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电子显微镜分析仪
QUANTAX EBSD
同轴 TKD 具有无与伦比的性能
最佳空间分辨率
低探头电流要求
1.5
纳米
有效的空间分辨率
独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型,从而实现无与伦比的性能
2
nA
测试所需的最大电流
同轴 TKD 可实现低探头电流测试,且不影响测试速度和数据质量
125,000
Pps
超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像
无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像
具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图
QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的最佳解决方案。原因如下:
提供 1.5 nm 的最佳空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯一 TKD 解决方案
全自动内置
ARGUS
成像系统
联系我们
OPTIMUS 2
为什么我需要同轴 TKD?
Ge-Sb-Te (GST) 薄膜样品的暗场像图片,我们感谢斯坦福大学Aaron Lindenberg组提供的样品和图像结果
实现最佳空间分辨率
SEM 中获取取向分布图和物相分布图
用于快速测试,同时不影响数据质量/完整性
以令人难以置信的速度,通过全自动信号优化,以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像
可使用低电流分析束流敏感材料。
阅读更多关于同轴 TKD 的内容
您的分析挑战是什么?
矿物学样品的高级物相识别
EBSD是地球科学研究中一项非常强大的技术,可用于分析微观结构和物相等。
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Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
Ball bonding is a type of wire bonding, commonly used for electrical interconnections in semiconductor devices.
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镍基超合金微观结构的 EBSD 表征
镍基超合金以其出色的机械强度、耐热蠕变变形、耐疲劳、耐腐蚀或氧化而广为人知。
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网络研讨会
ON-DEMAND SESSION - 55 MINUTES
Latest developments in advanced 3D EBSD/EDS data processing with ESPRIT QUBE
3D-EBSD/EDS is a destructive tomographic method consisting of repeated sectioning and subsequent EBSD and EDS analysis.
ON-DEMAND SESSION - 50 MINUTES
Advanced Sample Preparation by Broad Ion Beam Milling for EBSD Analyses
This webinar provides sample preparation solutions for challenging materials using Fischione Instruments’ Model 1061 SEM Mill, a broad ion beam (BIB) mill, and corresponding high quality EBSD measurements acquired using Bruker eFlash FS detector.
ON-DEMAND SESSION - 46 MINUTES
Nanostructural characterization of semiconductors with SEM
This webinar will discuss the quantitative characterization of nanostructured semiconducting materials using SEM with EDS and TKD techinques.
资源和出版物
认识EBSD
宣传册和传单
QUANTAX EBSD Fast Facts EN
QUANTAX EBSD Brochure EN
Rapid EBSD Flyer EN
OPTIMUS 2 Brochure EN
ARGUS FSE/BSE Flyer EN
ESPRIT QUBE EN
ESPRIT DynamicS EN
Electron Microscope Analyzers Brochure EN
应用说明
Application Note EBSD 05 - Enhanced nanoindentation of duplex stainless steel
Application Note EBSD 04 - Identification of complex phases in Sr-modified silicon alloys
Application Note EBSD 03 - Phase identification and distribution on a mineralogical sample
Application Note EBSD 01 - Fast simultaneous EBSD and EDS analysis of multiphase materials
Application Note EBSD 02 - Orientation contrast imaging and EBSD analysis on materials deformed by in-situ compression and tensile testing
规格表
e-Flash-HD-Spec-Sheet-EN-BRUKER.pdf
e-Flash-FS-Spec-Sheet-EN-BRUKER.pdf
出版物
2019 - Nature Materials: Metal–polymer hybrid nanomaterials for plasmonic ultrafast hydrogen detection
2019 - Acta Materialia: Mechanism of the α-Zr to hexagonal-ZrO transformation and its impact on the corrosion performance of nuclear Zr alloys
2019 - Materials Science: On the depth resolution of transmission Kikuchi diffraction (TKD) analysis
2019 - Materials Science: Forescattered electron imaging of nanoparticles in a scanning electron microscopy
2018 - Materials Characterization: Space rocks and optimising scanning electron channelling contrast
2018 - Materials Characterizations: Elevated temperature transmission Kikuchi diffraction in the SEM
2017 - Nature Communications (Open Access): Grain boundary mediated hydriding phase transformations in individual polycrystalline metal nanoparticles
2017 - Ultramicroscopy: A systematic comparison of on-axis and off-axis transmission Kikuchi diffraction
2016 - Journal of Microscopy: Evidence of multimicrometric coherent γ′ precipitates in a hot-forged γ-γ′ nickel-based superalloy
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