X射线衍射(XRD)

DIFFRAC.XRR

DIFFRAC.XRR是一个强大和简单易用的软件包,用于分析X射线反射法的测量数据。

亮点

全面的X射线反射分析

DIFFRAC.XRR拥有两种不同的分析方法,可以最好地满足用户需求:

  • 快速傅里叶变换(FFT)法,只需单击鼠标,即可通过X射线反射(XRR)曲线快速估算出膜厚。
  • 通过基于动态散射理论的样品模型拟合,详细分析X射线反射(XRR)的测量数据。

DIFFRAC.XRR旨在最大限度提高用户在整个分析过程中的效率:从创建样品模型到生成报告结果:

  • 全面、可扩展的材料和样品数据库。
  • 高级自动化和工作流程功能,包括宏记录和分步执行。
  • 高效全面的、能提供模板的报告生成程序。

特点

通过FFT估算快速分析XXR的测量数据

你只对膜厚感兴趣?

DIFFRAC.XRR可树立标杆:只需单击鼠标,该估算工具即可通过快速傅里叶变换(FFT)估算出膜厚,并将结果直接添加到XXR测量数据的相应图表中。

该方法的优势在于,它无需预先对所研究的样品有任何了解。

通过全谱拟合详细分析XXR的测量数据

对全貌感兴趣?

为进行详细的分析,DIFFRAC.XRR可利用动态散射理论进行准确的模拟,以通过最小二乘法拟合优化样品模型的参数(譬如厚度、粗糙度和密度等)。为了准确描述测量结果,必须考虑到仪器分辨率、背景和样品尺寸的影响等实验效应。快速可靠的拟合算法可确保快速收敛和提供可靠的结果。

以无与伦比的灵活性进行样品模型定义

无论是简单的单层膜样品,还是包含超晶格和梯度的高度复杂样品,DIFFRAC.XRR都能应付自如。界面粗糙度不同的模型使得能够更准确地描述不同的生长形态。通过关联膜的参数,可对样品模型施加限制。因为拥有额外的自由变量,样品建模的灵活性便能达到新的水平。

全面的材料数据库

DIFFRAC.XRR拥有全面的、允许用户扩展的材料数据库,其中包含非晶体和晶体材料,以及混合晶体甚至四元化合物。数据库包括结构因子或晶面指数(hkl)以及X射线特性的计算,包括X射线的吸收、穿透深度、折射率、极化率等。

DIFFRAC.XRR树立起新的标杆:在定义样品模型时使用额外的、由用户定义的变量,可大幅地扩展其灵活性和应用范围。

广泛的报告功能

DIFFRAC.XRR拥有专业的报告系统,可以生成可供发表的图形和完整分析报告。您还可以设计自己专有的报告格式,并将其保存为模板。 报告既能直接打印出来,也能以pfd文件的形式进行分享,或者通过.docx文档作进一步编辑。

规格

DIFFRAC.XRR的技术指标

版本

最新软件版本为 DIFFRAC.XRR V1.0。  

分析方法

用于快速估算厚度的FFT法。

通过循环矩阵形式建立的动力学衍射理论。

用于超薄膜层模拟的有效密度模型(EDM)。

用于最快速模拟超晶格的特征波法(MEV)。

 

操作系统

Windows 8和10

32位和64位

 

支持

让您的DIFFRAC.XRR保持最新版本

免费维护更新

通过免费的DIFFRAC.XRR维护更新,您的EVA版本可被更新到最新版。无论您的XRR许可级别是什么,您都能通过www.brukersupport.com免费下载最新的维护更新。

下载步骤

  • 在“布鲁克客户支持中心(Bruker Customer Support)”上注册
  • 点击“软件”按钮
  • 搜索“DIFFRAC.XRR维护更新”
  • 下载更新

漏洞修复

通过让您的DIFFRAC.XRR保持最新版本,无论许可级别是什么,您都有权使用所有补丁对当前的版本及所有以前发布的版本进行修复。DIFFRAC.XRR维护更新是累积性的,因而可以用于任何以前的版本。

何为升级?

DIFFRAC.XRR维护更新没有附带新功能。如果您想使用在新版本中引入的功能,则需要购买最新的DIFFRAC.XRR升级服务。