PL
My Bruker
Skontaktuj się z ekspertem
Produkty i rozwiązania
Aplikacje
Serwis
Wiadomości i wydarzenia
O nas
Kariera
Użyj co najmniej 2 znaków (obecnie używasz 1 znaku).
Languages
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
中文
日本語
한국어
▶ オンデマンドで視聴 | 35分
オンデマンド セッション: 非接触光学式粗さ測定器の選び方ウェビナー
共焦点法、焦点移動法、干渉法の能力比較や干渉法(CSI法/Coherence Scanning Interferometry)の位置づけ、ブルカーによる干渉法の課題解決策など実測例を交えて解説します。(約35 分)
Aby odtworzyć ten film, musisz zaakceptować pliki cookies.
Ustawienia plików cookie
特集商品と技術
ContourX500
自動化機能対応 ハイエンドベンチトップモデル3次元白色光干渉型顕微鏡
Czytaj więcej
3D光学式プロファイラー
非破壊・非接触 3次元表面形状粗さの測定、検査、解析
Czytaj więcej
セッション概要に戻る