与众“布”同的元素解码器：QUANTAX FlatQUAD平插式能谱仪
会议介绍
配备XFlash® FlatQUAD探测器的新型Bruker QUANTAX FlatQUAD系统，彻底改变了扫描电子显微镜（SEM）能谱（EDS）元素分析，使其变得更加简单高效。探测器采用创新的四通道环型设计，放置在SEM极靴和样品之间得到更大的立体角，实现更高的采集效率。这种设计非常适合对具有挑战性的样品进行定性和定量表征分析，例如：
· 对电子束敏感的材料，如生命科学和生物薄切片样品
· 半导体元器件
· 电池材料（如阳极、阴极颗粒、黑物质等）
· 纳米颗粒和FIB/TEM制备的薄片样品
· 形貌不平整起伏大的样品
· 荷电反映严重的样品（如玻璃和陶瓷等）
分析这些样品通常需要样品制备或设置极具挑战性的参数，如非常低的加速电压和束流。传统的EDS探测器，无论是单个还是多个大面积的斜插探头，都无法在这些条件下收集到所需的信号质量，以进行准确和定量分析。
使用QUANTAX FlatQUAD系统，实验人员可以轻松处理这些样品，速度无与伦比（比传统方法快10倍至50倍），通常情况下甚至不需任何特殊制备。
现诚邀您加入我们30分钟时长且超有价值的会议，我们的专家将为您介绍全新的高端QUANTAX FlatQUAD平插式能谱系统，真正探索它为什么会成为全球众多扫描能谱分析研究人员的首选！
在研讨会里我们讲以锂离子电池为例，实际上机演示来展示这款探测器能够为大家带来什么， 展示QUANTAX FlatQUAD系统在保持最高的空间分辨率的同时如何实现检测及mapping的高效率。
会议日期：
2024年11月13日，14:00-15:00
参会方式：
现场线上直播
主讲人
陈剑峰 博士
布鲁克纳米分析部应用科学家