光学プロファイラー ウェビナー

【応用編】非接触3D光干渉計を用いた様々な電子材料の表面形状測定の必要性

今回のウェビナーでは非接触3D干渉技術を用いた各種電子材料における表面形状計測の必要性とその効果についてをテーマに、干渉計の簡単な原理からレーザー顕微鏡との比較、干渉計が提供する測定値の再現性・ゲージ値の実力に関してなどを30分にまとめてお話します。
キートピックス:後工程プロセス(パンプ評価/ビア評価/ワイヤーボンディング/ダイシング/ラフネス・うねり・欠陥/リードフレーム(30分)         

ウェビナー要約

今回のウェビナーでは非接触3D干渉技術を用いた各種電子材料における表面形状計測の必要性とその効果についてをテーマに、

干渉計の簡単な原理からレーザー顕微鏡との比較、干渉計が提供する測定値の再現性・ゲージ値の実力に関してなどを30分にまとめてお話します。

<キートピックス>
後工程プロセス
・ バンプ評価・ ビア評価・ ワイヤーボンディング・ ダイシング・ ラフネス・うねり・欠陥・ リードフレーム

<こんな方におすすめ>
電子材料全般
・ レーザー顕微鏡との違いを知りたい方。
・ 白色干渉法の最新情報を知りたい方。
・ 表面形状の定量化にご興味のある方。
・ スループット向上を求められる方。

このウェビナーで紹介された技術、または当社の光学式プロファイル測定ソリューションの詳細については、こちらをご覧ください:

Input value is invalid.

The full-length recording of this presentation is available for on-demand viewing.

 

Please enter your first name
Please enter your last name
Please enter your e-mail address
Please enter a valid phone number
Please enter your Company/Institution
What best describes your current interest?
Please add me to your email list for webinar invitations, product announcements, and local event updates.
Please accept the Terms and Conditions

             Privacy Notice   Terms of Use


Note: Page will refresh upon submission; afterward, you may need to scroll down to see the video access link.

* Please fill out the mandatory fields.

ウェブセミナーの録画が現在利用可能です。

 

注意:このページを閉じたり、退出したりすると、フォームを再送信せずにこの確認ウィンドウを再表示できなくなる可能性があります。今後の訪問時にフォームを省略するため、このアクセスリンクを保存してください。