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電子顕微鏡用分析装置
QUANTAX EBSD
オンアクシスTKDの比類なきパフォーマンス
最高の空間分解能
低プローブ電流
1.5
nm
空間分解能
ブルカー独自のオンアクシスTKD。最適なサンプル・検出器ジオメトリで比類なきパフォーマンス。
2
nA
必要な最大プローブ電流
オンアクシスTKDにより、測定スピードとデータ品質を損なうことなく低プローブ電流測定が可能
125,000
pps
超高速FSE、BSE、STEMイメージング
ARGUSイメージングシステムにより、数秒でハイコントラスト&低ノイズイメージングが可能です
比類なき空間分解能で結晶方位マッピング
QUANTAX EBSDシステムと定評のあるOPTIMUS2 TKD検出器ヘッドは、SEMによるナノ材料分析に最適なソリューションです。
最高 1.5 nmに達する空間分解能
測定スピードとデータ品質を損なうことなく低プローブ電流測定
イマージョンレンズ技術を用いた超高分解能モードで動作する唯一のTKDソリューション
全自動・一体型の
ARGUS
イメージングシステム
お問い合わせ
OPTIMUS 2
オンアクシスTKDのメリット
最高の空間分解能を実現
SEM による結晶方位・結晶相マッピング
データ品質・整合性を損なうことなく高速マッピング
自動シグナル最適化機能を備えた
優れたコントラストと分解能のSTEM像を高速取得、シグナルは全自動で最適化
電子線ダメージを受けやすい試料も低プローブ電流で分析
オンアクシスTKDの詳細情報はこちら
EBSD分析アプリケーション例
鉱物サンプルの相同定
微小構造の分析や相同定などの地球科学研究において、EBSDは非常に強力なツールです。
詳細はこちら
Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
Ball bonding is a type of wire bonding, commonly used for electrical interconnections in semiconductor devices.
詳細はこちら
ニッケル系超合金の微細構造評価
ニッケル系超合金は、優れた機械的強度、熱クリープ変形・疲労・腐食・酸化に対する耐性で知られています。
詳細はこちら
ウェビナー
ON-DEMAND SESSION - 55 MINUTES
Latest developments in advanced 3D EBSD/EDS data processing with ESPRIT QUBE
3D-EBSD/EDS is a destructive tomographic method consisting of repeated sectioning and subsequent EBSD and EDS analysis.
ON-DEMAND SESSION - 50 MINUTES
Advanced Sample Preparation by Broad Ion Beam Milling for EBSD Analyses
This webinar provides sample preparation solutions for challenging materials using Fischione Instruments’ Model 1061 SEM Mill, a broad ion beam (BIB) mill, and corresponding high quality EBSD measurements acquired using Bruker eFlash FS detector.
ON-DEMAND SESSION - 46 MINUTES
Nanostructural characterization of semiconductors with SEM
This webinar will discuss the quantitative characterization of nanostructured semiconducting materials using SEM with EDS and TKD techinques.
関連資料と出版物
カタログ・フライヤー
QUANTAX EBSD 早わかり
Rapid EBSD カタログ
OPTIMUS 2 カタログ
ARGUS FSE/BSEイメージングシステム フライヤー
ESPRIT QUBE フライヤー
ESPRIT DynamicS カタログ
電子顕微鏡アナライザー 総合カタログ
アプリケーションノート
EBSD 05 - 二相ステンレス鋼のEBSDとナノインデンテーションの複合評価
EBSD 04 - ストロンチウムで改質されたAl-Si合金における複雑な相の同定
EBSD 03 - 鉱物学的サンプルの相同定と分布
EBSD 02 - in situの圧縮試験と引張試験によって変形した材料の結晶方位解析
EBSD 01 - 多相材料の高速同時 EBSD および EDS 分析
スペックシート
eFlash HD スペック シート
eFlash FS スペック シート
学術論文
Nature Materials : Metal–polymer hybrid nanomaterials for plasmonic ultrafast hydrogen detection (2019)
Acta Materialia : Mechanism of the α-Zr to hexagonal-ZrO transformation and its impact on the corrosion performance of nuclear Zr alloys (2019)
Materials Science : On the depth resolution of transmission Kikuchi diffraction (TKD) analysis (2019)
Materials Science : Forescattered electron imaging of nanoparticles in a scanning electron microscopy (2019)
Materials Characterization : Space rocks and optimising scanning electron channelling contrast (2018)
Materials Characterization : Elevated temperature transmission Kikuchi diffraction in the SEM (2018)
Nature Communications : Grain boundary mediated hydriding phase transformations in individual polycrystalline metal nanoparticles (2017)
Ultramicroscopy : A systematic comparison of on-axis and off-axis transmission Kikuchi diffraction (2017)
Journal of Microscopy : Evidence of multimicrometric coherent γ′ precipitates in a hot‐forged γ–γ′ nickel‐based superalloy (2016)
関連製品
eFlash HD
約2メガピクセル(1600 x 1200ピクセル)のネイティブCCD解像度と 歪みを最小限に抑えるための最先端のカメラ光学系を備えた 新しいeFlash HD検出器は、細部を表示する高精細な菊池パターンを提供します。
詳細はこちら
eFlash FS
eFlash FS は、データ品質を損なうことなく高速な EBSD 測定を可能にする最大感度を実現します。変形した素材や軽量な素材など測定が困難なアプリケーションでも測定が可能です。
詳細はこちら
OPTIMUS 2
Our new, augmented TKD solution builds on the unmatched performance of existing on-axis TKD through the addition of multiple new hardware options, accessories, and software features.
詳細はこちら
ESPRIT ファミリー
EDS・WDS・EBSD・顕微XRFの4つの分析手法を1つのユーザーインターフェースに統合
詳細はこちら
ESPRIT QUBE
EDS・EBSDデータの3D可視化と後処理を行う最新解析ソフトウェア
詳細はこちら
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