电子显微镜分析仪

QUANTAX EBSD

同轴 TKD 具有无与伦比的性能

最佳空间分辨率

低探头电流要求

QUANTAX EBSD eFlashHD BRUKER

亮点

1.5
纳米
有效的空间分辨率
独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型,从而实现无与伦比的性能
2
nA
测试所需的最大电流
同轴 TKD 可实现低探头电流测试,且不影响测试速度和数据质量
125,000
Pps
超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像
无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像

具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的最佳解决方案。原因如下:

  • 提供 1.5 nm 的最佳空间分辨率
  • 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
  • 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯一 TKD 解决方案
  • 全自动内置 ARGUS 成像系统

优势

为什么我需要同轴 TKD?

Ge-Sb-Te (GST) 薄膜样品的暗场像图片,我们感谢斯坦福大学Aaron Lindenberg组提供的样品和图像结果
  • 实现最佳空间分辨率
  • SEM 中获取取向分布图和物相分布图
  • 用于快速测试,同时不影响数据质量/完整性
  • 以令人难以置信的速度,通过全自动信号优化,以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像
  • 可使用低电流分析束流敏感材料。

新闻和活动

更多信息

资源和出版物