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LEPTOS G

O LEPTOS G faz uma avaliação dos dados de espalhamento por incidência rasante à baixos ângulos, medidos a partir das amostras contendo partículas em nanoescala incorporadas na região da subsuperfície ou localizadas na superfície da amostra. Podem ser, por exemplo, ilhas e pontos quânticos enterrados ou na superfície, materiais porosos, pós condensados, impregnados em polímeros, nanopartículas, etc. O LEPTOS G é capaz de:

  • Fornecer as seguintes informações sobre nanopartículas: formato, dimensão, densidade superficial/aparente, período de correlação e comprimento
  • Ajustar automaticamente as simulações do modelo da amostra aos dados integrados em 2D ou 1D medidos, usando um robusto algoritmo de otimização
  • Possuir várias funções de cálculo para o ajuste de dados
  • Incluir vários modelos físicos para o tipo de correlação entre as partículas (Zhu, esfera dura) e distribuição de parâmetros (uniforme, Lorentz, Gauss)
  • Acessar — compartilhado com outros módulos do LEPTOS — um banco de dados de materiais abrangente e extensível, contendo materiais amorfos e cristalinos
  • Considerar e ajustar o ruído de fundo e o fator de escala entre os dados simulados e os dados experimentais