【製品紹介】3次元白色干渉型顕微鏡 最新システム ContourX-1000, NPFLEX-1000の全貌
ブルカーContourシリーズ第4世代『ContourX-1000, NPFLEX-1000』の新製品紹介。新機能の紹介、統合されたソフトウェアの新解析機能の紹介を行います。
- 最新測定モード“Universal Scan Interferometry Mode”
- 広範囲と空間高分解能測定を実現する2x2 Bining法
- 多様性を追求したユニークな仕様構成（NPFLEX-1000）（45分）
ウェビナー要約
ブルカーのContourシリーズ第4世代である、『ContourX-1000, NPFLEX-1000』の新製品紹介ウェビナーを行います。
本ウェビナーではContourシリーズの12年目の進化、新機能の紹介、統合されたソフトウェアの新解析機能の紹介を行います。
- 測定正確性を追求した最新測定モード“Universal Scan Interferometry Mode”
- さらなる広範囲と空間高分解能測定を実現する2x2 Bining法の実力
- 多様性を追求したユニークな仕様構成（NPFLEX-1000）
このウェビナーで紹介された技術、または当社の光学式プロファイル測定ソリューションの詳細については、こちらをご覧ください：
