eWARP - 比以往更快的EBSD
直接电子探测 EBSD技术
eWARP是一款崭新的直接电子探测EBSD探头，通过把布鲁克独特的直接电子探测技术与CMOS技术相结合，使之具有更强的性能，把EBSD探测技术推到了一个新的层次。
eWARP可以在10kV 12nA的中等条件下实现每秒14,400帧EBSD花样的速度，具有很高的采集效率，在目前EBSD市场中独具一格并且处于领先地位。
eWARP的显著性能优势主要源于其特殊的设计，大面积采集单元，直接电子探测元件的高响应速度。
eWARP是我们QUANTAX EBSD系列的又一大创新！
新颖的EBSD探头——布鲁克大面积感光单元（WARP）传感器技术
eWARP的核心是布鲁克专利的芯片级像素合并技术在CMOS硬件上的使用，这使得该探测器可以在像素合并模式下每秒可采集多达350,000个花样，可同时采集五种不同的前散射电子（FSE）图像并进行组合来体现样品的取向信息和形貌信息。
此外，eWARP 独特的像素合并功能为未来开发新的成像功能带来了巨大的潜力。
eWARP所带来的效率和速度
eWARP的高效率和高速度给EBSD领域带来了全新的变化，比如以下应用：
3D EBSD – 结合PFIB-SEM技术，可实现更快的数据立自动采集，同时获得更高像素分辨率或更大检测体积。
实时的EBSD面分布 –每间隔数秒获取样品多衬度图像及EBSD map，记录材料原位加热和/或原位力学测试过程中的微观结构动态变化。
大面积EBSD面分布 – 大尺度样品区域及/或高像素分辨率分析。
对电子束敏感的材料 – EBSD面分布采集可以在更低的电子束辐照剂量下进行。
提高马氏体或大变形金属和合金样品的数据质量 – 可以在更低的加速电压下通过减小相互作用区体积而提高空间分辨率。
更好的空间分辨率 – 在更低的加速电压和更小的束流下以更高的速度进行EBSD检测，可以对超细晶粒的材料进行更精细的特征分析。
准确的数据 – 电子束的稳定性使绝缘材料的EBSD数据更为准确。
eWARP – 开启EBSD技术新篇章
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