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LEPTOS H

LEPTOS H significa análise de dados de difração de raios X de alta resolução e por incidência rasante.

O módulo é totalmente integrado ao conjunto LEPTOS, que incorpora a análise simultânea dos dados de HRXRD, GISAXS e XRR. Como parte do conjunto LEPTOS, o módulo H herda toda a funcionalidade comum para todo o pacote.

LEPTOS H Software, XRD
O LEPTOS H contém um módulo de mapeamento de área que possibilita o tratamento dos dados de HR-XRD tomados ponto a ponto em uma grande área da amostra, exibindo o mapeamentos dos parâmetros da amostra.

Teoria

  • Rápido e preciso Formalismo da Matriz Recursiva 2x2 e 4x4 para superar as limitações da abordagem de Takagi-Taupin
  • Método operador para o cálculo universal de parâmetros de espalhamento de raios X a partir de materiais cristalinos, como por exemplo, fatores de espalhamento atômico, polarizabilidades de raios X, etc.
  • Método patenteado de EigenWaves (MEW) para a aceleração essencial dos ajustes para os super-retículos e repetições de multicamadas

Editor de amostras

  • Editor de modelos de amostra potente e flexível, que inclui as ferramentas para os super-retículos, vinculação de parâmetros físicos das camadas e perfis de camada definidos pelo usuário
  • Banco de Dados de Materiais abrangente e extensivo ao usuário
  • Mecanismo construtor de células para o ajuste automático das propriedades cristalográficas da amostra: deformação da rede e discrepâncias, grau de relaxamento, concentrações elementares e densidade de massa
  • Ferramenta de Difratômetro Virtual para considerar a função da resolução instrumental e os efeitos de impressão digital

Avaliação de dados

  • Simulação, estimativa e ajuste de dados nos espaços direto e recíproco
  • Avaliação simultânea de várias reflexões de Bragg medidas a partir de uma amostra
  • Transformada Rápida de Fourier para uma estimativa rápida da espessura das camadas, além da ferramenta Estimate para a avaliação rápida dos parâmetros da avaliação amostra, a partir das posições de pico, diretamente a partir dos dados medidos
  • Ajuste preciso de vários parâmetros da amostra usando a teoria dinâmica avançada. Rotinas de ajuste disponíveis: Algoritmo Genético, Simulated Annealing, Simplex ou Levenberg-Marquardt
  • Consideração das orientações apolares da célula unitária cristalográfica e das várias reflexões {hkl} em uma única amostra
  • Mapeamento de área; avaliação automatizada de dados por meio da interface do script

Saída

  • Os resultados são salvos em arquivos de projeto baseados em XML
  • Várias opções de relatórios e exportação personalizáveis