【ZEISS x Bruker共催】
最新in-situ技術セミナー
～Gemini x PicoIndenterで見て分かるナノ材料物性～

【ZEISS x Bruker共催】最新in-situ技術セミナー
～Gemini x PicoIndenterで見てわかるナノ材料物性～

   あらゆる材料開発において、ナノ・マイクロスケールの構造が新材料固有の特性や機能発現メカニズムに大きく寄与することはまれではありません。そのため、ナノ・マイクロスケール構造の科学評価技術として、SEMを用いた形態観察・元素分析・結晶解析技術、ナノインデンターを用いたナノ力学特性評価技術が材料評価に広く用いられています。

本ウェビナーではZEISSのSEMとBrukerのナノインデンターの最新情報に加え、SEMとナノインデンターを組み合わせることで実現するナノ力学試験in-situ評価技術とその評価事例をご紹介します。皆様のご参加をスタッフ一同心よりお待ちしております。

＜形式＞
ウェビナー（オンラインによるWEBセミナー）
※ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。
GoToWebinar のインストールが可能なPC及びモバイル端末等をご用意をお願い致します。ご勤務先のセキュリティーポリシーによってはアクセスが許可されていない場合もございます。事前にIT部門の方へご確認願います。ご登録後にウェビナー参加詳細が書かれたメールが届きます。当日は開始10分前までに、メールに記載されたリンクをクリックし、参加します。（当日は30分前よりログイン頂けます。）
　GoToWebinar システム要件はこちら▶　https://bit.ly/3sne6xl

＜参加費＞
無料

下記登録フォームより録画をご視聴頂けます
所要時間：約100分

13:30～13:35　Opening

13:35～14:00　『ナノスケール力学評価の最新動向』　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ブルカージャパン株式会社　営業部　長谷川　勇人

　各種材料の小型化、薄膜化、複合化が進むにつれ、微小なスケールでの機械的特性評価は、材料特性の発現やメカニズム解明において重要になってきている。ナノインデンテーション技術は、微小なスケールでの定量的な機械的特性ができる技術として、近年注目を浴びている。本発表では、ナノインデンテーション技術の基礎的な概要説明と、最先端でのナノスケールの機械的特性評価事例を紹介する。


14:00～14:25　  『In-SituのためのZEISS Gemini SEM 先端技術紹介』

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　カールツァイス株式会社 　風間大和

　世界のFE-SEMイメージングテクノロジーをリードするZEISSは2020年、待望のNew GeminiSEM Familyをリリース。近年、電子顕微鏡やX線顕微鏡などの観察ツールが、各種材料試験のプラットフォームとしての役割を期待されている。そこで本講演ではNew GeminiSEM Familyの最新機能の中でもIn-Situイメージングへ有効なGeminiカラムによる高効率な発生電子の収集と理にかなった電子の選択検出により得られる高精細なコントラスト、非導電性試料の各種帯電抑制、試料室内の雰囲気可変によるユニークで独自の基幹技術を最新のApplication事例と共に紹介する

14:25～14:30　 休憩

14:25～14:50　 『In-situ SEM nanomechanical instrument　SEM PicoIndenterのご紹介』

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　二軒谷亮

　近年、微小材料の材料特性発現メカニズム解明のため、試料の変形・破壊過程などを直接観察するin-situナノメカニクス評価システムのニーズが高まっている。SEM PicoIndenterはSEM中で様々なナノメカニクス試験を行いながら、ナノ～マイクロスケールの構造がどのように変化するかをin-situで観察することができるシステムである。本講演ではSEM Piconindeterについて製品紹介および本システムを用いた評価事例紹介を行う。

14:30~14:50　『Microscopy as a Service をめざしたZEISS の顕微鏡制御API と画像処理プラットフォーム』

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　カールツァイス株式会社　博士(工学)  前田　悦男

14:50~15:00　クロージング Q&A