板のナノスケール表面粗さの定量化
- ナノエレクトロニクスデバイスに用いられるDNAナノワイヤーの電気特性の操作と特性評価
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Dimension Nexus Select Specifications
| X-Y スキャンレンジ | 90 μ m x 90 μ m ,（ 85 μ m以上） |
| Z レンジ | 10 μ m 標準イメージングおよびフォースカーブ,（ 9.5 μ m以上） |
| サンプルサイズ/ ホルダ | Φ 150 mm バキュームチャック, 厚さ ≤ 15 mm 以内 |
| 電動XY ステージ | 可動域150 mm x 150 mm; 再現性( 双方向)6 μ m;連続測定のための複数座標登録 機能 |
| 光学顕微鏡観察 | 5 MP デジタルカメラ; 視野180 μm ～ 1465 μm; デジタルズーム;電動フォーカス |
| Certification | CE |
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What Dimension AFM Is Right For You?
Bruker offers an expansive selection of high-quality AFM systems. Our Dimension AFMs feature industry-leading nanoscale imaging and characterization technologies built on decades of AFM experience and with constant collaboration with customers. Dimension Icon, our flagship product, sets the highest possible standard for the entire market of commercial AFMs. Dimension Nexus now joins the line to provide excellent value and performance in a cost-effective AFM.
Scroll down to see an overview of the differences in key features and capabilities between these two best-in-class systems.
Key features and specs
| Dimension Nexus |
Dimension Icon | |
| Sample Size (XY) | 150 mm | 300 mm |
| Motorized Stage Range | 150 mm x 150 mm | 150 mm x 180 mm |
| Small & Multi-Sample Compatibility | Yes | Yes |
| Sample Flexibility | Tip Scanner | Tip Scanner |
| XY-Scan Range | 90 µm x 90 µm | 90 µm x 90 µm |
| Z-Range | 10 µm | 10 µm |
| System Footprint (W x L) | 24" x 32" (plus customer desk/workstation) | 47" x 94" (including integrated workstation) |
| Controller | NanoScope 6 | NanoScope 6 |
| Programmable Measurements | Yes | Yes |
| Automated Metrology Recipes | No | Yes |
| Open-Access Platform | High degree of flexibility for customization | Maximum flexibility for customization |
Measurement capabilities
| Dimension Nexus | Dimension Icon | |
| High-Resolution Imaging | Atomic lattice resolution | Atomic defect resolution |
| High-Speed Imaging | Fast Tapping | FastScan dedicated high-speed AFM; Fast Tapping |
| PeakForce Tapping | Yes | Yes |
| ScanAsyst (Self-Optimizing Imaging) | Yes | Yes |
| PeakForce Tapping Derivative Modes* | Yes | Yes |
| Chemical Identification Capability | No | IconIR upgradable |
| Hyperspectral Imaging | DataCube | DataCube |
| Other Modes & Options* | Wide range to address majority of applications | Complete range for industry-leading application coverage |
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Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.