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Software LEPTOS

O LEPTOS é um abrangente conjunto de software para a avaliação de dados de reflectometria de raios X (XRR), difração de raios X de alta resolução (HRXRD), espalhamento de raios X à baixos ângulos por Incidência Rasante (GISAXS) e tensão residual (RS).

A refletividade de raios X (XRR) fornece informações detalhadas sobre o perfil vertical de densidade da amostra, sobre as espessuras das camadas e sobre a rugosidade da interface. A difração de raios X de alta resolução (HRXRD) mede a estrutura cristalográfica da amostra. O espalhamento à baixos ângulos por Incidência Rasante (GISAXS) é usado para a avaliação de nanopartículas e de porosidade. A análise de tensão residual verifica o nível de deformação de amostras volumosas e de revestimentos policristalinos.

Além das varreduras convencionais de curva simples, o LEPTOS possibilita a análise de HRXRD de alta resolução e mapas de espaço recíproco de XRR, sequências de tensão de GISAXS e XRD², mapeamento de área para HRXRD, XRR e aplicações de Estresse Residual. Não importa se os dados foram coletados com detectores.

 

É possível personalizar a Interface Gráfica do Usuário para preencher os requisitos de pesquisadores científicos e operadores industriais.

 

 

  • Avaliação conjunta de várias medidas de XRR, HRXRD, GISAXS e RS
  • Teorias avançadas de espalhamento de raios X e métodos numéricos de estimativa, simulação e ajuste de dados no espaço direto e recíproco
  • Processamento naturalmente integrado dos conjuntos de dados unidimensionais e bidimensionais medidos por detectores pontuais, lineares e bidimensionais
  • Editor universal de modelos de amostras para parametrizar qualquer tipo de amostra volumosa e de filmes finos
  • Abrangente e extensível banco de dados de materiais que engloba todos os 230 grupos espaciais cristalográficos
  • Ferramenta de mapeamento de área para exibição e avaliação das medidas realizadas em áreas grandes da amostra
  • Método sin²ψ avançado para a análise de tensão residual de dados em 1D e 2D, assim como o método de múltiplos (hkl) de avaliação do gradiente de tensão em revestimentos policristalinos