EBSD 검출기
연구에 맞는 EBSD 검출기로 한 차원 높은 분석을 경험해 보십시오.
브루커는 당사의 QUANTAX EBSD 와 QUANTAX ED-XS 시스템과 함께 사용할 수 있는 다양한 EBSD 검출기를 보유하고 있습니다. W초고속 및 낮은 가속전압 EBSD 분석, 일반적인 미세 분석에 적합한 솔루션 탐색, TKD 또는 FSE/BSE 이미징 수행 등 어떤 용도이든 브루커는 귀하에게 적합한 EBSD 검출기를 제공합니다.
당사의 모든 EBSD 검출기(eWARP, eWARP TKD 및 eFlash XS)에 대한 정보를 확인해 보십시오.
귀하의 응용 분야에 가장 적합한 EBSD 검출기를 선정하는 데 도움이 필요하시면 당사의 전문가에게 문의해 주십시오.
eWARP - 초고속, 낮은 가속전압 EBSD를 위한 직접 전자 검출
eWARP는 초고속, 낮은 가속전압 EBSD를 일반적인 기술로 사용할 수 있게 만드는 혁신적인 EBSD 검출기입니다.
독특한 센서를 통해 직접 전자 검출 방식으로 작동하는 eWARP는 업계 최고 수준의 신호 효율성을 달성합니다. 이는 이전에 볼 수 없었던 방식으로 빠른 고해상도 이미징을 가능하게 합니다.
eWARP를 발견하고 EBSD의 새로운 시대를 열어 보십시오.
eWARP TKD: 나노 결정립 특성 분석을 한 차원 더 높이다
eWARP TKD는 수상 경력에 빛나는 당사의 WARP 센서 기술의 장점을 투과 키쿠치 회절(TKD) 분야에 적용합니다.
초고속 데이터 수집과 2 nm 미만의 공간 분해능을 결합한 eWARP TKD는 나노 분석의 가능성을 재정의하며, 전례 없는 속도, 감도 및 해상도를 바탕으로 고품질의 방향성 및 상 매핑을 가능하게 합니다.
eWARP Lite: 모든 실험실을 위한 차세대 EBSD
eWARP Lite를 통해 누구나 브루커의 혁신적인 WARP 센서 기술을 활용할 수 있습니다. eWARP Lite를 사용하면 이제 모든 재료 과학 연구실에서 eWARP의 빠르고 민감한 EBSD 매핑의 이점을 경험할 수 있습니다.
탁월한 데이터 수집 속도와 뛰어난 데이터 품질을 제공하는 eWARP Lite는 성능, 다용도성, 가격 대비 가치의 매력적인 균형을 실현합니다.
eFlash XS - 데스크톱 SEM을 활용한 일반적인 EBSD 분석
eFlash XS 검출기는 데스크톱 주사형 전자 현미경(SEM)과 원활하게 통합되도록 설계된 소형 EBSD 검출기입니다.
작은 설치 공간과 효율적인 설계로 일반적인 전자 후방 산란 회절(EBSD) 분석에 적합하며, 최소한의 설정으로 신뢰할 수 있는 결정학 데이터를 제공합니다. 사용 편의성을 최적화한 eFlash XS는 접근성이 뛰어나고 효율적인 EBSD 측정을 가능하게 하여, 연구 및 산업 분야의 일반적인 재료 특성 분석에 실용적인 선택입니다.
QUANTAX EBSD - EBSD를 위한 완벽한 분석 시스템
QUANTAX EBSD는 사용자가 주사전자현미경(SEM)에서 EBSD를 수행하는 데 필요한 모든 것을 제공하는 완벽한 분석 시스템입니다.
QUANTAX EBSD 구성:
- 선택 가능한 EBSD 검출기: eWARP, eWARP TKD 또는 eWARP Lite.
- 하드웨어 및 전자 장치.
- 측정 및 분석을 위한 ESPRIT 소프트웨어(EDS 분석과의 상관관계 분석 포함). analysis.
