eFlash XS

为了显著增加能够获得 EDS和EBSD集成系统的实验室数量，布鲁克纳米分析公司开发了eFlash XS，这是一种独特的EBSD探测器，专注于提供市场上最经济实惠的EBSD解决方案。eFlash XS EBSD 探测器专为安装在台式电镜而设计，或者具有小仓室的标准 SEM。

我们的 EBSD 专业人员利用已有系统，专业知识开发出有史以来最可靠、最经济实惠的 EBSD 探测器，同时它提供卓越的性能。eFlash XS 专为实现最大可靠性、易用性和花样质量而设计，由支持像素并和的 CMOS 摄像机、用于最大透光的创新型光学系统和高性能荧光屏提供动力。它依靠 USB 3.0 与计算机连接（电源和数据同步连接）使 eFlash XS 成为真正的即插即用的仪器。在不使用时，EBSD 探测器在 SEM 中的部分可以滑出，进行外部存储，以消除 SEM 样品台与探测器碰撞的任何风险。

新的eFlash XS EBSD探测器与ESPRIT 2软件下的第六代XFlash^® EDS探测器高度集成，我们称之为 QUANDAX ED-XS，这是入门级SEM市场分析技术的强大组合。

主要优势（硬件和软件）

易用性

• 无需校准 – 自动纠正 WD 变化对花样中心的影响
• 不需要进行像素并和/花样分辨率的更改;如果需要，所有像素并和模式都可用
• 自动摄像机增益
• 自动晶体相位设置 - 无需用户干预
• EBSD 探测器插入阶段完全无风险
• 用户可更换的荧光屏
• 包括独立和同时获取 EDS HyperMap 和 EBSD 图
• 自动数据保存
• 用户可选的 EBSD 采集结束时的是否自动关闭 EHT

新用户可以接受培训，并练习 EDS 和 EBSD，同时减少时间限制

样品制备的质量可以在昂贵的 FE-SEM 上进行 EBSD 之前，在台式电镜上进行检查

在经济实惠的 SEM 进行常规 EBSD 分析，以减少 FE-SEM 任务积压

重要规格

• 原始图像分辨率：720 x 540 像素
  
• 支持的像素并和模式：2x2、3x3、4x4、5x5、6x6
• 速度：所有像素并和模式下的 525 帧/秒 （fps）
• 用户可移动探测器头 - 滑入和滑出机制
• 用户可更换的荧光屏
• EBSD 数据和电源通过 USB3.0 电缆进行传输（无需额外的电缆或电箱）
• 外径：长度 ~ 84 毫米，直径 ~ 48 毫米