X射线衍射(XRD)

DIFFRAC.TEXTURE

对利用零维、一维或二维探测器收集的织构数据集进行数据整理和分析的强大软件。

亮点

全面的织构分析功能,简单易用

内在的或人为的择优取向或织构,对材料和组件性能的影响很大,而X射线衍射方法可以无损地研究这些织构。

DIFFRAC.TEXTURE是一个功能强大且简单易用的软件包,适用于分析织构测量数据。通过利用系统的方法按照流程图进行分析,只需点几下鼠标DIFFRAC.TEXTURE就能获得综合的织构信息。

DIFFRAC.TEXTURE采用两种完善且互补的技术,能提供最准确、最可靠的结果:独立于模型的球谐函数法和依赖于模型的组份法。

DIFFRAC.TEXTURE中的后一种方法能支持所有晶系,而广泛的样品对称性确保它能处理多种多样的织构。 

  • 匹配晶相后,零维、一维和二维测量数据可以直接绘制出极图。
  • 组份法适用于基于完整详细模型的织构分析。
  • 球谐函数法适用于直接计算取向分布函数。
  • 强大的织构表征功能和广泛的报告生成程序。

特点

织构分析流程

1. 数据导入和样品定义

数据导入和极图生成

利用测量数据生成极图从来没有这么容易过。DIFFRAC.TEXTURE可以导入利用零维、一维或二维探测器测得的数据,根据对一维或二维数据选定的角度区域,单击鼠标即可快速生成极图。

DIFFRAC.TEXTURE提供有一个全面的晶体结构数据库,可毫不费力地将极图与相应的hkl反射对应起来。可以很容易地分配来自不同物相的重叠信号,以方便数据分析。

2. 极图分析

极图的织构分析

DIFFRAC.TEXTURE采用两种完善且互补的技术,能提供最准确、最可靠的结果:

只需单击鼠标,独立于模型的球谐函数法即可从极图直接计算出取向分布函数(ODF)。

组份法是一种基于模型的方法,可以基于快速而稳健的最小二乘法将一组织构与极图相对应。

3. 织构表征

通过ODF进行织构表征

DIFFRAC.TEXTURE包含强大的工具和对获得的织构进行详细分析的可选项:

  • 可以计算ODF,并以三维形式或一组二维切片来表示。
  • 沿表面法向方向、平面内轧向方向和横向方向的反极图。
  • 对单个织构进行三维可视化,以方便更好地理解它们的取向。
  • 用饼图显示组成成分的体积分数,包括各向同性组份。

两种织构分析方法

球谐函数法

以二维的形式显示利用球谐函数法获得的取向分布函数。

球谐函数法是一种无需模型的方法,最适合主要研究对象是取向分布函数时使用。

ODF是利用一组在球面上定义的特殊函数,通过测量极图的级数展开直接计算出的——广义球谐函数。

该方法的优势在于,它能以ODF的形式简单快速地提供织构结果,而无需对样品有很多了解。

组份法

DIFFRAC.TEXTURE - 利用组份法进行织构分析

组份法是一种基于模型的方法:通过一组描述部分样品的取向、晶体和工艺对称性的组份,对织构进行建模[1]。再通过这些织构组份计算出相应的极图。

然后,利用完善的最小二乘优化将仿真极图与测量极图进行拟合,以完善组份的参数。

组份法可用于深入地了解织构:织构组份的工艺对称性可将样品的生产和加工与测量极图联系起来。

规格

DIFFRAC.TEXTURE Specifications

版本

最新软件版本为V4.1

分析方法

零维、一维和二维数据整理

极图自动索引

球谐函数法

组份拟合

操作系统

Windows 8、8.1和10(32位或64位)