VERTEX 70v
Espectrómetro FT-IR VERTEX 70v
O VERTEX 70v oferece desempenho e versatilidade incomparáveis para aplicações analíticas e de investigação exigentes. O seu design inovador resulta na maior flexibilidade e maior desempenho. A aquisição de dados é baseada em dois ADCs deltasigma de dois canais com gama dinâmica de 24 bits, que estão em execução paralela e integrados na electrónica do pré-amplificador do detector. Esta tecnologia avançada digiTectTM evita perturbaões externas do sinal e garante a maior razão sinal-ruído.
Óptica de vácuo
Com o banco óptico evacuável do espectrómetro FT-IR de vácuo VERTEX 70v, a sensibilidade de PICO nas regiões IV -médio, -próximo e -longíquo/THz são obtidas sem o medo de mascarar características espectrais muito fracas devido a absorções de vapor de água ou CO2. Resultados notáveis, por exemplo, na área de investigação da nano-ciência até sub-monocamadas, podem ser obtidos.
Espectroscopia Bruker FM FIR-MIR
A tecnologia FM exclusiva da Bruker oferece a possibilidade de adquirir um espectro IV completo de 6000 cm-1 a 50 cm-1 numa medição de uma única etapa sem necessidade de alterar qualquer componente óptico.
Ampla gama espectral
O VERTEX 70v pode ser opcionalmente equipado com componentes ópticos para cobrir a gama espectral de 10 cm-1 no IV longínquo/THz, passando pelo IV-médio e próximo até à gama espectral VIS/UV a 28.000 cm-1. Com seus componentes ópticos pré-alinhados e interferómetro RockSolidTM permanentemente alinhado, a mudança de gama é fácil e livre de manutenção.
Rede de Inteligência Artificial
Um conjunto de excelentes funções, tais como o reconhecimento de acessórios de amostragem e de componentes ópticos, configuração automática e verificação dos parâmetros de medição tornam a espectroscopia FT-IR fácil, rápida e fiável. Além disso, a verificação on-line permanente dos componentes do espectrómetro mantém os diagnósticos de falhas e a manutenção simples. Um conjunto completo de ferramentas de software garante essa funcionalidade.
Plug & Play: Fácil configuração
Em todo o mundo, não importa onde esteja, conecte o cabo de alimentação e a ligação Ethernet, e o VERTEX 70v está pronto para operação. A ligação Ethernet com o VERTEX 70v também oferece a possibilidade de controlar o espectrómetro através de sua rede ou da World Wide Web.
O VERTEX 70v é o instrumento ideal para exigentes aplicações de investigação e desenvolvimento.
As tecnologias utilizadas são protegidas por uma ou mais das seguintes patentes: US 7034944
O espectrómetro de vácuo VERTEX 70v encaixa-se perfeitamente nas necessidades de aplicações de investigação onde alta sensibilidade, estabilidade e resolução temporal são necessárias. A gama espectral disponível até a região FIR/THz permite aplicações adicionais específicas para investigação industrial. O versátil sistema VERTEX 70v, combinado com acessórios adequados e o uso da técnica de medição adequada, oferece uma solução para quase todas as necessidades no campo da espectroscopia FT-IR.
Investigação e Desenvolvimento
- Tecnologia de varrimento contínuo e passo-a-passo, assim como espectroscopia de modulação amplitude (AM) e de fase (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
- Espectroscopia FT-IR sob ultra-alto vácuo
- Espectroelectroquímica FT-IR para a investigação in situ de superfícies de eléctrodos e electrólitos
- Investigação de proteínas em água (CONFOCHECK)
- Determinação da configuração absoluta de moléculas (VCD)
Farmacêutica
- Caracterização da estabilidade e conteúdo volátil de medicamentos por análise térmica (TGA-FT-IR)
- Diferenciação de polimorfos de ingredientes farmacêuticos ativos na região do infravermelho longínquo (Bruker FM)
Polímeros e Química
- Identificação de cargas inorgânicas em compósitos de polímeros na região do infravermelho longínquo (Bruker FM)
- Estudos dinâmicos e reo-ópticos de polímeros
- Determinação de compostos voláteis e caracterização de processos de decomposição por análise térmica (TGA-FTIR)
- Monitorização e controlo de reacções (sonda de fibra MIR)
- Identificação de minerais e pigmentos inorgânicos
Análise de superfícies
- Detecção e caracterização de camadas finas e monocamadas
- Análise de superfície combinada com modulação de polarização (PM-IRRAS)
Ciência de materiais
- Caracterização de materiais ópticos e altamente reflectores (janelas, espelhos)
- Investigação de materiais escuros e perfil de profundidade por Espectroscopia Foto-Acústica (PAS)
- Caracterização do comportamento de emissão de materiais
Semicondutores
- Determinação de teôr de oxigénio e de carbono em wafers de silício para controlo de qualidade
Acessórios externos, fontes e detectores
O espectrómetro de vácuo VERTEX 70v está equipado com cinco portas de saída de feixe e duas portas de entrada de feixe e oferece a possibilidade de ser prontamente actualizado com acessórios de medição, fontes e detectores externos. Incluindo os seguintes:
- Acessório de Modulação de Polarização PMA 50 para VCD e PM-IRRAS
- Módulo de Fotoluminescência PL II
- Módulo FT-Raman RAM II e o microscópio FT-Raman RamanScope III
- Acoplamento TGA-FT-IR
- Microscópio FT-IR da série HYPERION
- Sistema de imagem FT-IR HYPERION 3000
- HTS-XT High Throughput Screening eXTension
- Acessório de imagem macro Focal Plane Array IMAC
- Compartimento de amostra externo XSA, evacuável ou purgável
- Adaptação estanque ao vácuo de câmara UHV externa
- Unidade de medição PL/PT/PR de vácuo
- Unidade de acoplamento de fibra óptica com sondas de fibra MIR ou NIR para sólidos e líquidos
- Esferas de integração de grandes dimensões
- Dispositivos de amostragem automática
- Fonte FIR de Hg externa
- Feixe e detector MIR-FIR exclusivo (Bruker FM) de gama larga
- Adaptador de emissão externo
- Fonte MIR externa de alto desempenho
- Câmara detectores externa de vácuo com 4 posições
- Adaptação de bolómetro para detecção na gama FIR
Sala de Literatura
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