EBSD 背散射衍射探头
选择合适的探头让您的EBSD研究更进一步
Bruker 拥有从QUANTAX ED-XS 到QUANTAX EBSD的全系列产品，致力于为客户从高速、低电压高分辨EBSD分析到TKD以及FSE/BSE成像提供更合适的解决方案。
EBSD探头系列: eWARP, eFlash XS, eFlash FS, ARGUS.
如果您需要帮助来寻找更适合您使用的EBSD探头, 请联系我们。
eWARP - 用于低电压、超高速分析的直接电子探测
eWARP 是一款先进的 EBSD 探测器，使得超快速、低电压的 EBSD 检测成为常态化。
凭借其独特的直接电子探测器，eWARP 成为行业领先的高效率EBSD。并且将快速、高分辨率成像成为可能，为用户带来全新的体验。
了解 eWARP，开启 EBSD 的新时代。
eFlash XS - 用于台式SEM的常规EBSD探测器
eFlash XS 是专门为台式扫描电镜设计的一款集成式EBSD探测器。
它造型小巧，结构简单，主要适用于常规化的EBSD分析，用户可以更快捷地得到样品的晶体学信息，简单易用，适合于工业或研究中日常化，实用化，效率要求高的EBSD分析工作。
eFlash + OPTIMUS 2 - 同轴TKD，用于纳米材料分析
配备OPTIMUS 2的 eFLASH 探头是专门为纳米材料进行高分辨检测所设计的一款探测器。
这款探测器提高了花样质量和精度，可以对复杂材料进行纳米尺度上的精确分析，为研究或工业领域中研究微晶结构、薄膜以及其他一些挑战性样品工作者提供精确的分析结果。
配备 ARGUS™ 的 eFlash 探测器 - 用于先进材料显微分析的FSE/BSE成像功能
配备ARGUS™ 探测器使得eFlash 探头具有FSE和BSE成像功能。
ARGUS™ 主要设计用于前散射电子和背散射电子的探测，这种图像可以揭示样品的表面形貌与成分的信息。探头硬件以及配套的电路设计，使之可以快速进行图像采集和衬度增强处理。
QUANTAX EBSD - 全套EBSD分析系统
QUANTAX EBSD 是一整套的EBSD分析系统，提供用户在其电子显微镜上进行EBSD分析所必需的所有组件。
QUANTAX EBSD 包含：
- eWARP 探头或者 eFlash EBSD探头
- ESPRIT 软件
- 可选的OPTIMUS 2探头，用于同轴TKD分析
- 可选的ARGUS 探头，用于FSE/BSE 成像
联系我们
如果您需要帮助来寻找更适合您使用的EBSD探头, 请联系我们。