NANOSTAR

NANOSTAR具有无与伦比的模块化特性，它是通过小角X射线散射（SAXS）、掠入小角X射线散射（GI-SAXS）、广角X射线散射（WAXS）以及Nanography，对纳米结构以及纳米结构表面进行表征的理想工具。支持镜面调节的针孔准直系统提供了一种高强度和具有低寄生散射的平行线束，且保持了理想的圆形光束形状。超大（XL）样品室可容纳各种专用样品台和第三方样品台，以便您在任何条件下对多种类型的样品进行测量。最后，您将能通过大型、低背景、高度灵敏的2D探测器，收集各向同性和各向异性样品的散射信号。

这款独一无二的X射线源无需水冷，即可提供非常稳定的高强度点聚焦X射线束。得益于其坚固的设计，其射线源带有3年保修。IµS包含了集成的MONTEL、先进的2D光束整形光学器件，可在样品上实现最高强度。这种并排的多层反射镜设计可捕获来射线源发出的大x射线立体角，并在高度平行的单色光束中有效地重新定向。

采用Mikrogap^TM 技术的VANTEC-500 2-D探测器可理想地满足专用SAXS系统的所有要求。首先，无需气体、水或例行维护，您亦无需担心强辐射或运动损坏，因此，该探测器十分坚固易用。较大的有效区域（直径14厘米）可实现大角度覆盖，同时带来完整的视野。极低的背景和较高的最大计数率，可实现出色的动态范围，并且对于对弱散射样品十分灵敏。出色的空间分辨率，可解决小间距散射问题。目前，尚无其他探测器可为这些应用提供这类理想的功能组合。

小角X射线散射（SAXS）是嵌入不同电子密度的基质中的颗粒引起的现象。如果粒度在1 nm-200 nm之间，则散射角在0°至5°的范围内，具体取决于使用的X射线的波长。粒子越小，散射角越大。

在任何介质中，任何粒子排列都显示出电子密度的差异，在SAXS实验中，这会产生特定的图形。除了粒度，SAXS还可以识别其形状、距离以及2D图形粒度分布。颗粒可以是溶解的大分子、金属沉淀、生物组织中的矿物颗粒和表面活性剂胶束。

与SAXS相比，广角X射线散射（WAXS）识别的是Angstrom级别的结构，通常是晶体结构的平面间距。WAXS通常用于分析布拉格X射线衍射（XRD）图，这有助于确认晶体结构、结晶度、微晶尺寸和相组成（相ID）。只需将第二台探测器放在更加靠近样品的位置，就可在收集WAXS数据的同时，获取SAXS数据。

在Nanography研究中，使用的是集成在NANOSTAR样品室中的电动X-Y样品台。因此，可以通过X射线束对样品的选定区域进行自动扫描。然后，便可通过颜色代码轮廓图，来显示强度分布（或其他散射参数）信息。

Nanography可快速且有选择性地检测不均匀样品的相关测量点，甚至可以精确定位较小的样品。完整的Nanography图像的各个测量点都表示2D收集到的SAXS / WAXS积分强度。