eWARP - EBSD검출기 중 가장 빠른 제품
전자만 감지 - 직접 전자 감지 기술, EBSD를 위해 설계됨
eWARP는 전자만 감지하는 방식으로 작동하는 혁신적인 EBSD 검출기입니다. Bruker가 설계한 혁명적인 카메라를 기반으로 직접 전자 감지와 CMOS 기술을 결합한 eWARP는 무결점 성능을 제공하며 EBSD 기술을 새로운 차원으로 끌어올립니다.
eWARP는 현재 시장에서 가장 빠르고 신호 효율이 높은 EBSD 검출기입니다. 이 검출기는 저~중간 전자 빔 조건(예: 가속 전압 10 kV, 프로브 전류 12 nA)에서 초당 최대 14,400 패턴의 EBSD 맵을 획득할 수 있습니다.
eWARP의 전례 없는 신호 효율성은 넓은 영역 픽셀에서 제공되는 고수집률과 SEM 전자 에너지에 최적화된 실리콘 센서에서 생성되는 고변환률이라는 두 가지 독특한 특징에서 비롯됩니다.
eWARP는 우리 QUANTAX EBSD 시스템의 혁신적인 핵심입니다.
브루커의 Wide Area Pixelated (WARP) 센서 기술을 기반으로 한 새로운 EBSD 검출기
브루커의 특허받은 온칩 빈닝 기능을 갖춘 최초의 CMOS 장치가 eWARP의 핵심입니다. 이 센서는 비닝 모드에서 초당 최대 350,000개의 패턴을 획득할 수 있습니다. 이 초고속 작동 모드는 다양한 방향 혼합 수준과 지형 대비를 보여주는 5개의 ForeScatter Electron (FSE) 이미지를 동시에 획득하는 데 사용할 수 있습니다.
또한 eWARP의 독특한 비닝 기능은 새로운 이미징 기능 개발을 위한 엄청난 잠재력을 지니고 있습니다.
eWARP가 가져온 신호 효율성과 속도 향상
eWARP의 신호 효율성과 속도 향상은 EBSD 커뮤니티에 혁신을 가져왔습니다. 다음은 eWARP의 성능으로 큰 혜택을 볼 수 있는 몇 가지 응용 분야입니다:
- 3D EBSD – 플라즈마 FIB-SEM을 사용해 더 높은 픽셀 해상도나 더 큰 부피를 커버하며 데이터 큐브의 자동 획득 속도가 향상됩니다.
- 시간 분해 매핑 – 시료 내부의 미세 구조 변화를 기록하기 위해 현장 가열 및/또는 기계적 시험 실험 중 몇 초마다 반복적인 매핑 및 이미지 획득.
- 대면적 매핑 – 더 큰 시료 분석 또는 더 높은 픽셀 해상도.
- 전자선 민감 재료 – 매우 낮은 전자선 투과량에서도 EBSD 매핑이 가능합니다.
- 마르텐사이트 또는 심하게 변형된 금속 및 합금에서의 데이터 품질 향상 – 낮은 가속 전압(예: 10 kV)에서 작동 시 상호작용 부피 감소로 인해.
- 향상된 공간 해상도 – 초미세 결정 구조 재료의 가장 미세한 특징을 분해하기 위해 가속 전압 및 프로브 전류 감소로 인해, 고속 작동 시에도가능
- 우수한 데이터 무결성 – 빔 안정성 개선으로 인해 절연 재료에서도 가능
eWARP - EBSD 기술의 새로운 시대가 열립니다
이 웹세미나에서 eWARP를 만나보세요.
Bruker의 독특한 센서 기술이 eWARP를 가장 빠르고 신호 효율이 높은 EBSD 검출기로 만드는 방법을 알아보고, 다양한 응용 분야에서 이 기술이 실제로 어떻게 적용되는지 확인하세요.
